[發明專利]液晶陣列基板及液晶陣列基板測試方法

有效

• 申請號: 201310244594.6
• 申請日: 2013-06-19
• 公開（公告）號: CN103513484B
• 公開（公告）日: 2017-03-01
• 發明（設計）人: 姚曉慧;許哲豪
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G02F1/1368
• 分類號: G02F1/1368;G02F1/13
• 代理公司: 廣東廣和律師事務所44298
• 代理人: 劉敏

1.一種液晶陣列基板，包括多個像素區域，每一像素區域包括主區、子區以及一調控TFT晶體管，該調控TFT晶體管用于調控主區與子區的電壓比而實現低色彩偏移，其特征在于：

主區包括第一TFT晶體管以及主區陣列電路公共電極走線，子區包括第二TFT晶體管以及子區陣列電路公共電極走線，其中，該主區陣列電路公共電極走線以及子區陣列電路公共電極走線相互電隔離；其中，該第一TFT晶體管的柵極與第一掃描線連接，源極與數據線連接，漏極與像素電極連接且與主區陣列電路公共電極走線耦接；該第二TFT晶體管的柵極與第一掃描線連接，源極與數據線連接，漏極與像素電極連接且與子區陣列電路公共電極走線耦接；該調控TFT晶體管的源極與該第二TFT晶體管的漏極電連接，漏極與第一TFT晶體管的漏極耦接，該調控TFT晶體管的柵極與第二掃描線連接。

2.如權利要求1所述的液晶陣列基板，其特征在于，該液晶陣列基板的所有像素區域中的主區陣列電路公共電極走線均與一主區導電片連接，所有像素區域中的子區陣列電路公共電極走線均與一子區導電片連接。

3.如權利要求1或2所述的液晶陣列基板，其特征在于，該第一掃描線用于產生開啟或關閉信號控制該第一TFT晶體管導通或關閉，該數據線用于在第一TFT晶體管導通時輸入數據驅動信號，而控制主區的顯示。

4.如權利要求3所述的液晶陣列基板，其特征在于，該第一掃描線用于產生開啟或關閉信號控制該第二TFT晶體管導通或關閉。

5.如權利要求4所述的液晶陣列基板，其特征在于，該數據線用于在第二TFT晶體管導通時輸入數據驅動信號，而控制子區的顯示。

6.一種液晶陣列基板的測試方法，包括步驟：

通過掃描線輸入關閉信號控制像素區域的第一TFT晶體管以及第二TFT晶體管處于關閉狀態；

對主區導電片施加第一電壓以及對子區導電片施加第二電壓；其中，該主區導電片與所有像素區域的主區陣列電路公共電極走線電連接，該子區導電片與所有像素區域的子區陣列電路公共電極走線電連接，其中該主區陣列電路公共電極走線與子區陣列電路公共電極走線相互電隔離；

偵測像素區域的主區以及子區的電壓是否相同；

如果相同，則判定主區以及子區存在短路。

7.如權利要求6所述的方法，其特征在于，還包括步驟：

如果像素區域的主區以及子區的電壓不相同，則判定主區以及子區不存在短路。

8.如權利要求6所述的方法，其特征在于，該步驟“對主區導電片施加第一電壓以及對子區導電片施加第二電壓”包括：

對主區導電片施加高電位以及對子區導電片施加零電位。

9.如權利要求6所述的方法，其特征在于，該步驟“對主區導電片施加第一電壓以及對子區導電片施加第二電壓”包括：

對主區導電片施加零電位以及對子區導電片施加高電位。

10.如權利要求6所述的方法，其特征在于，該方法還包括：

對液晶陣列基板存在短路的像素區域進行維修。