[發明專利]熒光檢測方法有效
| 申請號： | 201310151570.6 | 申請日： | 2013-04-27 |
| 公開（公告）號： | CN103472040A | 公開（公告）日： | 2013-12-25 |
| 發明（設計）人： | 鄧秉華;林清格;陳宏銘 | 申請（專利權）人： | 瑞基海洋生物科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/64 | 分類號： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京律誠同業知識產權代理有限公司 11006 | 代理人： | 徐金國 |
| 地址： | 中國臺灣臺*** | 國省代碼： | 中國臺灣;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 熒光 檢測 方法 | ||
1.一種熒光檢測方法，其特征在于，包含：
將熒光檢測試劑加入樣品中；
將樣品盛裝至一樣品盤中，其中該樣品盤包含至少一列背景樣品孔及至少一列待測樣品孔；
以一背景光源照射該樣品盤；以及
取得該樣品盤的一背景灰階影像。
2.根據權利要求1所述的熒光檢測方法，其特征在于，還包含：
均值濾波該背景灰階影像；
二值化該背景灰階影像；
根據二值化后的該背景灰階影像，計算出該列背景樣品孔的邊緣位置；
根據該列背景樣品孔的邊緣位置，計算出該列待測樣品孔的邊緣位置；
取得位于該列背景樣品孔內的灰階像素數據，并將其平均，作為一背景信號臨界值；以及
根據該列待測樣品孔的邊緣位置以及該背景信號臨界值，對該列待測樣品孔進行熒光信號讀取作業。
3.根據權利要求2所述的熒光檢測方法，其特征在于，對該列待測樣品孔進行熒光信號讀取作業的步驟包含：
以該背景光源照射該樣品盤；
取得該樣品盤的一待測灰階影像；
均值濾波該待測灰階影像；
取得位于該列待測樣品孔內的灰階像素數據；
逐個判斷位于該列待測樣品孔內的灰階像素數據是否大于該背景信號臨界值；以及
當位于該列待測樣品孔內的灰階像素數據大于該背景信號臨界值時，判斷為讀出熒光信號。
4.根據權利要求2所述的熒光檢測方法，其特征在于，取得該樣品盤的該背景灰階影像的步驟是以互補金氧式半導體或電荷耦合元件為之。
5.根據權利要求2所述的熒光檢測方法，其特征在于，該列待測樣品孔上覆蓋有一濾鏡。
6.根據權利要求2所述的熒光檢測方法，其特征在于，該背景光源為發光二極管或激光。
7.根據權利要求1所述的熒光檢測方法，其特征在于，還包含：
均值濾波該背景灰階影像；
二值化該背景灰階影像；
根據二值化后的該背景灰階影像，計算出該列背景樣品孔的邊緣位置；
根據該列背景樣品孔的邊緣位置，計算出該列待測樣品孔的邊緣位置；
取得位于該列背景樣品孔內的灰階像素數據，并將其平均，作為一背景信號臨界值；
根據該列待測樣品孔的邊緣位置以及該背景信號臨界值，對該列待測樣品孔進行熒光信號讀取作業；
以該背景光源照射該樣品盤；
以相異曝光的時間取得該樣品盤的多個待測灰階影像；
均值濾波所述多個待測灰階影像；
取得位于該列待測樣品孔內的灰階像素數據；
逐個判斷位于該列待測樣品孔內的灰階像素數據是否大于該背景信號臨界值；以及
當位于該列待測樣品孔內的灰階像素數據大于該背景信號臨界值時，判斷為讀出熒光信號。
8.根據權利要求7所述的熒光檢測方法，其特征在于，取得該樣品盤的該背景灰階影像的步驟是以互補金氧式半導體或電荷耦合元件為之。
9.根據權利要求7所述的熒光檢測方法，其特征在于，相異曝光的時間由一軟件判斷，隨著熒光強度遞增而遞減。
10.根據權利要求7所述的熒光檢測方法，其特征在于，該列待測樣品孔上覆蓋有一濾鏡。
11.根據權利要求7所述的熒光檢測方法，其特征在于，該背景光源為發光二極管或激光。
12.根據權利要求1所述的熒光檢測方法，其特征在于，還包含：
一定位步驟；
均值濾波該背景灰階影像；
二值化該背景灰階影像；
根據二值化后的該背景灰階影像，計算出該列背景樣品孔的邊緣位置；
根據該列背景樣品孔的邊緣位置，計算出該列待測樣品孔的邊緣位置；
取得位于該列背景樣品孔內的灰階像素數據，并將其平均，作為一背景信號臨界值；以及
根據該列待測樣品孔的邊緣位置以及該背景信號臨界值，對該列待測樣品孔進行熒光信號讀取作業。
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