[發(fā)明專利]一種快速檢測材料晶粒度的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310217350.9 | 申請日： | 2013-06-04 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN103335922A | 公開（公告）日： | 2013-10-02 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 任慧遠(yuǎn);闞林;王建璞 | 申請（專利權(quán)）人： | 盤起工業(yè)（大連）有限公司 |
| 主分類號(hào)： | G01N15/02 | 分類號(hào)： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 116000 遼寧*** | 國省代碼： | 遼寧;21 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 快速 檢測 材料 晶粒 方法 | ||
1.一種快速檢測材料晶粒度的方法，包括以下步驟：
????步驟1：原材料取樣；在要檢測晶粒度的原材料上切取試樣；
????步驟2：對試樣進(jìn)行平磨；在平面磨床上將試樣的橫截面進(jìn)行磨削，保證粗糙度；
????步驟3：真空爐淬火；包括以下子步驟：
????步驟3.1：將試樣清洗干凈后，放入真空爐中；
????步驟3.2：將真空爐內(nèi)的真空度調(diào)整在2Pa~200Pa之間；
????步驟3.3：對試樣進(jìn)行加熱，加熱溫度與時(shí)間為：（500~650）℃*（10-50）min+（800~900）℃*（10-40）min?+t℃*（10-90）min，t為待測材料的加熱溫度；
????步驟3.4：將加熱后的試樣在真空爐內(nèi)用N2進(jìn)行冷卻；
步驟4：觀察晶粒度；從真空爐中取出試樣，直接放在金相顯微鏡的載物臺(tái)上，在金相顯微鏡下觀察晶粒度，完成晶粒度檢測。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種快速檢測材料晶粒度的方法，其特征在于，所述粗糙度Ra≤1.6。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種快速檢測材料晶粒度的方法，其特征在于，所述真空爐內(nèi)的真空度調(diào)整在100Pa。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種快速檢測材料晶粒度的方法，其特征在于，所述步驟3.3中試樣加熱溫度與時(shí)間為：550℃*50min+850℃*40min?+1030℃*90min。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種快速檢測材料晶粒度的方法，其特征在于，所述金相顯微鏡為400倍或500倍。
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