[發明專利]液晶陣列基板及液晶陣列基板測試方法

有效

• 申請號: 201310244594.6
• 申請日: 2013-06-19
• 公開（公告）號: CN103513484B
• 公開（公告）日: 2017-03-01
• 發明（設計）人: 姚曉慧;許哲豪
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G02F1/1368
• 分類號: G02F1/1368;G02F1/13
• 代理公司: 廣東廣和律師事務所44298
• 代理人: 劉敏

技術領域

本發明涉及一種基板，特別涉及一種液晶陣列基板及液晶陣列基板測試方法。

背景技術

目前，液晶電視、液晶顯示器等液晶電子裝置越來越普遍。一般的液晶電子裝置均具有多角度的顯示模式，在多角度的顯示模式下，由于在不同視角西觀察到的液晶分子的指向不同，會導致大視角下觀察到的顏色失真。目前，為了改善大視角的顏色失身，在液晶分子像素設計時，會將一個像素分為兩個部分，一部分為主(main)區，另一部分為子(sub)區。通過控制該兩個區的電壓來改善大視角失真。其中，該分為主區以及子區的設計一般稱為LCS(Low?Color?Shift，低色彩偏移)設計。

相應地，為了保證液晶電子裝置的質量，對其制造過程中的檢測是必不可少的。為提高良率和降低成本，在液晶陣列基板制造完成后，會對其進行電性測試，而對于有LCS設計的像素，常規手法很難檢測出主區以及子區的像素短路即不合格，而容易導致面板降等甚至報廢。

發明內容

本發明提供一種液晶陣列基板及液晶陣列基板測試方法，能夠較易地檢測該液晶陣列基板是否合格。

一種液晶陣列基板，包括多個像素區域，該像素區域包括主區、子區以及一調控TFT晶體管，該調控TFT晶體管用于調控主區與子區的電壓比而實現低色彩偏移，其中，主區包括第一TFT晶體管以及主區陣列電路公共電極走線，子區包括第二TFT晶體管以及子區陣列電路公共電極走線，其中，該主區陣列電路公共電極走線以及子區陣列電路公共電極走線相互電隔離；其中，第一TFT晶體管的柵極與第一掃描線連接，源極與數據線連接，漏極與像素電極連接且與主區陣列電路公共電極走線耦接，第二TFT晶體管的柵極與第一掃描線連接，源極與數據線連接，漏極與像素電極連接且與子區陣列電路公共電極走線耦接；該調控TFT晶體管的源極與該第二TFT晶體管的漏極電連接，漏極與第一TFT晶體管的漏極耦接，該調控TFT晶體管的柵極與第二掃描線連接。

其中，該液晶陣列基板的所有像素區域中的主區陣列電路公共電極走線均與一主區導電片連接，所有像素區域中的子區陣列電路公共電極走線均與一子區導電片連接。

其中，該第一掃描線用于產生開啟或關閉信號控制該第一TFT晶體管導通或關閉，該數據線用于在第一TFT晶體管導通時輸入數據驅動信號，而控制主區的顯示。

其中，該第一掃描線用于產生開啟或關閉信號控制該第二TFT晶體管導通或關閉，該數據線用于在第二TFT晶體管導通時輸入數據驅動信號，而控制子區的顯示。

一種液晶陣列基板的測試方法，包括步驟：通過掃描線輸入關閉信號控制像素區域的第一TFT晶體管以及第二TFT晶體管處于關閉狀態；對主區導電片施加第一電壓以及對子區導電片施加第二電壓；其中，該主區導電片與所有像素區域的主區陣列電路公共電極走線電連接，該子區導電片與所有像素區域的子區陣列電路公共電極走線電連接，其中該主區陣列電路公共電極走線與子區陣列電路公共電極走線相互電隔離；偵測像素區域的主區以及子區的電壓是否相同；如果有，則判定主區以及子區存在短路。

其中，該方法還包括步驟：如果像素區域的主區以及子區的電壓不相同，則判定主區以及子區不存在短路。

其中，該步驟“對主區導電片施加第一電壓以及對子區導電片施加第二電壓”包括：對主區導電片施加高電位以及對子區導電片施加零電位。

其中，該步驟“對主區導電片施加第一電壓以及對子區導電片施加第二電壓”包括：對主區導電片施加零電位以及對子區導電片施加高電位。

其中，該方法還包括：對液晶陣列基板存在短路的像素區域進行維修。

本發明的液晶陣列基板及液晶陣列基板測試方法，通過將主區陣列電路公共電極走線以及子區陣列電路公共電極走線相互電隔離，能夠較易地檢測出該液晶陣列基板是否合格。

附圖說明

圖1是本發明一實施方式中的液晶陣列基板的示意圖。

圖2是本發明一實施方式中的液晶陣列基板中的一個像素區域的具體示意圖。

圖3是本發明一實施方式中的液晶陣列基板的檢測方法的流程圖。

具體實施方式