[發(fā)明專利]貫通孔的中心距檢具無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310234883.8 | 申請日： | 2013-06-14 |
| 公開（公告）號： | CN103307955A | 公開（公告）日： | 2013-09-18 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 謝飛;丁伯江;李婷;李路路 | 申請（專利權(quán)）人： | 安徽江淮汽車股份有限公司 |
| 主分類號： | G01B5/14 | 分類號： | G01B5/14 |
| 代理公司： | 北京維澳專利代理有限公司 11252 | 代理人： | 王立民 |
| 地址： | 230022 *** | 國省代碼： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 貫通 中心 距檢具 | ||
1.貫通孔的中心距檢具，其特征在于：包括用于和定位孔相配的定位軸，還包括用于插入測量孔中進(jìn)行檢測的測量軸，所述測量軸包括一測量軸通端和一測量軸止端，所述測量軸測量部分的尺寸L檢測滿足以下公式：
其中，D1為定位孔的直徑；L孔距為產(chǎn)品所要求的貫通孔的中心距；D2為測量孔的直徑；d定位為定位軸的直徑；
所述測量軸通端的尺寸L通端滿足以下公式：
其中，ISL孔距為L孔距的下偏差，ESD1為定位孔直徑的上偏差，ESD2為測量孔直徑的上偏差，ISD1為定位孔直徑的下偏差；
所述測量軸止端的尺寸L止端滿足以下公式：
其中，ESL孔距為L孔距的上偏差，ISD1為定位孔直徑的下偏差，ISD2為測量孔直徑的下偏差，ESD1為定位孔直徑的上偏差。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢具，其特征在于：所述測量軸通端和測量軸止端分別位于測量軸的兩端。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢具，其特征在于：所述測量軸位于測量軸通端和測量軸止端之間的位置還設(shè)有測量軸手柄。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的檢具，其特征在于：所述測量軸手柄設(shè)有防滑部。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢具，其特征在于：所述測量軸通端和/測量軸止端為扁平狀。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢具，其特征在于：所述定位軸的端頭還設(shè)有定位軸手柄。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的檢具，其特征在于：所述定位軸手柄還設(shè)有防滑部。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的檢具，其特征在于：在定位軸和定位軸手柄之間還設(shè)有一圈用于和定位孔端面配合的徑向凸起。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢具，其特征在于：所述定位軸和定位孔間隙配合。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的檢具，其特征在于：所述定位軸和定位孔的配合精度為H8/g5。
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