[發明專利]光學測量裝置

有效

• 申請號: 201310237895.6
• 申請日: 2013-06-17
• 公開（公告）號: CN103575657A
• 公開（公告）日: 2014-02-12
• 發明（設計）人: 王威;顏孟新;周忠誠
• 申請（專利權）人: 明達醫學科技股份有限公司
• 主分類號: G01N21/17
• 分類號: G01N21/17;G01N21/45
• 代理公司: 中國商標專利事務所有限公司 11234
• 代理人: 宋義興;周偉明

1.一種光學測量裝置，用于測量一物體的一表面特性，其特征在于，該光學測量裝置包含：

一光學穿透模塊，設置于該物體的前方并具有至少一光學系數；

一光學測量模塊，傳送至少一光信號穿透該光學穿透模塊并射至該物體的一表面，且經該表面反射后的該至少一光信號穿透該光學穿透模塊而形成一回饋信號，該光學測量模塊接收該回饋信號；以及

一數據處理模塊，耦接于該光學測量模塊，其中該數據處理模塊根據該回饋信號與該至少一光學系數得到該表面特性。

2.如權利要求1所述的光學測量裝置，其特征在于，該光學測量裝置進一步包含：

一控制模塊，耦接于該數據處理模塊與該光學穿透模塊，根據該表面特性決定一測量模式。

3.如權利要求2所述的光學測量裝置，其特征在于，該光學穿透模塊包含：

至少一光學層，該至少一光學層分別具有該至少一光學系數，且該控制模塊根據該表面特性控制或調整該至少一光學層。

4.如權利要求3所述的光學測量裝置，其特征在于，該至少一光學層包含一流體光學層、一薄膜光學層、一膠體光學層、一固體光學層或其組合。

5.如權利要求1所述的光學測量裝置，其特征在于，該光學穿透模塊的材料可選自亞克力、塑料、玻璃、硅膠、光阻材料及上述材料的任意組合。

6.如權利要求1所述的光學測量裝置，其特征在于，該至少一光學系數包含穿透系數、吸收系數、反射系數或其組合。

7.如權利要求1所述的光學測量裝置，其特征在于，該光學穿透模塊可以貼附或涂布的方式共形覆蓋于該表面。

8.如權利要求1所述的光學測量裝置，其特征在于，該光學測量模塊包含：

一分光單元，將該至少一光信號分為一第一光信號及一第二光信號，其中該第一光信號穿透該光學穿透模塊并射至該表面以產生一第一反射光信號；以及

一光程差單元，其中該第二光信號射至該光程差單元以產生一第二光程差信號，該第二光程差信號穿透該光學穿透模塊并射至該表面以產生一第二反射光信號，而該第一反射光信號及該第二反射光信號穿透該光學穿透模塊以形成該回饋信號。

9.如權利要求2所述的光學測量裝置，其特征在于，該光學測量裝置進一步包含：

一移動模塊，耦接至該光學測量模塊及該控制模塊，若該控制模塊所決定的該測量模式為一平面測量模式，該控制模塊輸出該平面測量模式至該移動模塊，使該光學測量模塊沿著該表面移動并針對該表面進行平面測量。

10.如權利要求2所述的光學測量裝置，其特征在于，該光學測量裝置進一步包含：

一轉動模塊，耦接至該控制模塊并具有一轉動軸，其中該轉動軸連接于該物體，若該控制模塊所決定的該測量模式為一立體測量模式，該控制模塊輸出該立體測量模式至該轉動模塊，該轉動模塊的該轉動軸旋轉帶動該物體，使得該光學測量模塊針對該表面進行一立體測量。