[發(fā)明專利]測試信號供應(yīng)設(shè)備和半導(dǎo)體集成電路

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310184666.2
• 申請日: 2013-05-17
• 公開（公告）號: CN103424625A
• 公開（公告）日: 2013-12-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 高橋國人;戶田彰彥;岸井達(dá)也
• 申請（專利權(quán)）人: 雅馬哈株式會(huì)社
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02;H03B28/00
• 代理公司: 中原信達(dá)知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11219
• 代理人: 謝晨;劉光明

1.一種測試信號供應(yīng)設(shè)備，包括：

第一外部端子；

第二外部端子，所述第二外部端子被施加有預(yù)定電勢；

內(nèi)部負(fù)載；

第一端子，所述第一端子通過所述內(nèi)部負(fù)載連接到所述第一外部端子；

第二端子，所述第二端子在不通過所述內(nèi)部負(fù)載的情況下連接到所述第一外部端子；

測試信號生成部，所述測試信號生成部生成測試信號，并且將所述測試信號供應(yīng)到所述第二端子；

檢測部，所述檢測部檢測所述測試信號的幅度；以及

控制部，所述控制部基于所檢測到的所述測試信號的幅度來測量連接到所述第一外部端子和所述第二外部端子的外部負(fù)載的阻抗。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試信號供應(yīng)設(shè)備，進(jìn)一步包括：

放大部，所述放大部放大輸入信號并且將輸出信號輸出到所述第一端子，

其中，所述控制部基于所測量的所述外部負(fù)載的阻抗來控制所述放大部的增益。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的測試信號供應(yīng)設(shè)備，進(jìn)一步包括：

電阻器，所述電阻器具有連接到所述測試信號生成部的一端和連接到所述第二端子的另一端，

其中，所述檢測部檢測所述測試信號在所述電阻器的所述一端和所述另一端中的至少一個(gè)處的幅度。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試信號供應(yīng)設(shè)備，其中，在所述測試信號生成部輸出所述測試信號的測試時(shí)間段期間，所述控制部控制所述放大部，使得所述放大部的輸出阻抗處于高阻抗態(tài)；并且

其中，在除了所述測試時(shí)間段之外的時(shí)間段期間，所述控制部控制所述測試信號生成部，使得所述測試信號生成部的輸出阻抗處于高阻抗態(tài)，并且控制所述放大部以將所述輸出信號輸出到所述第一端子。

5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的測試信號供應(yīng)設(shè)備，其中，所述預(yù)定電勢是接地電勢。

6.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的測試信號供應(yīng)設(shè)備，其中，所述測試信號具有包含余弦波的一個(gè)波長的波形。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試信號供應(yīng)設(shè)備，其中，所述測試信號的波形由所述余弦波中的從上部波峰到后一上部波峰的部分形成。

8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試信號供應(yīng)設(shè)備，其中，所述輸入信號是聲音信號，并且所述測試信號具有比可聽頻帶的最高頻率更低的頻率。

9.一種半導(dǎo)體集成電路，包括：

第一端子，所述第一端子通過內(nèi)部負(fù)載連接到第一外部端子；

第二端子，所述第二端子在不通過所述內(nèi)部負(fù)載的情況下連接到所述第一外部端子；

測試信號生成部，所述測試信號生成部生成測試信號，并且將所述測試信號供應(yīng)到所述第二端子；

檢測部，所述檢測部檢測所述測試信號的幅度；以及

控制部，所述控制部基于所檢測到的所述測試信號的幅度來測量連接到所述第一外部端子和第二外部端子的外部負(fù)載的阻抗。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的半導(dǎo)體集成電路，進(jìn)一步包括：

放大部，所述放大部放大輸入信號并且將輸出信號輸出到所述第一端子，

其中，所述控制部基于所測量的所述外部負(fù)載的阻抗來控制所述放大部的增益。

11.根據(jù)權(quán)利要求9或10所述的半導(dǎo)體集成電路，進(jìn)一步包括：

電阻器，所述電阻器具有連接到所述測試信號生成部的一端和連接到所述第二端子的另一端，

其中，所述檢測部檢測所述測試信號在所述電阻器的所述一端和所述另一端中的至少一個(gè)處的幅度。

12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的測試信號供應(yīng)設(shè)備，其中，在所述測試信號生成部輸出所述測試信號的測試時(shí)間段期間，所述控制部控制所述放大部，使得所述放大部的輸出阻抗處于高阻抗態(tài)；并且

其中，在除了所述測試時(shí)間段之外的時(shí)間段期間，所述控制部控制所述測試信號生成部，使得所述測試信號生成部的輸出阻抗處于高阻抗態(tài)，并且控制所述放大部以將所述輸出信號輸出到所述第一端子。