[發(fā)明專利]動化測量系統(tǒng)及方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310255886.X
• 申請日: 2013-06-25
• 公開（公告）號: CN104251966A
• 公開（公告）日: 2014-12-31
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 歐陽銘修
• 申請（專利權(quán)）人: 鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種自動化測量方法，該方法用于控制測量儀器及多個(gè)機(jī)械裝置對待測電子電路的測試點(diǎn)進(jìn)行自動測量，該測量儀器包括多個(gè)分別安裝于機(jī)械裝置上的探針，其特征在于：該方法包括：

響應(yīng)測試人員建立測量計(jì)劃文檔的操作而建立一測量計(jì)劃文檔；

響應(yīng)測試人員的設(shè)置操作而在該測量計(jì)劃文檔中設(shè)置測量任務(wù)序列以及每一測量任務(wù)的參數(shù)的欄位，其中，每一測量任務(wù)的參數(shù)包括測試點(diǎn)的坐標(biāo)值、測量項(xiàng)目序列及每一測量項(xiàng)目的標(biāo)準(zhǔn)值、測量值與分析結(jié)果；

在該測量計(jì)劃文檔中設(shè)定各個(gè)測試點(diǎn)的坐標(biāo)值、測量項(xiàng)目序列、每一測量項(xiàng)目的標(biāo)準(zhǔn)值、測量儀器的多個(gè)探針的初始位置的坐標(biāo)值、及多個(gè)探針與多個(gè)機(jī)械裝置的對應(yīng)關(guān)系；

從該測量計(jì)劃文檔中的測量任務(wù)中選擇一組測量任務(wù)，并為該選擇的測量任務(wù)的測試點(diǎn)分別選擇用于測量的探針；

根據(jù)該測量計(jì)劃文檔中對該選擇的測量任務(wù)所設(shè)定的測試點(diǎn)的坐標(biāo)值及為該測試點(diǎn)選擇的探針尖端的初始位置的坐標(biāo)值，計(jì)算出各個(gè)探針尖端從初始位置到相應(yīng)的測試點(diǎn)的偏移量，并分別發(fā)出包含該偏移量的探針定位指令，控制相應(yīng)的機(jī)械裝置將探針尖端定位于電路板上的相應(yīng)測試點(diǎn)；

根據(jù)該測量計(jì)劃文檔中對選擇的測量任務(wù)所設(shè)定的測量項(xiàng)目，控制測量儀器對測試點(diǎn)的信號進(jìn)行測量；

獲取測量儀器對測試點(diǎn)的信號的每一測量項(xiàng)目的測量數(shù)據(jù)，并將該獲取的測量數(shù)據(jù)記錄在該測量計(jì)劃文檔中相應(yīng)的測量項(xiàng)目的測量值的欄位中；

根據(jù)該測量計(jì)劃文檔中對該選擇的測量任務(wù)的每一測量項(xiàng)目所設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)值對相應(yīng)的測量項(xiàng)目的測量值進(jìn)行分析；以及

將每一測量項(xiàng)目的分析結(jié)果記錄在該測量計(jì)劃文檔中相應(yīng)的測量項(xiàng)目的分析結(jié)果的欄位中。

2.如權(quán)利要求1所述的測量方法，其特征在于，還包括步驟：判斷該測量計(jì)劃文檔中是否還有其他測量任務(wù)，若還有其他測量任務(wù)，則返回選擇測量任務(wù)及探針的步驟。

3.如權(quán)利要求2所述的測量方法，其特征在于，還包括步驟：對該測量計(jì)劃文檔中的所有的測量任務(wù)的所有測量項(xiàng)目的分析結(jié)果進(jìn)行綜合分析，并生成分析報(bào)告。

4.如權(quán)利要求1所述的測量方法，其特征在于，該每一測量任務(wù)的參數(shù)還包括測試點(diǎn)的標(biāo)記，該方法還包括步驟：在該測量計(jì)劃文檔中設(shè)定各個(gè)測試點(diǎn)的標(biāo)記；

在該測量計(jì)劃文檔中設(shè)定各個(gè)測試點(diǎn)的坐標(biāo)值包括以下步驟：

根據(jù)該測量計(jì)劃文檔中設(shè)定的測試點(diǎn)的標(biāo)記發(fā)出尋標(biāo)指令控制該尋標(biāo)器依次搜尋每一測試點(diǎn)的位置并生成相應(yīng)的坐標(biāo)值；以及

獲取該尋標(biāo)器生成的每一測試點(diǎn)的坐標(biāo)值，并將該獲取到的坐標(biāo)值記錄在該測量計(jì)劃文檔中相應(yīng)的測試點(diǎn)的坐標(biāo)值的欄位中。

5.如權(quán)利要求1所述的測量方法，其特征在于，在控制相應(yīng)的機(jī)械裝置將探針尖端定位于電路板上的相應(yīng)測試點(diǎn)之后還包括步驟：發(fā)出尋標(biāo)指令控制一尋標(biāo)器監(jiān)控探針尖端落點(diǎn)的位置并生成相應(yīng)的坐標(biāo)值，并根據(jù)尋標(biāo)器生成的探針尖端落點(diǎn)的坐標(biāo)值及該測量計(jì)劃文檔中對該選擇的測量任務(wù)所設(shè)定的測試點(diǎn)的坐標(biāo)值，計(jì)算出兩者的偏移量后再次發(fā)出探針定位指令，控制機(jī)械裝置調(diào)節(jié)探針尖端的落點(diǎn)位置，將探針尖端精確定位于電路板上的相應(yīng)測試點(diǎn)而獲得對應(yīng)的信號。

6.如權(quán)利要求1所述的測量方法，其特征在于，該每一測量任務(wù)的參數(shù)還包括探針與測試點(diǎn)接觸的壓力的標(biāo)準(zhǔn)值，該方法還包括步驟：響應(yīng)測試人員的設(shè)置操作而在該測量計(jì)劃文檔中設(shè)定探針與測試點(diǎn)接觸的壓力的標(biāo)準(zhǔn)值；

在控制相應(yīng)的機(jī)械裝置將探針尖端定位于電路板上的相應(yīng)測試點(diǎn)之后還包括步驟：控制機(jī)械裝置測量探針尖端與測試點(diǎn)接觸的壓力，根據(jù)該測量計(jì)劃文檔中設(shè)置的探針與測試點(diǎn)接觸的壓力的標(biāo)準(zhǔn)值與機(jī)械裝置測量到的探針尖端與測試點(diǎn)接觸的壓力，調(diào)節(jié)探針與測試點(diǎn)接觸的壓力。

7.如權(quán)利要求1所述的測量方法，其特征在于，在從該測量計(jì)劃文檔中的測量任務(wù)中選擇一組測量任務(wù)，并從該測量儀器的多個(gè)探針中為該選擇的測量任務(wù)的測試點(diǎn)分別選擇一個(gè)用于測量的探針”之前還包括步驟：發(fā)出校準(zhǔn)指令對測量儀器、機(jī)械裝置及尋標(biāo)器進(jìn)行校正。

8.如權(quán)利要求1所述的測量方法，其特征在于，還包括步驟：發(fā)出探針復(fù)位指令控制相應(yīng)的機(jī)械裝置將探針尖端復(fù)位到初始位置。