[發明專利]圖像分析系統及方法有效
| 申請號: | 201310252893.4 | 申請日: | 2013-06-24 |
| 公開(公告)號: | CN104240227B | 公開(公告)日: | 2018-06-15 |
| 發明(設計)人: | 李軍杰;劉學順;張歡歡 | 申請(專利權)人: | 富泰華工業(深圳)有限公司;鴻海精密工業股份有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00 |
| 代理公司: | 深圳市賽恩倍吉知識產權代理有限公司 44334 | 代理人: | 汪飛亞 |
| 地址: | 518109 廣東省深圳市寶安區觀瀾街道大三社*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 有效圖像 圖像分析系統 有效邊界點 角點 暗箱 圖像 相鄰像素點 圖像處理 直線擬合 邊界點 點亮 灰度 顯示屏 拍攝 | ||
本發明提供一種圖像分析系統及方法,該圖像分析系統通過對裝有點亮顯示屏的暗箱進行拍攝,對所拍的暗箱圖像進行圖像處理及根據兩個相鄰像素點的灰度值來獲取有效圖像的邊界點,進一步獲取有效圖像的四個疑似角點,根據四個疑似角點獲取有效圖像在四個方向的有效邊界點,通過對每一方向上的有效邊界點進行直線擬合獲取四條直線,從而根據四條直線的交點獲取所拍圖像中精確的有效圖像。
技術領域
本發明涉及圖像處理領域,尤其是一種電子設備的圖像分析系統及方法。
背景技術
在進行便攜式電子設備自動化測試中,如ipod自動化測試,需要提取ipod的活動界面。通常做法都是將ipod放在暗箱中,讓ipod點亮屏幕,通過拍攝該暗箱的圖像,作為ipod的活動界面,因此并未去獲取所拍圖像的點亮屏幕所對應的有效圖像,得到的不是一個準確的測試結果。
發明內容
鑒于以上內容,有必要提供一種圖像分析系統,該圖像分析系統應用于電子設備,該電子設備包括拍攝圖像的拍攝單元,該系統包括:圖像處理模塊,用于對拍攝單元所拍的包含亮度區域的黑色背景圖像進行圖像處理獲取各個像素點的灰度值;坐標定義模塊,用于定義一坐標系及獲取所拍圖像四個頂點的坐標;邊界點判斷模塊,用于根據各個像素點的灰度值判斷兩個相鄰像素點的灰度值變化是否大于一預設值,當兩個相鄰像素點的灰度值變化大于該預設值時,獲取兩個相鄰像素點中灰度值小的點及定義所述灰度值小的點為邊界點,及根據定義的坐標系獲取所有邊界點的坐標;數據點確定模塊,用于根據每一頂點和所有邊界點的坐標獲取所有邊界點中距離每一頂點最近的數據點,從而獲取四個頂點對應的四個數據點;有效邊界點獲取模塊,用于從四個數據點中獲取橫或縱坐標最相近的兩個數據點并從所有邊界點中獲取坐標位于所述獲取的兩個數據點確定的橫坐標范圍及縱坐標范圍之間的有效邊界點;直線擬合模塊,用于對所獲取的坐標位于所述獲取的兩個數據點確定的橫坐標范圍及縱坐標范圍之間的有效邊界點進行直線擬合得到一直線,從而獲取在四個方向上的四條直線;及有效圖像產生模塊,用于根據四條直線相交的交點獲取四個交點形成的圖像區域,從而獲得一有效圖像。
還有必要提供一種電子設備的圖像分析方法,該方法包括以下步驟:對電子設備所拍的包含亮度區域的黑色背景圖像進行圖像處理獲取各個像素點的灰度值;定義一坐標系及獲取所拍圖像的四個頂點;根據各個像素點的灰度值判斷兩個相鄰像素點的灰度值變化是否大于一預設值,當兩個相鄰像素點的灰度值變化大于該預設值時,獲取兩個相鄰像素點中灰度值小的點及定義所述灰度值小的點為邊界點,及根據定義的坐標系獲取所有邊界點的坐標;根據每一頂點和所有邊界點的坐標獲取所有邊界點中距離每一頂點最近的數據點,從而獲取四個頂點對應的四個數據點;從四個數據點中獲取橫或縱坐標最相近的兩個數據點并并從所有邊界點中獲取坐標位于所述獲取的兩個數據點確定的橫坐標范圍及縱坐標范圍之間的有效邊界點;對所獲取的坐標位于所述獲取的兩個數據點確定的橫坐標范圍及縱坐標范圍之間的有效邊界點進行直線擬合得到一直線,從而獲取在四個方向上的四條直線;及根據四條直線相交的交點獲取四個交點形成的圖像區域,從而獲得一有效圖像。
本發明的圖像分析系統及方法通過對裝有點亮顯示屏的暗箱進行拍攝,對所拍的暗箱圖像進行圖像處理及根據兩個相鄰像素點的灰度值來獲取有效圖像的邊界點,進一步獲取有效圖像的四個疑似角點,根據四個疑似角點獲取有效圖像在四個方向的有效邊界點,通過對每一方向上的有效邊界點進行直線擬合獲取四條直線,從而根據四條直線的交點獲取所拍圖像中精確的有效圖像。
附圖說明
圖1是本發明圖像分析系統較佳實施例的運行環境圖。
圖2是圖1中圖像分析系統的功能模塊圖。
圖3是本發明電子設備所拍攝圖像的示意圖。
圖4是本發明電子設備的圖像分析方法較佳實施例的流程圖。
主要元件符號說明
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于富泰華工業(深圳)有限公司;鴻海精密工業股份有限公司,未經富泰華工業(深圳)有限公司;鴻海精密工業股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310252893.4/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種新型抗彎單杠
- 下一篇:一種醫學圖像處理方法





