[發明專利]用于判別光學膜的缺陷的方法

有效

• 申請號: 201310164705.2
• 申請日: 2013-05-07
• 公開（公告）號: CN103389040B
• 公開（公告）日: 2017-12-01
• 發明（設計）人: 李銀珪;金種佑;裴星俊
• 申請（專利權）人: 東友精細化工有限公司
• 主分類號: G01B11/02
• 分類號: G01B11/02;G01N21/95
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司11291
• 代理人: 黃志華

1.一種判別光學膜的缺陷的方法，所述方法包括：

S1)拍攝傳輸的光學膜以選擇有異物存在的區域；

S2)在所述區域的異物中，當以平行于傳輸方向的兩邊且垂直于所述傳輸方向的兩邊所構造的矩形包括具有最小面積的異物時，如果平行于所述傳輸方向的邊大于垂直于所述傳輸方向的所述邊，所述異物被判別為線性合格異物，且從缺陷中排除所述異物；以及

S3)在沒有被判別為線性合格異物的異物中，當包括具有最小面積的所述異物的所述矩形的長邊的長度小于或等于30像素，根據下面等式1計算出的缺陷密度小于或等于40％，且所述異物的中心線的短軸的長度小于或等于3像素時，將所述異物判別為直線型合格異物，且從所述缺陷中排除所述異物，

[等式1]

其中，至少一個隔離膜附接到所述光學膜。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，當所述矩形的長邊的長度大于或等于5像素，且所述矩形的短邊的長度大于或等于所述長邊的長度的0.8倍時，異物被判別為線性合格異物。

3.根據權利要求1所述的方法，其中，當異物的長邊的長度超過30像素時，所述異物被判別為大缺陷。

4.根據權利要求1所述的方法，其中，當異物的長邊的長度小于或等于30像素，根據等式1計算出的所述缺陷密度小于或等于40％，且所述異物的中心線的短軸的長度超過3像素時，所述異物被判別為弧形缺陷。

5.根據權利要求1所述的方法，還包括：關于長邊的長度小于或等于30像素且根據等式1的缺陷密度超過40％的異物，將缺陷密度小于或等于75％的異物判別為斜方形合格異物，且將所述異物從所述缺陷中排除。

6.根據權利要求5所述的方法，還包括：在缺陷密度超過75％的所述異物中，將具有兩個或兩個以上的點的異物判別為壓紋型合格異物，亮度圖中所述點的斜率值根據在圓中的位置從正到負變化；且將所述異物從所述缺陷中排除。

7.根據權利要求6所述的方法，其中，具有三個或三個以上的點的異物被判別為壓紋型合格異物，所述亮度圖中所述三個或三個以上的點的斜率值從正向負變化。

8.根據權利要求1至7中任一項所述的方法，其中，所述區域中的所述異物是不對應于集群型缺陷的異物，并且，當兩個或兩個以上的其它異物存在于基于任一異物的半徑為5毫米的圓內時，集群型異物是包括中心異物的一組異物。

9.根據權利要求1至7中任一項所述的方法，其中，所述區域中的所述異物是不對應于細微型缺陷的異物，且所述細微型缺陷包括在8像素×8像素的規則正方形內。

10.根據權利要求1至7中任一項所述的方法，其中，所述區域中的所述異物是不對應于集群型缺陷或細微型缺陷的異物，

所述集群型缺陷包括當在基于任一異物的半徑為5毫米的圓內存在兩個以上的其它異物時的中心異物，以及

所述細微型缺陷包括在8像素×8像素的規則正方形內。

11.一種判別光學膜的缺陷的方法，包括：

S1)拍攝傳輸的光學膜以選擇有異物存在的區域；以及

S1-A)當有兩個以上的其它異物存在于所述區域內基于任一異物的半徑為5毫米的圓內時，將包括中心異物的一組異物判別為集群型異物；

S1-B)在沒有判別為集群型缺陷的異物中，將包括在8像素×8像素的規則正方形內的異物判別為細微型缺陷；以及

S2)在沒有判別為細微型缺陷的異物中，當以平行于傳輸方向的兩邊和垂直于所述傳輸方向的兩邊所構造的矩形包括具有最小面積的異物時，如果平行于所述傳輸方向的邊大于所述垂直于所述傳輸方向的邊，所述異物被判別為線性合格異物，且從這些缺陷中排除所述異物。

12.根據權利要求11所述的方法，其中，在步驟S2)中，當所述矩形的長邊的長度大于或等于5像素且所述矩形的短邊的長度大于或等于所述長邊的長度的0.8倍時，異物被確定為線性合格異物。

13.根據權利要求11所述的方法，還包括，在沒有被判別為線性合格異物的異物中，當長邊的長度小于或等于30像素，根據下面等式1計算出的缺陷密度小于或等于40％，且所述異物的中心線的圖像的短軸的長度小于或等于3像素時，將所述異物判別為直線型合格異物，且將所述異物從所述缺陷中排除，

[等式1]