[發(fā)明專利]能夠自測PCIE接口的存儲系統(tǒng)及測試方法

有效

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• 申請日: 2013-04-25
• 公開（公告）號: CN103198001B
• 公開（公告）日: 2017-02-01
• 發(fā)明（設計）人: 何學勤
• 申請（專利權）人: 加弘科技咨詢（上海）有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 上海光華專利事務所31219
• 代理人: 高磊

技術領域

本發(fā)明涉及總線測試領域，特別是涉及一種能夠自測PCIE接口的存儲系統(tǒng)及測試方法。

背景技術

存儲系統(tǒng)是計算機中由存放程序和數(shù)據(jù)的各種存儲設備、控制部件及管理信息調度的設備（硬件）和算法（軟件）所組成的系統(tǒng)。隨著互聯(lián)網(wǎng)應用的發(fā)展，應用對存儲系統(tǒng)的性能要求越來越高，其中外部設備互聯(lián)高速總線接口（PCIE）是存儲系統(tǒng)與外部設備進行數(shù)據(jù)交互的途徑，因此PCIE接口與相關硬件的匹配度或各自的性能好壞能夠反映存儲系統(tǒng)的性能高低，因此，存儲系統(tǒng)在設計完成后，通常要進行基于PCIE的測試。

目前的測試設備主要包括：數(shù)據(jù)發(fā)生器和測試分析儀，由數(shù)據(jù)發(fā)生器向存儲系統(tǒng)的PCIE接口產(chǎn)生大量數(shù)據(jù)，由測試分析儀來抓取PCIE接口的數(shù)據(jù)，再對所抓取的數(shù)據(jù)進行分析，以提供圖形并茂的分析結果。

上述測試設備的硬件結構復雜、價格昂貴，還需要對存儲系統(tǒng)進行開箱測試，這使得測試過程十分復雜。對于低成本的、簡化的存儲系統(tǒng)來說，使用這類測試設備會增加存儲系統(tǒng)的整體成本。因此，需要對現(xiàn)有的存儲系統(tǒng)進行改進。

發(fā)明內容

鑒于以上所述現(xiàn)有技術的缺點，本發(fā)明的目的在于提供一種能夠自測PCIE接口的存儲系統(tǒng)及測試方法，用于解決現(xiàn)有技術中的存儲系統(tǒng)的測試過于復雜的問題。

為實現(xiàn)上述目的及其他相關目的，本發(fā)明提供一種能夠自測PCIE接口的存儲系統(tǒng)，其至少包括：多個DMA內存單元，用于存儲用于測試的數(shù)據(jù)；與所述DMA內存單元連接的數(shù)據(jù)處理單元，用于通過PCIE接口使所述存儲系統(tǒng)中的存儲控制單元與所述DMA內存單元進行至少一次預設數(shù)量的數(shù)據(jù)傳輸，并且在傳輸?shù)倪^程中記錄所產(chǎn)生的傳輸信息，并在傳輸完成所產(chǎn)生的中斷或傳輸過程中因出現(xiàn)錯誤所產(chǎn)生的中斷期間，將所述傳輸信息予以輸出；測試單元，用于根據(jù)所述數(shù)據(jù)處理單元所輸出的傳輸信息分析所述PCIE接口的至少一種性能。

優(yōu)選地，所述DMA內存單元為入棧循環(huán)隊列，用于循環(huán)存儲多個數(shù)據(jù)。

優(yōu)選地，所述數(shù)據(jù)處理單元用于在預設的中斷產(chǎn)生時，將所記錄的傳輸信息發(fā)送至所述測試單元。

優(yōu)選地，所述數(shù)據(jù)處理單元用于在每次傳輸完成后所產(chǎn)生的中斷或傳輸過程中每次出現(xiàn)錯誤時所產(chǎn)生的中斷期間，將新記錄的傳輸信息提供給所述測試單元。

優(yōu)選地，所述傳輸信息包括：包含每個數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)量、傳輸所有數(shù)據(jù)所消耗的時間、所傳輸數(shù)據(jù)的數(shù)量的數(shù)據(jù)信息、和/或所述數(shù)據(jù)處理單元在傳輸數(shù)據(jù)的過程中出現(xiàn)錯誤的錯誤信息。

優(yōu)選地，所述數(shù)據(jù)處理單元包括：多核處理器、DMA控制器、及寄存器，其中，所述寄存器用于存儲在傳輸數(shù)據(jù)的過程中產(chǎn)生的錯誤信息。

優(yōu)選地，所述PCIE接口的性能包括：PCIE接口的帶寬、延時，穩(wěn)定性中的至少一種。

基于上述目的，本發(fā)明還提供一種測試PCIE接口性能的方法，應用于具有PCIE接口的存儲系統(tǒng)中，所述存儲系統(tǒng)包括：DMA內存單元、PCIE接口、以及與PCIE接口連接的存儲控制單元，其至少包括：1）使所述存儲控制單元與所述DMA內存單元通過PCIE接口進行至少一次預設數(shù)量的數(shù)據(jù)傳輸，并且在傳輸?shù)倪^程中記錄所產(chǎn)生的傳輸信息；2）在傳輸完成而產(chǎn)生的中斷或傳輸過程中因出現(xiàn)錯誤而產(chǎn)生的中斷期間，將所述傳輸信息予以保存；3）根據(jù)所保存的傳輸信息分析所述PCIE接口的至少一種性能。

優(yōu)選地，在傳輸完成而產(chǎn)生的中斷或傳輸過程中因出現(xiàn)錯誤而產(chǎn)生的中斷期間，將所述傳輸信息予以保存的步驟還包括：在預設的中斷產(chǎn)生時，將所記錄的傳輸信息發(fā)予以保存的步驟。

優(yōu)選地，在傳輸完成而產(chǎn)生的中斷或傳輸過程中因出現(xiàn)錯誤而產(chǎn)生的中斷期間，將所述傳輸信息予以保存的步驟還包括：在每次傳輸完成后所產(chǎn)生的中斷或傳輸過程中每次出現(xiàn)錯誤時所產(chǎn)生的中斷期間，將新記錄的傳輸信息予以保存的步驟。

優(yōu)選地，所述傳輸信息包括：包含每個數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)量、傳輸所有數(shù)據(jù)所消耗的時間、所傳輸數(shù)據(jù)的數(shù)量的數(shù)據(jù)信息、和/或所述數(shù)據(jù)處理單元在傳輸數(shù)據(jù)的過程中出現(xiàn)錯誤的錯誤信息。

優(yōu)選地，所述PCIE接口的性能包括：PCIE接口的帶寬、延時，穩(wěn)定性中的至少一種。