[發(fā)明專利]測試信號供應設備和半導體集成電路有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310184666.2 | 申請日: | 2013-05-17 |
| 公開(公告)號: | CN103424625A | 公開(公告)日: | 2013-12-04 |
| 發(fā)明(設計)人: | 高橋國人;戶田彰彥;岸井達也 | 申請(專利權)人: | 雅馬哈株式會社 |
| 主分類號: | G01R27/02 | 分類號: | G01R27/02;H03B28/00 |
| 代理公司: | 中原信達知識產(chǎn)權代理有限責任公司 11219 | 代理人: | 謝晨;劉光明 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 測試 信號 供應 設備 半導體 集成電路 | ||
技術領域
本發(fā)明涉及一種用于通過將測試信號供應到外部負載來測量阻抗的技術。而且,本發(fā)明涉及一種用于根據(jù)外部負載來調整輸出信號的幅度的技術。
背景技術
在放大聲音信號并且將放大的信號輸出到外部負載的聲音輸出電路中,測量外部負載的阻抗并且根據(jù)該外部負載的測量值在聲音信號之間進行切換的聲音輸出電路是已知的(JP-A-2003-179441)。作為外部負載被連接的揚聲器或頭戴式耳機能夠具有4Ω、8Ω、16Ω或32Ω的阻抗。在常規(guī)技術中,因為根據(jù)連接到聲音輸出電路的外部負載來切換聲音信號,所以技術具有能夠預先防止作為外部負載連接到聲音輸出電路的設備由于過度的輸入而被損壞的優(yōu)點。
同時,認為測試信號被供應到外部負載以測量外部負載的阻抗。在該情況下,輸出信號和測試信號被切換以被供應到外部負載。
然而,從對外部負載的保護的觀點看,通常為,輸出信號通過信號放大設備中的諸如保護電阻器等的內部負載而被供應到外部負載。在該情況下,當通過內部負載將測試信號供應到外部負載時,出現(xiàn)要測量內部負載和外部負載的總阻抗而使得外部負載的阻抗沒有被準確地測量的問題。
而且,在放大輸入信號并且將放大的信號輸出到外部負載的信號放大電路中,其中測試信號被供應到外部負載并且確定該外部負載是立體聲插頭還是單聲道插頭的技術是已知的(JP-B-4182802)。在該技術中,測試信號的頻率被設置為可聽頻帶外的高頻而使得用戶不會聽到該測試信號的聲音。
作為外部負載被連接的揚聲器或頭戴式耳機具有電抗組件,使得其阻抗由于頻率中的改變而變化。因此,當測試信號被設置為可聽頻帶外的高頻時,高頻中的阻抗可能相比可聽頻帶中的阻抗發(fā)生偏離。因此,不能準確地獲得所需可聽頻帶中的阻抗。此外,測試信號可能在外部負載中被衰減,使得可能變得難以以高SN比來測量阻抗。此外,有必要將用于生成測試信號的電路的頻率特性向上擴展到可聽頻帶外的高頻,使得有必要使諸如晶體管的構成信號放大電路的組件對應于高頻。
發(fā)明內容
本發(fā)明的目的在于根據(jù)外部負載的阻抗來調整輸出信號的幅度。而且,本發(fā)明的目的在于,使得允許用戶不知道即使測試信號的頻率沒有被設置為可聽頻帶外的高頻時的情況下,能夠測量所述外部負載的阻抗。
為了實現(xiàn)上述目的,根據(jù)本發(fā)明,提供了一種測試信號供應設備,所述測試信號供應設備包括:
第一外部端子;
第二外部端子,所述第二外部端子被施加有預定電勢;
內部負載;
第一端子,所述第一端子通過內部負載連接到第一外部端子;
第二端子,所述第二端子在不通過內部負載的情況下連接到第一外部端子;
測試信號生成部,所述測試信號生成部生成測試信號,并且將所述測試信號供應到第二端子;
檢測部,所述檢測部檢測測試信號的幅度;以及
控制部,所述控制部基于所檢測到的測試信號的幅度來測量連接到第一外部端子和第二外部端子的外部負載的阻抗。
例如,所述測試信號供應設備進一步包括:
放大部,所述放大部放大輸入信號并且將輸出信號輸出到第一端子,
其中,所述控制部基于所測量的外部負載的阻抗來控制放大部的增益。
例如,所述測試信號供應設備進一步包括:
電阻器,所述電阻器具有連接到測試信號生成部的一端和連接到第二端子的另一端,
其中,所述檢測部檢測測試信號在該電阻器的一端和另一端中的至少一個處的幅度。
例如,在測試信號生成部輸出測試信號的測試時間段期間,所述控制部控制放大部,使得放大部的輸出阻抗處于高阻抗態(tài),并且在除了所述測試時間段之外的時間段期間,控制部控制測試信號生成部,使得該測試信號生成部的輸出阻抗處于高阻抗態(tài),并且控制放大部以將輸出信號輸出到第一端子。
例如,所述預定電勢是接地電勢。
例如,測試信號具有包含余弦波的一個波長的波形。
例如,測試信號的波形由該余弦波中的上部波峰到后一上部波峰的部分形成。
例如,輸入信號是聲音信號,并且測試信號具有比可聽頻帶的最高頻率更低的頻率。
根據(jù)本發(fā)明,還提供了一種半導體集成電路,包括:
第一端子,所述第一端子通過內部負載連接到第一外部端子;
第二端子,所述第二端子在不通過內部負載的情況下連接到第一外部端子;
測試信號生成部,所述測試信號生成部生成測試信號,并且將所述測試信號供應到第二端子;
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