[發(fā)明專利]一種應(yīng)用于集成電路的芯片測試中的測試電路

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310221327.7
• 申請日: 2013-06-04
• 公開（公告）號: CN103336240A
• 公開（公告）日: 2013-10-02
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 童煒
• 申請（專利權(quán)）人: 上海華力微電子有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 上海申新律師事務(wù)所 31272
• 代理人: 竺路玲

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及集成電路測試領(lǐng)域，尤其涉及一種應(yīng)用于集成電路的芯片測試中的測試電路。

背景技術(shù)

隨著半導(dǎo)體制造技術(shù)的發(fā)展，機械的使用成本在獲得最大利潤的影響因素中尤為重要，而在后段測試中，由于現(xiàn)有技術(shù)中低端的集成電路測試設(shè)備往往只具有一個PMU（Precision?Measurement?Unit，精密測量單元），PMU用于精確測量直流電的相關(guān)參數(shù)，既能驅(qū)動電流進入器件進行量測，又能用于給器件提供電壓而量測所產(chǎn)生的電流，低端的集成電路測試設(shè)備中通常還包括有數(shù)量有限的DPS（Device?Power?Supply,電源器件）電源通道，通常為4個DPS電源通道，但是數(shù)量有限的DPS電源通道針對某些測試需求就無法進行測試。

圖1是現(xiàn)有技術(shù)中采用低端集成電路測試設(shè)備對需要多個DPS測試通道的待測芯片進行測量的結(jié)構(gòu)示意圖；如圖1所示，低端IC(Integrated?Circuit,集成電路)測試設(shè)備包括一個PMU、4個DPS電源通道，即DPS1、DPS2、DPS3、DPS4，數(shù)字輸出通道；DPS1、DPS2、DPS3作為電源通道被所需要測試的芯片的電源所占用，用以負(fù)責(zé)向芯片提供穩(wěn)定的三組工作電壓，此時，DPS4作為測試通道，芯片電源觀測引腳Pin1通過連接DPS4測試通道從而連接到集成電路測試設(shè)備，并且PMU搭載在DPS4測試通道上，如此可以測量該芯片Pin1上輸出的電壓或者電流，但是由于測試設(shè)備的DPS1、DPS2、DPS3、DPS4已經(jīng)完全被占用，所以，芯片Pin2、Pin3、Pin4無法連接到DPS測試通道上，從而無法連接集成電路測試設(shè)備，即無法搭載到PMU上，導(dǎo)致無法對芯片Pin2、Pin3、Pin4上的電壓或者電流進行測量，這種情況下，通過使用高檔的集成電路測試設(shè)備可以完成測試，因為高檔的集成電路測試設(shè)備具有更多的PMU，從而具有更多的DPS電源通道，而高檔的集成電路測試設(shè)備的成本需要百萬美金，如此會導(dǎo)致產(chǎn)品的成本上升，而低端的集成電路測試設(shè)備由于受到DPS電源通道的限制，使用率降低，導(dǎo)致設(shè)備的浪費。

中國專利（申請?zhí)枺?00810001479.5）公開了一種I/O口擴展電路，包括一個輸入端口，第一輸出端口和第二輸出端口；用于實現(xiàn)信號電平轉(zhuǎn)換的反向驅(qū)動電路；用于實現(xiàn)脈沖信號轉(zhuǎn)換為電平信號的第一驅(qū)動電路和第二驅(qū)動電路；所述第一驅(qū)動電路的輸入端和所述輸入端口相連，所述第一驅(qū)動電路的輸出端和所述第一輸出端相連；所述反向驅(qū)動電路的輸入端和所述輸入端口相連；所述反向驅(qū)動電路的輸出端和所述第二驅(qū)動電路的輸入端相連，所述第二驅(qū)動電路輸出端和所述第二輸出端口相連。

雖然上述發(fā)明通過反向驅(qū)動電路、第一驅(qū)動電路和第二驅(qū)動電路通過使用電阻、電容和三極管等簡單器件，實現(xiàn)了I/O端口的擴展，同時成本上沒有較大變化，但是上述發(fā)明仍然沒有能夠提供克服低端集成電路測試設(shè)備只具有少量的DPS電源通道導(dǎo)致的需要多個DPS測試通道進行測量的芯片無法進行測量的問題的方法，且也未能解決通常情況下只能采用耗費百萬美金的高檔集成電路測試設(shè)備對芯片進行測量的問題。

中國專利（申請?zhí)枺?00820102128.9）公開了一種可任意擴展的通道選擇控制專用集成電路，其在可編程邏輯器件上設(shè)計多種功能模塊，包括輸入模塊G1，時鐘模塊G2，消抖模塊G3，復(fù)位模塊G4，鎖存輸出模塊G5，三態(tài)門模塊G6。

上述發(fā)明提供的模塊組成的電路，能選擇控制的通道數(shù)可以任意擴展，方法簡單，而且具有外圍元件少，體積小，工作穩(wěn)定可靠，抗干擾能力強的優(yōu)點，但是上述發(fā)明仍然沒有提供克服低端集成電路測試設(shè)備只具有少量的DPS電源通道導(dǎo)致的需要多個DPS測試通道進行測量的芯片無法進行測量的問題的方法，且也未能解決通常情況下只能采用耗費百萬美金的高檔集成電路測試設(shè)備對芯片進行測量的問題。

發(fā)明內(nèi)容

針對上述存在的問題，本發(fā)明提供一種應(yīng)用于集成電路的芯片測試中的測試電路，以克服現(xiàn)有技術(shù)中低端集成電路測試設(shè)備無法對需要多個DPS測試通道進行測量的芯片無法進行測量的問題，并且成本較低，從而解決現(xiàn)有技術(shù)中只能采用耗費百萬美金的高檔集成電路測試設(shè)備對需要多個DPS測試通道的待測芯片進行測量的問題，進而降低制造成本。

為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采取的技術(shù)方案為：

一種測試電路，應(yīng)用于集成電路的芯片測試中，所述測試電路包括集成電路測試設(shè)備，所述集成電路測試設(shè)備上設(shè)置有DPS測試端和電源輸出端，且所述電源輸出端與所述芯片的電源輸入端連接，其中，所述測試電路還包括控制模塊和DPS擴展電路模塊；