[發(fā)明專利]用于電子器件的測試裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310099492.X
• 申請日: 2011-04-11
• 公開（公告）號: CN103226177A
• 公開（公告）日: 2013-07-31
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 史澤棠;蔡培偉;陳天宜;司徒偉康;卓佐憲
• 申請（專利權(quán)）人: 先進(jìn)自動器材有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 北京申翔知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11214
• 代理人: 周春發(fā)

1.一種用于電子器件的自動測試系統(tǒng)，該自動測試系統(tǒng)包括：

多個(gè)載體，其被配置來運(yùn)送待測試的電子器件；

旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤，其上安裝有多個(gè)載體，以將載體連同電子器件一起移動至測試位置；

頂板，其位于測試位置處，測試工具裝配在該頂板上以測試電子器件；

插座，其設(shè)置在測試位置；以及

上推馬達(dá)，其被用來和插座相耦接，以將插座連同電子器件一起朝向頂板推動，而測試電子器件的特性。

2.如權(quán)利要求1所述的自動測試系統(tǒng)，其中頂板還包含有上推槽孔，該上推槽孔被成形和被配置來在電子器件被插座推抵時(shí)通過上推槽孔接收電子器件。

3.如權(quán)利要求1所述的自動測試系統(tǒng)，其中插座包括：

夾持組件，其包含有夾持狹長部，該夾持狹長部被用來延伸穿越頂板中的夾持槽孔，以夾持在電子器件上而使得電子器件穩(wěn)定和精確定位。

4.如權(quán)利要求3所述的自動測試系統(tǒng)，該自動測試系統(tǒng)還包含有：

連桿條，其將夾持狹長部耦接至線性驅(qū)動機(jī)構(gòu)上，其中線性馬達(dá)的驅(qū)動使得夾持狹長部在垂直于每個(gè)夾持狹長部的長度方向上移動。

5.如權(quán)利要求1所述的自動測試系統(tǒng)，其中上推馬達(dá)包含有線性馬達(dá)，該線性馬達(dá)被用于耦接至插座上，以在朝向或者背離頂板的方向上提升或者降低插座。

6.如權(quán)利要求1所述的自動測試系統(tǒng)，其中載體包含有：分別通過接觸片槽孔和夾持槽孔用于插置插座的導(dǎo)電接觸片的接觸片槽孔和用于插置夾持組件的夾持狹長部的夾持槽孔，該夾持組件被用來在測試過程中夾持在電子器件上。