[發明專利]一種PLC平面波導光分路器自動測量裝置有效
| 申請號: | 201310211104.2 | 申請日: | 2013-05-31 |
| 公開(公告)號: | CN103326773A | 公開(公告)日: | 2013-09-25 |
| 發明(設計)人: | 顧國林;樂志強 | 申請(專利權)人: | 上海霍普光通信有限公司 |
| 主分類號: | H04B10/07 | 分類號: | H04B10/07 |
| 代理公司: | 上海天翔知識產權代理有限公司 31224 | 代理人: | 呂伴 |
| 地址: | 200135 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 plc 平面 波導 分路 自動 測量 裝置 | ||
1.一種PLC平面波導光分路器自動測量裝置,其特征在于,包括:
一檢測信號產生模塊,提供一光信號,
一光功率檢測模塊,光信號通過待測器件后進入光功率檢測模塊,所述光功率檢測模塊測試光信號的功率值,
一控制顯示模塊,控制顯示模塊記錄光信號的光功率基準值,并通過計算自動測量和顯示光信號的光功率實際測量值,且控制其它各功能模塊的工作,讀取、計算、存貯和顯示各功能模塊的工作狀態和相關參數,并實現手工操作和與電腦通信的功能。
2.根據權利要求1所述的一種PLC平面波導光分路器自動測量裝置,其特征在于:所述檢測信號產生模塊包括光信號源模塊,光功率檢測模塊包括多通道光功率計模塊,用于對光信號的插入損耗一次性測量。
3.根據權利要求1所述的一種PLC平面波導光分路器自動測量裝置,其特征在于:所述檢測信號產生模塊包括光信號源模塊和偏振控制器模塊,光功率檢測模塊包括多通道光功率計模塊,光信號依次通過偏振控制器模塊,待測器件后,進入多通道光功率計模塊,控制顯示模塊用于對光信號的插入損耗和偏振相關損耗的一次性測量。
4.根據權利要求1所述的一種PLC平面波導光分路器自動測量裝置,其特征在于:所述檢測信號產生模塊包括光信號源模塊和多波長光信號源模塊,光功率檢測模塊包括多通道光功率計模塊,光信號源模塊和多波長光信號源模塊產生的多個光信號通過待測器件后,進入多通道光功率計模塊,控制顯示模塊用于對多個光信號的波長插入損耗一次性測量。
5.根據權利要求1所述的一種PLC平面波導光分路器自動測量裝置,其特征在于:所述檢測信號產生模塊包括光信號源模塊,多波長光信號源模塊以及偏振控制器模塊,光功率檢測模塊包括多通道光功率計模塊,
光信號源模塊和多波長光信號源模塊產生的多個光信號通過偏振控制器模塊以及待測器件后,進入多通道光功率計模塊,控制顯示模塊用于對光信號的多個通道和多個波長插入損耗和偏振相關損耗的一次性測量。
6.根據權利要求1所述的一種PLC平面波導光分路器自動測量裝置,其特征在于:所述檢測信號產生模塊包括光信號源模塊,光功率檢測模塊包括多通道光功率計模塊,還包括一與待測器件分別連接的光終止器模塊和1×2光分路器陣列模塊,
控制顯示模塊將測量和顯示待測器件的相應待測端的回波損耗值。
7.根據權利要求1所述的一種PLC平面波導光分路器自動測量裝置,其特征在于:所述檢測信號產生模塊包括光信號源模塊,光功率檢測模塊包括多通道光功率計模塊,還包括一與待測器件分別連接的光終止器模塊和1×2光分路器陣列模塊,在所述光信號源與1×2光分路器陣列模塊之間設置一多通道選擇光開關模塊,
控制顯示模塊將測量和顯示待測器件各輸出端的回波損耗值。
8.根據權利要求1所述的一種PLC平面波導光分路器自動測量裝置,其特征在于:所述檢測信號產生模塊包括光信號源模塊,光功率檢測模塊包括多通道光功率計模塊,還包括一與待測器件分別連接的光終止器模塊和1×2光分路器陣列模塊,在所述光信號源與1×2光分路器陣列模塊之間設置一多通道選擇光開關模塊,所述光信號源模塊一側設置一多波長光信號源模塊,
控制顯示模塊將測量和顯示待測器件各輸出端對于各個波長的回波損耗值。
9.根據權利要求1所述的一種PLC平面波導光分路器自動測量裝置,其特征在于:所述檢測信號產生模塊包括光信號源模塊,光功率檢測模塊包括多通道光功率計模塊,
光信號源模塊一側依次連接2×2光切換開關模塊,多通道選擇光開關模塊,1×2光分路器陣列模塊,2×2光開關陣列模塊以及多通道光功率計模塊,2×2光開關陣列模塊和2×2光切換開關模塊連接待測器件,光終止模塊連接所述2×2光切換開關模塊和控制顯示模塊,
控制顯示模塊將測量和顯示待測器件各輸出端插入損耗和回波損耗值。
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