[發明專利]聯合測試行為組織串聯鏈中器件的測試方法

有效

• 申請號: 201310250703.5
• 申請日: 2013-06-21
• 公開（公告）號: CN104237666B
• 公開（公告）日: 2017-05-03
• 發明（設計）人: 朱維良;韓桂麗;劉明
• 申請（專利權）人: 京微雅格（北京）科技有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京億騰知識產權代理事務所11309
• 代理人: 陳霽

技術領域

本發明涉及一種測試方法，特別是涉及一種聯合測試行為組織串聯鏈中器件的測試方法。

背景技術

聯合測試行為組織(JTAG，Joint Test Action Group)測試允許多個器件通過JTAG接口串聯在一起，形成一個JTAG鏈，能實現對各個器件分別測試。圖1為常見的多個JTAG器件串聯方式。如圖1所示，多個器件通過JTAG接口串聯在一起，其中，每個器件均有四個引腳：TCK—測試時鐘輸入；TDI—測試數據輸入，數據通過TDI輸入JTAG口；TDO—測試數據輸出，數據通過TDO從JTAG口輸出；TMS—測試模式選擇，TMS用來設置JTAG口處于某種特定的測試模式。通過TCK、TMS的設置，可將JTAG設置為捕獲指令CAPTURE_IR或捕獲數據CAPTURE_DR狀態。圖1中，唯一標識寄存器ID為32位，旁路寄存器Bypass為1位，指令寄存器的寬度一般大于2小于等于16。

目前，JTAG接口還常用于實現在系統編程(ISP，In-System Programmer)，對FLASH等器件進行編程。只要知道每個設備的指令寄存器的寬度，就可以旁路(Bypass)鏈中其它的器件、對目標芯片進行編程與調試。傳統的編程器在多鏈中指定器件編程時，為了能夠Bypass其它器件，需要從器件指定的邊界掃描描述語言(BSDL，Boundary Scan Description Language)文件獲取指令寄存器寬度等器件信息。然而在某一特定條件或環境中，由于沒有相應的BSDL文件，則無法Bypass此器件，導致JTAG編程失敗。

發明內容

本發明的目的是提供一種通過輸入特定的二進制數據流，自動計算JTAG串聯鏈中各器件的指令寄存器寬度，實現對目標器件編程的方法。

為實現上述目的，本發明提供了一種JTAG串聯鏈中器件的測試方法，包括以下步驟：

重置Reset聯合測試行為組織JTAG串聯鏈及串聯鏈中各器件的數據寄存器和指令寄存器中的數據；

在JTAG的狀態為移位指令SHIFT_IR時，在測試時鐘TCK節拍的控制下，通過JTAG串聯鏈的測試數據輸入TDI口，輸入長度為2N的第一數據流，同時通過JTAG串聯鏈的測試數據輸出TDO口移位出各指令寄存器中的二進制數據流，得到第一輸出序列；

重置JTAG串聯鏈及串聯鏈中各器件的數據寄存器和指令寄存器中的數據，在JTAG的狀態為移位指令SHIFT_IR時，在TCK節拍的控制下，通過JTAG串聯鏈的TDI口，輸入長度為2N的第二數據流，同時通過JTAG串聯鏈的TDO口移位出各指令寄存器中的二進制數據流，得到第二輸出序列；

根據所述第一輸出序列和第二輸出序列，計算出所述JTAG串聯鏈中所有器件的指令寄存器的寬度之和M；

根據所述第一輸出序列，第二輸出序列和所述計算出的所述JTAG串聯鏈中所有器件的指令寄存器的寬度之和M，計算出各個器件的指令寄存器的寬度；

通過輸入M位特定的二進制數據流，選中目標器件，其中，在所述M位特定的二進制數據流中，與選中的目標器件的位置對應的字段為與選擇唯一標識指令相對應的二進制數據；

在JTAG的狀態為捕獲數據CAPTURE_DR時，將各器件的數據寄存器連接到TDI和TDO之間；在JTAG的狀態為移位數據SHIFT_DR時，在TCK節拍的控制下，通過JTAG的TDO口移位出各器件的數據寄存器中的數據。

在上述方法中，所述第一數據流由N位全0的二進制數據流和N位全1的二進制數據流組成；所述第二數據流為2N位全1的二進制數據流；

或者，

所述第一數據流為2N位全1的二進制數據流；所述第二數據流為由N位全0的二進制數據流和N位全1的二進制數據流組成。

在上述方法中，相應的二進制數據流的位數與相應指令寄存器的寬度相對應，所述二進制數據流的最后一位為1，倒數第二位為0。

在上述方法中，計算出所述JTAG串聯鏈中所有器件的指令寄存器的寬度之和M包括：

比較第一輸出序列和第二輸出序列，所述第一輸出序列和第二輸出序列中相同的M位為所述JTAG串聯鏈所有器件的指令寄存器的寬度之和。

在上述方法中，根據所述第一輸出序列，第二輸出序列和所述計算出的所述JTAG串聯鏈中所有器件的指令寄存器的寬度之和M，計算出各個器件的指令寄存器的寬度包括：