[發明專利]獲取單個微米顆粒大冷速下凝固組織的方法無效
| 申請號： | 201310119368.5 | 申請日： | 2013-04-08 |
| 公開（公告）號： | CN103207108A | 公開（公告）日： | 2013-07-17 |
| 發明（設計）人： | 趙炳戈;高玉來;李林昉;翟啟杰 | 申請（專利權）人： | 上海大學 |
| 主分類號： | G01N1/42 | 分類號： | G01N1/42 |
| 代理公司： | 上海上大專利事務所(普通合伙) 31205 | 代理人： | 顧勇華 |
| 地址： | 200444*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 獲取 單個 微米 顆粒 大冷速下 凝固 組織 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種獲取單個微米顆粒大冷速下凝固組織的方法，其特征在于該方法具有以下步驟：
a.?選取適合于快速掃描量熱儀的低熔點金屬材料，利用自耗電極直流電弧法制備出微米級金屬顆粒；
b.?選擇合適的傳感器，用柔軟的細銅絲蘸取少量硅油涂抹到傳感器的測試區域，以增大熱接觸面積；
c.?在光學顯微鏡下挑選出表面光滑、圓整的單個金屬微滴并利用細銅絲將測試其精確放置于薄膜傳感器測試區域中心部位；
d.?設定溫度程序，并根據實際條件調節PID控制電路參數，獲得盡可能大的冷卻速度；在液氮或常溫條件下測試；
e.?將高速冷卻的試樣仔細放置到聚焦離子束樣品臺上，進行精細加工，以制備透射電鏡樣品；在此過程中通過掃描電鏡對其加工過程進行記錄，并對其組織結構進行初步的觀察；
f.?將加工完成的樣品放置到高分辨透射電鏡下進行組織結構方面的表征。
2.根據權利要求1所述的獲取單個微米顆粒大冷速凝固組織的方法，其特征在于金屬體系的熔點低于770K，顆粒尺寸在38μm以下。
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