[發(fā)明專利]一種校驗基本輸入輸出系統(tǒng)BIOS的方法及設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310140989.1
• 申請日: 2013-04-22
• 公開（公告）號: CN103226505A
• 公開（公告）日: 2013-07-31
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 朱匯雄
• 申請（專利權(quán)）人: 華為技術(shù)有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 深圳中一專利商標(biāo)事務(wù)所 44237
• 代理人: 張全文

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及計算機(jī)領(lǐng)域，尤其涉及到一種校驗基本輸入輸出系統(tǒng)BIOS的方法及設(shè)備。

背景技術(shù)

基本輸入輸出系統(tǒng)（Basic?Input?Output?System，BIOS）在啟動前，會先對自身的內(nèi)容進(jìn)行自檢，以確保能正確啟動。當(dāng)前計算機(jī)系統(tǒng)主流的BIOS使用電可擦除可編程只讀存儲器EEPROM、閃存FLASH等作為其固件的存儲器件。由于這些器件本身的可靠性不高，可能發(fā)生比特跳變、內(nèi)容損壞等，造成BIOS在啟動過程中自檢失敗，計算機(jī)系統(tǒng)無法啟動，為了防止計算機(jī)系統(tǒng)運(yùn)行過程中BIOS固件內(nèi)容意外發(fā)生故障，影響下次啟動，需要一種高效的在線檢測方法，及時發(fā)現(xiàn)這種故障，以便進(jìn)行修復(fù)。

現(xiàn)有技術(shù)中，當(dāng)系統(tǒng)啟動后，立刻讀取BIOS固件內(nèi)容并全拷貝一份保存。在線運(yùn)行過程中，周期性讀取BIOS固件的全部內(nèi)容，與拷貝內(nèi)容逐個字節(jié)比對。如果有差異，則可判斷BIOS內(nèi)容損壞?；蛘?，類似的，在系統(tǒng)啟動后，讀取BIOS內(nèi)容，為其計算初始校驗值，并保存該校驗值。在線運(yùn)行過程中，周期性的讀取BIOS固件的全部內(nèi)容，并計算它的校驗值，與初始校驗值比較。如果有差異，亦可判斷BIOS內(nèi)容損壞。由于如今BIOS文件大小已達(dá)到數(shù)兆字節(jié)，且主流BIOS固件存儲的介質(zhì)一般為低速設(shè)備，因此這種比對需要進(jìn)行繁重的IO訪問與運(yùn)算，效率很低。此外，這種技術(shù)不是很可靠。因為它基于一種假設(shè)，即系統(tǒng)啟動后，檢測程序第一次讀取到的BIOS內(nèi)容是完好的。如果在BIOS自檢之后，檢測程序還沒有讀取BIOS內(nèi)容之前，BIOS內(nèi)容發(fā)生了損壞，那么這種假設(shè)就不再成立。

另一種現(xiàn)有技術(shù)中，將BIOS內(nèi)容分為代碼區(qū)與配置數(shù)據(jù)區(qū)。代碼區(qū)保存的是BIOS程序內(nèi)容，是固定不變的，而配置數(shù)據(jù)區(qū)保存的是BIOS配置數(shù)據(jù)，內(nèi)容可能改變，例如，用戶在BIOS設(shè)置菜單中進(jìn)行修改，即會引起配置數(shù)據(jù)變化。根據(jù)BIOS代碼區(qū)內(nèi)容固定不變的特點，與BIOS開發(fā)人員約定代碼區(qū)的地址范圍、校驗算法、校驗值，檢測程序在系統(tǒng)運(yùn)行過程中，在線讀取代碼區(qū)內(nèi)容，并根據(jù)約定的地址范圍、校驗算法、校驗值進(jìn)行校驗。由于BIOS版本更新，代碼區(qū)大小經(jīng)常發(fā)生變化，約定的地址范圍、校驗值需要經(jīng)常變更，因此檢測程序的通用性不好，需要經(jīng)常適應(yīng)BIOS版本變化，并且，這種檢測算法無法覆蓋配置數(shù)據(jù)區(qū)發(fā)生的異常。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明實施例提供了一種校驗BIOS的方法，旨在解決如何檢測BIOS中代碼區(qū)和數(shù)據(jù)區(qū)是否發(fā)生異常并如何跳過BIOS內(nèi)容中的空白區(qū)。

第一方面，一種校驗基本輸入輸出系統(tǒng)BIOS的方法，所述方法包括：

讀取預(yù)先設(shè)置的校驗啟發(fā)信息，并判斷所述校驗啟發(fā)信息是否正確；

當(dāng)判斷所述校驗啟發(fā)信息正確時，讀取每段代碼區(qū)的第一校驗值，并根據(jù)所述檢驗啟發(fā)信息中每段數(shù)據(jù)區(qū)的起始地址，讀取每段數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)容，根據(jù)所述每段數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)容計算每段數(shù)據(jù)區(qū)的第一校驗值；

存儲所述每段代碼區(qū)的起始地址和所述每段代碼區(qū)的第一校驗值、所述每段數(shù)據(jù)區(qū)的起始地址、每段數(shù)據(jù)區(qū)的第一校驗值；

根據(jù)存儲的所述每段代碼區(qū)的起始地址讀取每段代碼區(qū)內(nèi)容并計算每段代碼區(qū)的第二校驗值，根據(jù)存儲的所述每段數(shù)據(jù)區(qū)的起始地址讀取每段數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)容并計算每段數(shù)據(jù)區(qū)的第二校驗值；

比較所述每段代碼區(qū)的第一校驗值和所述每段代碼區(qū)的第二校驗值，當(dāng)所述每段代碼區(qū)的第一校驗值和所述每段代碼區(qū)的第二校驗值不相同時，則返回BIOS內(nèi)容損壞；比較所述每段數(shù)據(jù)區(qū)的第一校驗值和所述每段數(shù)據(jù)區(qū)的第二校驗值，當(dāng)所述每段數(shù)據(jù)區(qū)的第一校驗值和所述每段數(shù)據(jù)區(qū)的第二校驗值不相同時，則返回BIOS內(nèi)容損壞。

結(jié)合第一方面，在第一方面的第一種可能的實現(xiàn)方式中，所述讀取預(yù)先設(shè)置的校驗啟發(fā)信息，并判斷所述校驗啟發(fā)信息是否正確，包括：

在校驗啟發(fā)信息中設(shè)置唯一標(biāo)識GUID；

根據(jù)所述校驗啟發(fā)信息的長度讀取BIOS中的內(nèi)容；

根據(jù)校驗啟發(fā)信息預(yù)先設(shè)置的結(jié)構(gòu)讀取所述內(nèi)容的標(biāo)識符；

比較所述內(nèi)容的標(biāo)識符和所述唯一標(biāo)識是否相同；

當(dāng)所述內(nèi)容的標(biāo)識符和所述唯一標(biāo)識相同時，則計算所述內(nèi)容的校驗值；

判斷所述內(nèi)容的校驗值和所述校驗啟發(fā)信息中預(yù)先存儲的校驗值是否相同；

當(dāng)所述內(nèi)容的校驗值和所述校驗啟發(fā)信息中預(yù)先存儲的校驗值相同時，則判斷所述內(nèi)容是校驗啟發(fā)信息。

結(jié)合第一方面的第一種可能的實現(xiàn)方式，在第一方面的第二種可能的實現(xiàn)方式中，所述方法還包括：