[發明專利]聯合測試行為組織串聯鏈中器件的測試方法

有效

• 申請號: 201310250703.5
• 申請日: 2013-06-21
• 公開（公告）號: CN104237666B
• 公開（公告）日: 2017-05-03
• 發明（設計）人: 朱維良;韓桂麗;劉明
• 申請（專利權）人: 京微雅格（北京）科技有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京億騰知識產權代理事務所11309
• 代理人: 陳霽

1.一種聯合測試行為組織串聯鏈中器件的測試方法，其特征在于，該方法包括：

(1)重置聯合測試行為組織JTAG串聯鏈及串聯鏈中各器件的數據寄存器和指令寄存器中的數據；

(2)在JTAG的狀態為移位指令SHIFT_IR時，在測試時鐘TCK節拍的控制下，通過JTAG串聯鏈的測試數據輸入TDI口，輸入長度為2N的第一數據流，同時通過JTAG串聯鏈的測試數據輸出TDO口移位出各指令寄存器中的二進制數據流，得到第一輸出序列；

(3)重置JTAG串聯鏈及串聯鏈中各器件的數據寄存器和指令寄存器中的數據，在JTAG的狀態為移位指令SHIFT_IR時，在TCK節拍的控制下，通過JTAG串聯鏈的TDI口，輸入長度為2N的第二數據流，同時通過JTAG串聯鏈的TDO口移位出各指令寄存器中的二進制數據流，得到第二輸出序列；

(4)根據所述第一輸出序列和第二輸出序列，計算出所述JTAG串聯鏈中所有器件的指令寄存器的寬度之和M；

(5)根據所述第一輸出序列，第二輸出序列和所述計算出的所述JTAG串聯鏈中所有器件的指令寄存器的寬度之和M，計算出各個器件的指令寄存器的寬度；

(6)通過輸入M位特定的二進制數據流，選中目標器件，其中，在所述M位特定的二進制數據流中，與選中的目標器件的位置對應的字段為與選擇唯一標識指令相對應的二進制數據；

(7)在JTAG的狀態為捕獲數據CAPTURE_DR時，將各器件的數據寄存器連接到TDI和TDO之間；在JTAG的狀態為移位數據SHIFT_DR時，在TCK節拍的控制下，通過JTAG的TDO口移位出各器件的數據寄存器中的數據。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，

所述第一數據流由N位全0的二進制數據流和N位全1的二進制數據流組成；所述第二數據流為2N位全1的二進制數據流；

或者，

所述第一數據流為2N位全1的二進制數據流；所述第二數據流為由N位全0的二進制數據流和N位全1的二進制數據流組成。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，相應的二進制數據流的位數與相應指令寄存器的寬度相對應，所述二進制數據流的最后一位為1，倒數第二位為0。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，計算出所述JTAG串聯鏈中所有器件的指令寄存器的寬度之和M包括：

比較第一輸出序列和第二輸出序列，所述第一輸出序列和第二輸出序列中相同的M位為所述JTAG串聯鏈所有器件的指令寄存器的寬度之和。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述第一輸出序列，第二輸出序列和所述計算出的所述JTAG串聯鏈中所有器件的指令寄存器的寬度之和M，計算出各個器件的指令寄存器的寬度包括：

取出第一輸出序列和第二輸出序列中相同的M位二進制數據流，根據指定的開頭劃分為i組，判斷i和JTAG串聯鏈中器件的個數是否一致，在一致的情況下，將每組二進制數據流的位數作為所對應器件的指令寄存器寬度。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，將各器件的數據寄存器連接到TDI和TDO之間包括：

將選中的目標器件的唯一標識寄存器ID，以及其他器件的旁路Bypass寄存器連接到TDI和TDO之間。