[發明專利]一種基于飛行時間質譜的原位程序升溫脫附分析裝置

無效

• 申請號: 201310123964.0
• 申請日: 2013-04-10
• 公開（公告）號: CN104103489A
• 公開（公告）日: 2014-10-15
• 發明（設計）人: 唐紫超;史磊;吳小虎;王興龍;任文峰;李剛;張世宇
• 申請（專利權）人: 中國科學院大連化學物理研究所
• 主分類號: H01J49/40
• 分類號: H01J49/40;G01N27/64
• 代理公司: 沈陽晨創科技專利代理有限責任公司 21001
• 代理人: 張晨

1.一種基于飛行時間質譜的原位程序升溫脫附分析裝置，其特征在于：該裝置包括進樣口，電離室，離子源和原位熱解裝置，質量分析器，接收器，數據系統，供電系統及真空系統；

進樣口直接引入離子源和原位熱解裝置中，離子源和原位熱解裝置在電離室中，電離室緊靠質量分析器；接收器在質量分析器中，通過數據線與數據系統相連，在電離室和質量分析器中加入真空系統。

2.按照權利要求1所述基于飛行時間質譜的原位程序升溫脫附分析裝置，其特征在于：樣品經過進樣口進入電離室中的離子源和原位熱解裝置，電離室與質量分析器相鄰，保證樣品電離后的離子碎片第一時間進入到質量分析器中，在質量分析器中飛行一段距離后被接收器接收，并將信號傳遞到數據系統，數據系統將接受到的電信號放大、處理并給出最終分析結果。

3.按照權利要求1所述基于飛行時間質譜的原位程序升溫脫附分析裝置，其特征在于：樣品放置于與原位熱解裝置一體的離子源中，在飛行時間質譜儀的離子源內進行熱解。

4.按照權利要求1所述基于飛行時間質譜的原位程序升溫脫附分析裝置，其特征在于：所述離子源為電子電離源（EI）或紫外光電離源（PI）。

5.按照權利要求4所述基于飛行時間質譜的原位程序升溫脫附分析裝置，其特征在于：所述的EI源由推斥極、引出極、聚焦極、發射極、電離室、燈絲、單透鏡、接地柵網和推斥板組成。

6.按照權利要求1所述基于飛行時間質譜的原位程序升溫脫附分析裝置，其特征在于：所述的質量分析器為飛行時間質量分析器，質量分析器全長380mm，無場飛行區200mm；飛行時間質量分析器采用離子垂直引入、雙推斥脈沖場和二級有網反射鏡的設計。

7.按照權利要求1所述基于飛行時間質譜的原位程序升溫脫附分析裝置，其特征在于：所述的接收器用于接收離子束流，采用微通道板（MCP）。

8.按照權利要求1所述基于飛行時間質譜的原位程序升溫脫附分析裝置，其特征在于：所述的數據系統包括計算機、ADC采集模塊和TDC采集模塊；該數據系統將接受到的電信號放大、處理并給出分析結果。

9.按照權利要求1所述基于飛行時間質譜的原位程序升溫脫附分析裝置，其特征在于：所述的真空系統包括質量分析器真空系統和離子源真空系統；其中質量分析器真空系統由抽速260L/s的分子泵保證質量分析器內部的真空度為1×10^-5Pa；離子源真空系統由抽速為67L/s的分子泵保證離子源內部的真空度為1×10^-5Pa。