[發(fā)明專利]芯片驗證平臺及其實現(xiàn)芯片測試的方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310209420.6
• 申請日: 2013-05-30
• 公開（公告）號: CN103713993A
• 公開（公告）日: 2014-04-09
• 發(fā)明（設計）人: 林繁
• 申請（專利權）人: 深圳市匯春科技有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產(chǎn)權代理事務所 44287
• 代理人: 胡海國

技術領域?本發(fā)明涉及芯片驗證平臺，是針對集成電路設計的驗證而做出的簡易測試平臺。?

背景技術?隨著半導體集成電路的發(fā)展，集成電路芯片的規(guī)模越來越大，包含的模塊也越來越多。為了便于快速而準確對芯片進行驗證，使用測試平臺（testbench）并基于該測試平臺從軟件方面進行調(diào)試來達成對芯片各種功能的驗證已經(jīng)成為一種普遍手段。申請?zhí)枮?00510007449.1的中國專利申請公開了一種較有代表性的驗證平臺及其軟硬件架構。?

在現(xiàn)有使用測試平臺對芯片進行驗證過程的場合下，驗證工程師需要用VERILOG語言編寫很多測試案例。一般驗證工程師是根據(jù)待測設計（包括待驗證芯片）的模塊接口描述來編寫各種激勵文件，該激勵文件通過驗證平臺轉(zhuǎn)換成相應的激勵信號傳達到待測設計的設計電路上，驗證工程師再通過觀察該設計電路的輸出響應來判斷測試是否正確。所述觀察例如但不限于人工肉眼觀察仿真器的輸出波形，有些驗證工程師會編寫一個用以自動判斷的行為級模型，甚至對于一些深入芯片內(nèi)部的配置使用FORCE語句來進行強制標注。?

上述現(xiàn)有技術的不足之處在于，針對新出現(xiàn)的包括LCD觸摸芯片在內(nèi)的各種芯片，隨著芯片設計規(guī)模的增加，采用觀察輸出波形這種人工干預的手工檢驗來獲得測試結果的辦法既原始又簡單，可靠性及可重用性都不高，費時費力而無法滿足項目時間上的要求；此外，由于設計電路的功能趨于多樣性，如何解決多個測試內(nèi)容的銜接來盡快完成芯片測試也是一個問題。?

發(fā)明內(nèi)容?本發(fā)明要解決的技術問題在于避免上述現(xiàn)有技術的不足之處而提出一種芯片驗證平臺以及其實現(xiàn)芯片測試的方法，以達到自動、快速而高效地完成芯片測試。?

作為解決上述技術問題的技術方案是，提供一種芯片驗證平臺實現(xiàn)芯片測試的方法，包括構建芯片驗證平臺的步驟，該驗證平臺包括待測設計和若干行為級功能模型，所述行為級功能模型包括紅外發(fā)射器模型、輸入輸出端口模型或晶振模型；尤其是，還包括：通過建立一個單輸入?yún)?shù)的測試案例腳本以供各測試案例引用，并對各測試案例的輸入輸出文件采用統(tǒng)一的定義來建立若干個測試案例聯(lián)測的聯(lián)測案例步驟；其中每一測試案例均包括編寫程序來對所述待測設計提供測試激勵的子步驟、當前測試案例仿真結束輸出測試結果的子步驟；運行所述聯(lián)測案例的步驟。?

上述方案中，所述聯(lián)測案例的運行包括過程：運行聯(lián)測案例腳本；調(diào)用并運行帶第一單輸入?yún)?shù)的測試案例腳本；調(diào)用并運行帶第二單輸入?yún)?shù)的測試案例腳本；……以此類推，直至各個測試案例腳本被調(diào)用并運行結束。?

具體地，各所述測試案例腳本的調(diào)用及運行包括過程：根據(jù)所帶單輸入?yún)?shù)創(chuàng)建一與該單輸入?yún)?shù)同名的當前測試案例文件夾；進入該文件夾調(diào)用VCS仿真器進入仿真，調(diào)用并運行與該單輸入?yún)?shù)同名的匯編代碼文本或與該單輸入?yún)?shù)同名的激勵文件；根據(jù)當前自動測試仿真結果來生成與該單輸入?yún)?shù)同名的結果文件，結束并退出當前測試案例文件夾。?

上述方案中，所述自動測試仿真結果是根據(jù)匯編代碼程序的特定執(zhí)行地址來判斷的。可以是，所述匯編代碼文本中程序的正確入口地址排在錯誤入口地址之后。?

上述方案中，所述待測設計包括LCD觸摸芯片，相應地，所述行為級功能模型還包括LCD模型，連接待測設計的LCD接口以接收并顯示來自待測設計的顯示內(nèi)容。所述行為級功能模型還包括Y2接口模型，連接接待測設計的Y2接口以進行通信。?

??作為解決上述技術問題的技術方案還是，提供一種芯片驗證平臺，包括待測設計和行為級功能模型，所述行為級功能模型包括紅外發(fā)射器模型、輸入輸出端口模型和晶振模型，其中紅外發(fā)射器模型連接接待測設計的紅外遙控接口以接收并檢查來自待測設計的遙控方波，輸入輸出端口模型連接待測設計的數(shù)字端口以進行通信，晶振模型連接待測設計的晶振接口以向該待測設計提供時鐘；尤其是：所述行為級功能模型還包括LCD模型，連接待測設計的LCD接口以接收并顯示來自待測設計的顯示內(nèi)容。?

上述方案中，所述行為級功能模型還包括Y2接口模型，連接接待測設計的Y2接口以進行通信。?

與現(xiàn)有其它技術比較，本發(fā)明方法適用于不同的測試案例能夠進行統(tǒng)一的結果判斷，便于實現(xiàn)多個測試案例的聯(lián)測，且測試結果自動比對，無需人工干預，具有相當?shù)目煽啃约翱芍赜眯浴４送猓景l(fā)明驗證平臺對行為級功能模型的擴充使得可測試芯片的類型增加，和測試功能更多。?

附圖說明

圖1為本發(fā)明驗證平臺的架構；?

圖2a為單個LCD顯示原理示意圖，圖2b為一個數(shù)字顯示示例圖；

圖3為本發(fā)明匯編程序架構示例圖；