[發(fā)明專利]基于LaB6納米材料場(chǎng)發(fā)射的X射線管及移動(dòng)CT掃描儀有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310151759.5 | 申請(qǐng)日: | 2013-04-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103337441A | 公開(公告)日: | 2013-10-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 徐如祥;林祖?zhèn)?/a>;代秋聲;高楓;張濤 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)人民解放軍北京軍區(qū)總醫(yī)院 |
| 主分類號(hào): | H01J35/06 | 分類號(hào): | H01J35/06 |
| 代理公司: | 北京市惠誠(chéng)律師事務(wù)所 11353 | 代理人: | 雷志剛;潘士霖 |
| 地址: | 100700*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 lab6 納米 材料 發(fā)射 射線 移動(dòng) ct 掃描儀 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及醫(yī)療器械領(lǐng)域,特別涉及一種基于六硼化鑭(LaB6)納米材料場(chǎng)發(fā)射的X射線管及移動(dòng)CT掃描儀。?
背景技術(shù)
隨著醫(yī)學(xué)科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,涌現(xiàn)出了各種各樣的醫(yī)用計(jì)算機(jī)斷層掃描儀(Computer?tomography;CT)設(shè)備。其中X射線管為一種小型醫(yī)用CT設(shè)備的關(guān)鍵部件。陰極是X射線管的核心部件,直接決定著X射線管的性能、成像的質(zhì)量如分辨率和對(duì)比度,以及整機(jī)的工作效率。?
現(xiàn)有技術(shù)中X射線管通常是基于鎢(W)絲熱發(fā)射的X射線管,即采用鎢(W)絲制作X射線管的陰極,其工作原理是鎢(W)絲加熱至其工作溫度時(shí)發(fā)射電子,熱發(fā)射的電子轟擊陽(yáng)極,從而產(chǎn)生X射線。?
現(xiàn)有技術(shù)基于鎢(W)絲熱發(fā)射的X射線管中至少存在如下缺點(diǎn):現(xiàn)有的X射線管中的陰極采用的鎢的電子逸出功高(φw=4.52eV),發(fā)射電流密度小,純鎢材料在2200℃時(shí),其熱發(fā)射電流密度只有0.3A/cm2。如果要想獲得較大的總發(fā)射電流,通常采用提高陰極溫度,但是提高陰極溫度會(huì)使陰極材料的蒸發(fā)率增加,陰極材料蒸發(fā)會(huì)使鎢絲變細(xì),變細(xì)后的鎢絲陰極又會(huì)使陰極溫度升高,陰極蒸發(fā)加劇,從而形成惡性循環(huán);此外,被蒸發(fā)的鎢陰極材料會(huì)沉積在管殼上,形成連續(xù)或斷續(xù)的鎢導(dǎo)電薄膜,破壞了X射線管的絕緣強(qiáng)度,使管壓降低、管子報(bào)廢,降低了X射線管的壽命;同時(shí),這種鎢導(dǎo)電薄膜還阻擋了輸出窗口的X射線強(qiáng)度,降低了成像靈敏度。因此現(xiàn)有技術(shù)的基于鎢(W)絲熱發(fā)射的X射線管的整體性能較差,迫切需要研究一種新型的冷陰極X射線管以代替現(xiàn)有基于熱鎢(W)絲的X射線管。?
發(fā)明內(nèi)容
在下文中給出關(guān)于本發(fā)明的簡(jiǎn)要概述,以便提供關(guān)于本發(fā)明的某些?方面的基本理解。應(yīng)當(dāng)理解,這個(gè)概述并不是關(guān)于本發(fā)明的窮舉性概述。它并不是意圖確定本發(fā)明的關(guān)鍵或重要部分,也不是意圖限定本發(fā)明的范圍。其目的僅僅是以簡(jiǎn)化的形式給出某些概念,以此作為稍后論述的更詳細(xì)描述的前序。?
本發(fā)明提供一種基于LaB6納米材料場(chǎng)發(fā)射的X射線管及移動(dòng)CT掃描儀,用以提高X射線管的整體性能,可滿足醫(yī)學(xué)檢測(cè)等應(yīng)用需求。?
一方面,本發(fā)明了提供一種基于LaB6納米材料場(chǎng)發(fā)射的X射線管,包括:陽(yáng)極和陰極;所述陰極包括LaB6尖錐場(chǎng)發(fā)射陣列,且所述陰極在外加電場(chǎng)的作用下場(chǎng)致發(fā)射產(chǎn)生的電子轟擊所述陽(yáng)極以產(chǎn)生X射線。?
另一方面,本發(fā)明還提供了一種移動(dòng)CT掃描儀,包括如上所述的基于LaB6納米場(chǎng)發(fā)射的X射線管。?
本發(fā)明提供的技術(shù)方案將LaB6納米材料作為X射線管場(chǎng)發(fā)射陰極的尖端材料,由此制得的LaB6尖錐場(chǎng)發(fā)射陣列在電場(chǎng)作用下可場(chǎng)致發(fā)射產(chǎn)生的大量電子,提高電子束流強(qiáng)度,電子轟擊陽(yáng)極產(chǎn)生的X射線非常穩(wěn)定,使得這些電子轟擊陽(yáng)極產(chǎn)生的X射線具有一致性,有利于提高X射線成像的清晰度和分辨率,降低對(duì)被測(cè)物的輻射劑量,并便于實(shí)現(xiàn)X射線管的小型化,可滿足如移動(dòng)CT掃描儀、工業(yè)檢測(cè)等便攜式設(shè)備小型化的設(shè)計(jì)需求。此外,由于LaB6納米材料抗離子轟擊的能力強(qiáng),化學(xué)穩(wěn)定性高,故基于LaB6納米材料場(chǎng)發(fā)射的X射線管相對(duì)其他X射線管而言,工作壽命較長(zhǎng),性能也較為穩(wěn)定和可靠。?
附圖說(shuō)明
為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。?
圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種基于LaB6納米材料場(chǎng)發(fā)射的X射線管的結(jié)構(gòu)示意圖;?
圖2A-圖2C為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種可選的二極管LaB6尖錐?場(chǎng)發(fā)射陣列的SEM照片、場(chǎng)發(fā)射特性;?
圖3A-圖3C為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種可選的三極管LaB6尖錐場(chǎng)發(fā)射陣列的SEM照片、場(chǎng)發(fā)射特性;?
圖4為本發(fā)明實(shí)施例提供的另一種基于LaB6納米材料場(chǎng)發(fā)射的X射線管的結(jié)構(gòu)示意圖;?
圖5為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種X射線管陽(yáng)極模型示例;?
圖6為本發(fā)明實(shí)施例提供的陽(yáng)極最大耐受電流隨鎢合金片厚度變化曲線示例;?
圖7為本發(fā)明實(shí)施例提供的又一種基于LaB6納米材料場(chǎng)發(fā)射的X射線管的結(jié)構(gòu)示意圖;?
圖8為本發(fā)明實(shí)施例提供的電子束入射角(或者靶面傾角)與光子產(chǎn)額的關(guān)系曲線示例;?
圖9為本發(fā)明實(shí)施例提供的X射線管在如頭部CT掃描成像等醫(yī)學(xué)檢測(cè)的成像原理示意圖;?
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