[發明專利]用于判別光學膜的缺陷的方法

有效

• 申請號: 201310164705.2
• 申請日: 2013-05-07
• 公開（公告）號: CN103389040B
• 公開（公告）日: 2017-12-01
• 發明（設計）人: 李銀珪;金種佑;裴星俊
• 申請（專利權）人: 東友精細化工有限公司
• 主分類號: G01B11/02
• 分類號: G01B11/02;G01N21/95
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司11291
• 代理人: 黃志華

技術領域

本發明涉及一種用于判別光學膜的缺陷的方法。更具體地，本發明涉及一種用于判別光學膜的缺陷以減少判別錯誤從而確定光學膜是否是合格產品的方法。

背景技術

多種圖像顯示設備（如液晶顯示器、有機發光顯示器、場發射顯示器（FED）和等離子體顯示屏（PDP））已得到廣泛地開發和使用。

同時，圖像顯示裝置在被投向市場前，在其制造過程中可能會產生多種缺陷。因此，需要對其進行多種檢驗過程。此處，主要用在圖像顯示裝置中的元件的示例可包括多種光學膜，例如，偏光膜和相位差膜。因此，光學膜的缺陷是導致圖像顯示設備缺陷的主要原因之一。為了準確地檢測出光學膜的缺陷，首先要判別光學膜是否有缺陷。然后，如果確定光學膜是有缺陷的，由于這些缺陷可能被認為是生產產量方面的重要因素則可以采取修理、丟棄或去除缺陷等措施。

對于光學膜的工業大批量生產，通常使用生產線加工。因此，通過在生產線的特定位置處連續地拍攝光學膜隨后在拍攝部位判別缺陷來檢測光學膜的缺陷。

在判別缺陷方面，相關技術對于完美地檢測多種缺陷是重要的。與此相關的第2010-24753號韓國特許公開專利公開了一種通過比較包括異物的封閉曲線與異物的區域來判別線型的異物的方法。

然而，由于光學膜的尺寸大幅增大，故增加了零件成本。因此，為了提高光學膜的生產率，需要一種能夠更準確地判別缺陷的方法。

發明內容

因此，本發明的目的是提供一種用來準確地判別光學膜的缺陷與非缺陷的方法。

本發明的另一目的是提供一種用于將光學膜的缺陷判別為非缺陷的方法，該方法能夠判別出實際并非缺陷但相關技術判別為缺陷的缺陷。

為了實現上述目的，本發明提供以下內容：

（1）一種判別光學膜的缺陷的方法，所述方法包括：（S1）拍攝傳輸的光學膜以選擇有異物存在的區域；以及（S2）在所述區域的異物中，當以平行于傳輸方向的兩邊且垂直于所述傳輸方向的兩邊所構造的矩形包括具有最小面積的異物時，如果平行于所述傳輸方向的邊大于所述垂直于所述傳輸方向的邊，所述異物被判別為線性合格異物，且從這些缺陷中排除所述異物。

（2）根據上述（1）所述的方法，其中，當所述矩形的長邊的長度大于或等于5像素，且所述矩形的短邊的長度大于或等于所述長邊的長度的0.8倍時，異物被判別為線性合格異物。

（3）根據上述（1）所述的方法，所述方法還包括：在沒有被判別為線性合格異物的所述異物中，當包括具有最小面積的所述異物的所述矩形的長邊的長度小于或等于30像素，根據下面等式1計算出的缺陷密度小于或等于40%，且所述異物的中心線的短軸的長度小于或等于3像素時，將所述異物判別為直線型合格異物，且從所述缺陷中排除所述異物，

[等式1]

（4）根據上述（3）的方法，當所述異物的長邊的長度超過30像素時，所述異物被判別為大缺陷。

（5）根據上述（3）的方法，當所述異物的長邊的長度小于或等于30像素，根據等式1計算出的所述缺陷密度小于或等于40%，且所述異物的中心線的短軸的長度超過3像素時，所述異物被判別為弧形缺陷。

（6）根據上述（3）的方法，所述方法還包括：關于長邊的長度小于或等于30像素且等式1的缺陷密度超過40%的異物，將缺陷密度小于或等于75%的所述異物判別為斜方形合格異物，且將所述異物從所述缺陷中排除。

（7）根據上述（6）的方法，所述方法還包括：在缺陷密度超過75%的所述異物中，將具有如下兩個或兩個以上的點的異物判別為壓紋型（embossing type）合格異物，亮度圖中所述點的斜率值根據在圓中的位置從正到負變化，且將所述異物從所述缺陷中排除。

（8）根據上述（7）的方法，具有如下三個或三個以上的點的異物被判別為壓紋型合格異物，所述亮度圖中所述三個或三個以上的點的斜率值從正向負變化。

（9）根據上述（1）到（8）中的任一項所述的方法，所述區域中的所述異物是不對應于集群型缺陷的異物，并且，當兩個或兩個以上的其它異物存在于基于任一異物的半徑為5毫米的圓內時，集群型異物是包括中心異物的一組異物。

（10）根據上述（1）到（8）的任一項所述的方法，所述區域中的所述異物是不對應于細微型缺陷的異物，且該細微型缺陷包括在8像素×8像素的規則正方形內。