[發明專利]一種PLC平面波導光分路器自動測量裝置

有效

• 申請號: 201310211104.2
• 申請日: 2013-05-31
• 公開（公告）號: CN103326773A
• 公開（公告）日: 2013-09-25
• 發明（設計）人: 顧國林;樂志強
• 申請（專利權）人: 上海霍普光通信有限公司
• 主分類號: H04B10/07
• 分類號: H04B10/07
• 代理公司: 上海天翔知識產權代理有限公司 31224
• 代理人: 呂伴

技術領域

本發明涉及光信號的分路器件，具體涉及一種可靈活組合型PLC平面波導光分路器的自動測量裝置。

背景技術

PLC平面波導光分路器(PLC?Splitter)是一種基于石英基板的集成波導光功率分配器件，與同軸電纜傳輸系統一樣，光網絡系統也需要將光信號進行耦合、分支、分配，這就需要光分路器來實現。是光纖鏈路中最重要的無源器件之一，是具有多個輸入端和多個輸出端的光纖匯接器件，特別適用于無源光網絡(EPON，GPON，BPON等)中連接局端和終端設備并實現光信號的分路。

隨著運營商對FTTx光接入網的大規模部署，各大運營商紛紛選擇光無源網絡（PON）及相關技術作為光纖接入方案，平面波導型（PLC）光分路器作為其中的必備的光無源器件也得到了越來越廣泛的應用。

隨著器件材料和封裝技術不斷提高，與傳統的熔融拉錐型分路器相比，PLC型平面波導光分路器不僅在技術指標上，而且在生產成本和規模上，都越來越體現出它的優勢。

傳統的PLC型光分路器的測量方法參見圖1，這是一種單個通道、單項指標、單個波長逐次測量方法。

測量步驟為先對相應波長的光信號源（例如：1310nm、1550nm或1490nm的光源）校零，后將待測PLC型平面波導光分路器（DUT）接入如圖所示光路中，對逐個通道分別測量其插入損耗（簡稱IL）、偏振相關損耗（簡稱PDL）、回波損耗（簡稱RL），然后更換其它波長的光信號源再重復上述測量過程。這種測試方法的缺點就是測量時間長、測量效率極低、靈活性差。

發明內容

本發明要解決的技術問題是提供一種PLC平面波導光分路器自動測量裝置，操作過程簡單、測試效率高、可靈活組合，實現多個通道多項指標多個波長的一次性自動測量。

為達到上述目的，本發明的技術方案如下：

一種PLC平面波導光分路器自動測量裝置，包括：

一檢測信號產生模塊，提供一光信號，

一光功率檢測模塊，光信號通過待測器件后進入光功率檢測模塊，所述光功率檢測模塊測試光信號的功率值，

一控制顯示模塊，控制顯示模塊記錄光信號的光功率基準值，并通過計算自動測量和顯示光信號的光功率實際測量值，且控制其它各功能模塊的工作，讀取、計算、存貯和顯示各功能模塊的工作狀態和相關參數，并實現手工操作和與電腦通信的功能。

在本發明的一個優選實施例中，所述檢測信號產生模塊包括光信號源模塊，光功率檢測模塊包括多通道光功率計模塊，用于對光信號的插入損耗一次性測量。

在本發明的一個優選實施例中，所述檢測信號產生模塊包括光信號源模塊和偏振控制器模塊，光功率檢測模塊包括多通道光功率計模塊，光信號依次通過偏振控制器模塊，待測器件后，進入多通道光功率計模塊，控制顯示模塊用于對光信號的插入損耗和偏振相關損耗的一次性測量。

在本發明的一個優選實施例中，所述檢測信號產生模塊包括光信號源模塊和多波長光信號源模塊，光功率檢測模塊包括多通道光功率計模塊，光信號源模塊和多波長光信號源模塊產生的多個光信號通過待測器件后，進入多通道光功率計模塊，控制顯示模塊用于對多個光信號的波長插入損耗一次性測量。

在本發明的一個優選實施例中，所述檢測信號產生模塊包括光信號源模塊，多波長光信號源模塊以及偏振控制器模塊，光功率檢測模塊包括多通道光功率計模塊，

光信號源模塊和多波長光信號源模塊產生的多個光信號通過偏振控制器模塊以及待測器件后，進入多通道光功率計模塊，控制顯示模塊用于對光信號的多個通道和多個波長插入損耗和偏振相關損耗的一次性測量。

在本發明的一個優選實施例中，所述檢測信號產生模塊包括光信號源模塊，光功率檢測模塊包括多通道光功率計模塊，還包括一與待測器件分別連接的光終止器模塊和1×2光分路器陣列模塊，

控制顯示模塊將測量和顯示待測器件的相應待測端的回波損耗值。

在本發明的一個優選實施例中，所述檢測信號產生模塊包括光信號源模塊，光功率檢測模塊包括多通道光功率計模塊，還包括一與待測器件分別連接的光終止器模塊和1×2光分路器陣列模塊，在所述光信號源與1×2光分路器陣列模塊之間設置一多通道選擇光開關模塊，

控制顯示模塊將測量和顯示待測器件各輸出端的回波損耗值。