[發明專利]動化測量系統及方法

在審

• 申請號: 201310255886.X
• 申請日: 2013-06-25
• 公開（公告）號: CN104251966A
• 公開（公告）日: 2014-12-31
• 發明（設計）人: 歐陽銘修
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種電子測量技術領域，特別是關于一種電子電路的自動化測量系統及方法。

背景技術

電子電路的電氣特性，例如電壓、電流以及頻率等的各項參數的測量是生產流程中的重要環節。一般來說，在設計印刷電路板時，會在印刷電路板的線路上設計有一些測試點。傳統上，在進行測量時，需要依靠作業員的手工操作依次對各個測試點進行測量，從而判斷該電子電路是否符合工業技術指標。對于那些電路比較簡單、測試點比較少的電路板來說，手工操作尚能滿足要求。但隨著電子技術的進步，產品的定位及規格越來越繁復且功能日益增強，軟、硬件的設計及開發越來越復雜，需要測量的項目越來越多，且產品的生命周期越來越短，小批量、多品種的產品生產任務比較多，手工操作的電路板測量方法不僅效率低，而且容易出錯，已不能滿足快速高質量生產的競爭需求。

發明內容

有鑒于此，本發明提供一種自動化測量方法，用于對待測電子電路的測試點進行自動化測量。

一種自動化測量方法，該方法用于控制測量儀器及多個機械裝置對待測電子電路的測試點進行自動測量，該測量儀器包括多個分別安裝于機械裝置上的探針。該方法包括：

響應測試人員建立測量計劃文檔的操作而建立一測量計劃文檔；

響應測試人員的設置操作而在該測量計劃文檔中設置測量任務序列以及每一測量任務的參數的欄位，其中，每一測量任務的參數包括測試點的坐標值、測量項目序列及每一測量項目的標準值、測量值與分析結果；

在該測量計劃文檔中設定各個測試點的坐標值、測量項目序列、每一測量項目的標準值、測量儀器的多個探針的初始位置的坐標值、及多個探針與多個機械裝置的對應關系；

從該測量計劃文檔中的測量任務中選擇一組測量任務，并為該選擇的測量任務的測試點分別選擇用于測量的探針；

根據該測量計劃文檔中對該選擇的測量任務所設定的測試點的坐標值及為該測試點選擇的探針尖端的初始位置的坐標值，計算出各個探針尖端從初始位置到相應的測試點的偏移量，并分別發出包含該偏移量的探針定位指令，控制相應的機械裝置將探針尖端定位于電路板上的相應測試點；

根據該測量計劃文檔中對選擇的測量任務所設定的測量項目，控制測量儀器對測試點的信號進行測量；

獲取測量儀器對測試點的信號的每一測量項目的測量數據，并將該獲取的測量數據記錄在該測量計劃文檔中相應的測量項目的測量值的欄位中；

根據該測量計劃文檔中對該選擇的測量任務的每一測量項目所設定的標準值對相應的測量項目的測量值進行分析；以及

將每一測量項目的分析結果記錄在該測量計劃文檔中相應的測量項目的分析結果的欄位中。

本發明還提供一種自動化測量系統，用于對待測電子電路的測試點進行自動化測量。

一種自動化測量系統，該系統用于控制測量儀器及多個機械裝置對待測電子電路的測試點進行自動測量，該測量儀器包括多個分別安裝于機械裝置上的探針。該系統包括：

文檔建立模塊，用于響應測試人員建立測量計劃文檔的操作而建立一測量計劃文檔；

設置模塊，用于響應測試人員的設置操作而在該測量計劃文檔中設置測量任務序列以及每一測量任務的參數的欄位，其中，每一測量任務的參數包括測試點的坐標值、測量項目序列及每一測量項目的標準值、測量值與分析結果；該設置模塊進一步用于在該測量計劃文檔中設定各個測試點的坐標值、測量項目序列、每一測量項目的標準值、測量儀器的多個探針的初始位置的坐標值、及多個探針與多個機械裝置的對應關系；

信號測量模塊，用于從該測量儀器的多個探針中為每一測量任務的測試點分別選擇用于測量的探針；

探針定位模塊，用于根據該測量計劃文檔中設定的測量任務的測試點的坐標值及為該測試點選擇的探針尖端的初始位置的坐標值，計算出探針尖端從初始位置到相應的測試點的偏移量，并發出包含該偏移量的探針定位指令，控制相應的機械裝置將探針尖端定位于電路板上的相應測試點；

該信號測量模塊還用于根據該測量計劃文檔中對測量任務所設定的測量項目，控制測量儀器對相應的測試點的信號進行測量；

該設置模塊還用于獲取測量儀器對測試點的信號的每一測量項目的測量數據，并將該獲取的測量數據記錄在該測量計劃文檔中相應的測量項目的測量值的欄位中；

數據分析模塊，用于根據該測量計劃文檔中對每一測量項目所設定的標準值對相應的測量項目的測量值進行分析；以及