[發(fā)明專利]磁頭測試方法及測試裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310169758.3 | 申請日: | 2013-05-09 |
| 公開(公告)號: | CN104143343B | 公開(公告)日: | 2018-08-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 林浩基;李文杰;雷卓文;陳華俊;丁菊仁;倪榮光;梁卓榮;關(guān)韻妍 | 申請(專利權(quán))人: | 新科實(shí)業(yè)有限公司 |
| 主分類號: | G11B5/455 | 分類號: | G11B5/455 |
| 代理公司: | 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝傳鑫 |
| 地址: | 中國香港新界沙田香*** | 國省代碼: | 中國香港;81 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 磁頭 測試 方法 裝置 | ||
1.一種磁頭的測試方法,磁頭包括空氣承載面以及提供縱向偏壓場的一對硬磁,其特征在于,所述測試方法包括以下步驟:
(1)以與所述縱向偏壓場相同的第一方向向所述磁頭施加具有恒定強(qiáng)度的第一磁場,同時(shí)以穿過所述空氣承載面的第二方向施加具有變化強(qiáng)度的第二磁場,并測量第一噪聲;
(2)以與所述第一方向相反的第三方向向所述磁頭施加具有恒定強(qiáng)度的第三磁場,同時(shí)施加具有所述第二方向的所述第二磁場,并測量第二噪聲;
(3)分析所述第一噪聲和所述第二噪聲之間的噪聲變化;
其中,所述第一噪聲和所述第二噪聲為磁噪聲。
2.如權(quán)利要求1所述的測試方法,其特征在于:所述步驟(1)進(jìn)一步包括重復(fù)施加多個(gè)具有不同恒定強(qiáng)度的所述第一磁場,同時(shí)施加具有變化強(qiáng)度的所述第二磁場從而測量所述第一噪聲;所述步驟(2)進(jìn)一步包括重復(fù)施加多個(gè)具有不同恒定強(qiáng)度的所述第三磁場,同時(shí)施加具有變化強(qiáng)度的所述第二磁場從而測量所述第二噪聲。
3.如權(quán)利要求1所述的測試方法,其特征在于:所述步驟(3)進(jìn)一步包括所述噪聲變化由以下關(guān)系式計(jì)算而得:δ噪聲=(第一噪聲/第二噪聲-1)*100%。
4.如權(quán)利要求1所述的測試方法,其特征在于:所述第三磁場的恒定強(qiáng)度小于所述硬磁的固有的縱向偏壓場的強(qiáng)度。
5.如權(quán)利要求1所述的測試方法,其特征在于:所述第二方向和所述空氣承載面之間形成一角度。
6.如權(quán)利要求5所述的測試方法,其特征在于:所述第二方向垂直于所述空氣承載面。
7.如權(quán)利要求5所述的測試方法,其特征在于:所述第二方向穿入所述空氣承載面或者從所述空氣承載面穿出。
8.一種磁頭的測試裝置,磁頭包括空氣承載面以及提供縱向偏壓場的一對硬磁,其特征在于,所述測試裝置包括:
第一磁場施加單元,用以以與所述縱向偏壓場相同的第一方向或與所述縱向偏壓場相反的第三方向向所述磁頭施加具有恒定強(qiáng)度的第一磁場;
第二磁場施加單元,用以以穿過所述空氣承載面的第二方向施加具有變化磁場的第二磁場;
與所述磁頭相連的測量單元,用以依照所述第一磁場和所述第二磁場測量第一噪聲或依照第三磁場和所述第二磁場測量第二噪聲;以及
與所述測量單元相連的方向單元,用以分析所述第一噪聲和所述第二噪聲之間的噪聲變化;
其中,所述第一噪聲和所述第二噪聲為磁噪聲。
9.如權(quán)利要求8所述的測試裝置,其特征在于:所述噪聲變化由以下關(guān)系式計(jì)算而得:δ噪聲=(第一噪聲/第二噪聲-1)*100%。
10.如權(quán)利要求8所述的測試裝置,其特征在于:所述第二方向和所述空氣承載面之間形成一角度。
11.如權(quán)利要求10所述的測試裝置,其特征在于:所述第二方向垂直于所述空氣承載面。
12.如權(quán)利要求10所述的測試裝置,其特征在于:所述第二方向穿入所述空氣承載面或者從所述空氣承載面穿出。
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