[發明專利]一種校驗基本輸入輸出系統BIOS的方法及設備有效
| 申請號: | 201310140989.1 | 申請日: | 2013-04-22 |
| 公開(公告)號: | CN103226505A | 公開(公告)日: | 2013-07-31 |
| 發明(設計)人: | 朱匯雄 | 申請(專利權)人: | 華為技術有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/22 | 分類號: | G06F11/22 |
| 代理公司: | 深圳中一專利商標事務所 44237 | 代理人: | 張全文 |
| 地址: | 518129 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 校驗 基本 輸入輸出 系統 bios 方法 設備 | ||
1.一種校驗基本輸入輸出系統BIOS的方法,其特征在于,所述方法包括:
讀取預先設置的校驗啟發信息,并判斷所述校驗啟發信息是否正確;
當判斷所述校驗啟發信息正確時,讀取每段代碼區的第一校驗值,并根據所述檢驗啟發信息中每段數據區的起始地址,讀取每段數據區內容,根據所述每段數據區內容計算每段數據區的第一校驗值;
存儲所述每段代碼區的起始地址和所述每段代碼區的第一校驗值、所述每段數據區的起始地址、每段數據區的第一校驗值;
根據存儲的所述每段代碼區的起始地址讀取每段代碼區內容并計算每段代碼區的第二校驗值,根據存儲的所述每段數據區的起始地址讀取每段數據區內容并計算每段數據區的第二校驗值;
比較所述每段代碼區的第一校驗值和所述每段代碼區的第二校驗值,當所述每段代碼區的第一校驗值和所述每段代碼區的第二校驗值不相同時,則返回BIOS內容損壞;比較所述每段數據區的第一校驗值和所述每段數據區的第二校驗值,當所述每段數據區的第一校驗值和所述每段數據區的第二校驗值不相同時,則返回BIOS內容損壞。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述讀取預先設置的校驗啟發信息,并判斷所述校驗啟發信息是否正確,包括:
在校驗啟發信息中設置唯一標識GUID;
根據所述校驗啟發信息的長度讀取BIOS中的內容;
根據校驗啟發信息預先設置的結構讀取所述內容的標識符;
比較所述內容的標識符和所述唯一標識是否相同;
當所述內容的標識符和所述唯一標識相同時,則計算所述內容的校驗值;
判斷所述內容的校驗值和所述校驗啟發信息中預先存儲的校驗值是否相同;
當所述內容的校驗值和所述校驗啟發信息中預先存儲的校驗值相同時,則判斷所述內容是校驗啟發信息。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
當所述內容的標識符和所述唯一標識不相同時,則根據預先約定的校驗啟發信息的地址對齊規則,跳躍到下一個對齊地址,繼續查找所述校驗啟發信息。
4.根據權利要求2或3所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
當判斷所述內容的校驗值和所述校驗啟發信息中預先存儲的校驗值不相同時,根據預先約定的校驗啟發信息的地址對齊規則,跳躍到下一個對齊地址,繼續查找所述校驗啟發信息。
5.根據權利要求1-4任意一項所述的方法,其特征在于,所述校驗啟發信息包括:
唯一標識GUID、所述校驗啟發信息的總長度、所述校驗啟發信息的校驗值、代碼區總段數、數據區總段數、每段代碼區的起始地址和校驗值、每段數據區的起始地址、結束符號。
6.根據權利要求1-5任意一項所述的方法,其特征在于,所述方法在步驟存儲所述每段代碼區的起始地址和所述每段代碼區的第一校驗值、所述每段數據區的起始地址、每段數據區的第一校驗值之前,還包括;
當所述校驗啟發信息中未存儲其中一段代碼區的第一校驗值時,則不存儲所述其中一段代碼區的起始地址。
7.一種校驗基本輸入輸出系統BIOS的設備,其特征在于,所述設備包括:
讀取單元,用于讀取預先設置的校驗啟發信息;
判斷單元,用于判斷所述校驗啟發信息是否正確;
第一計算單元,用于當判斷所述校驗啟發信息正確時,讀取每段代碼區的第一校驗值,并根據所述檢驗啟發信息中每段數據區的起始地址,讀取每段數據區內容,根據所述每段數據區內容計算每段數據區的第一校驗值;
存儲單元,用于存儲所述每段代碼區的起始地址和所述每段代碼區的第一校驗值、所述每段數據區的起始地址、每段數據區的第一校驗值;
第二計算單元,用于根據存儲的所述每段代碼區的起始地址讀取每段代碼區內容并計算每段代碼區的第二校驗值,根據存儲的所述每段數據區的起始地址讀取每段數據區內容并計算每段數據區的第二校驗值;
第一比較單元,用于比較所述每段代碼區的第一校驗值和所述每段代碼區的第二校驗值,當所述每段代碼區的第一校驗值和所述每段代碼區的第二校驗值不相同時,則返回BIOS內容損壞;
第二比較單元,用于所述每段數據區的第一校驗值和所述每段數據區的第二校驗值,當所述每段數據區的第一校驗值和所述每段數據區的第二校驗值不相同時,則返回BIOS內容損壞。
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