[發明專利]一種應用于集成電路的芯片測試中的測試電路在審
| 申請號： | 201310221327.7 | 申請日： | 2013-06-04 |
| 公開（公告）號： | CN103336240A | 公開（公告）日： | 2013-10-02 |
| 發明（設計）人： | 童煒 | 申請（專利權）人： | 上海華力微電子有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海申新律師事務所 31272 | 代理人： | 竺路玲 |
| 地址： | 201210 上海市浦*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 應用于 集成電路 芯片 測試 中的 電路 | ||
1.一種測試電路，應用于集成電路的芯片測試中，所述測試電路包括集成電路測試設備，所述集成電路測試設備上設置有DPS測試端和電源輸出端，且所述電源輸出端與所述芯片的電源輸入端連接，其特征在于，所述測試電路還包括控制模塊和DPS擴展電路模塊；
所述控制模塊包括至少一控制模塊輸出端，所述DPS擴展電路模塊包括DPS擴展電路測試輸入端、至少一DPS擴展電路控制輸入端和至少兩個DPS擴展電路測試輸出端；
所述控制模塊輸出端與所述DPS擴展電路控制輸入端連接，所述DPS擴展電路測試輸入端與所述DPS測試端連接，每個所述DPS擴展電路測試輸出端分別與所述芯片的一個待測管腳連接。
2.如權利要求1所述的應用集成電路測試設備的方法，其特征在于，所述集成電路測試設備中還包括數字輸出模塊，所述數字輸出模塊為所述控制模塊。
3.如權利要求1所述的集成電路測試電路，其特征在于，所述DPS擴展電路模塊還包括光電耦合單元、譯碼單元、驅動單元和繼電器線圈單元。
4.如權利要求3所述的集成電路測試電路，其特征在于，所述光電耦合單元的輸入端為所述DPS擴展電路控制輸入端。
5.如權利要求3所述的集成電路測試電路，其特征在于，所述光電耦合單元的多個輸出端分別與所述譯碼單元的多個輸入端連接。
6.如權利要求3所述的集成電路測試電路，其特征在于，所述譯碼單元的多個輸出端分別與所述驅動單元的多個輸入端連接。
7.如權利要求3所述的集成電路測試電路，其特征在于，所述驅動單元的多個輸出端分別與所述繼電器線圈單元的多個輸入端連接。
8.如權利要求7所述的集成電路測試電路，其特征在于，所述繼電器線圈單元的多個輸入端的共有端還與所述DPS擴展電路測試輸入端連接。
9.如權利要求3所述的集成電路測試電路，其特征在于，所述繼電器線圈單元的輸出端為所述DPS擴展電路測試輸出端。
10.一種應用如權利要求1-9中任意一項所述的測試電路進行集成電路中的芯片測試的方法，其特征在于，所述方法包括：
所述集成電路測試設備通過所述電源輸出端向所述芯片提供電源；
所述DPS擴展電路模塊將所述集成電路測試設備的測試通道擴展為多個DPS測試通道；
所述控制模塊根據測試需求，通過控制每個所述DPS測試通道的斷開或閉合，以對所述芯片的相應待測管腳進行測試。
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