[發(fā)明專利]形成銅基導(dǎo)電結(jié)構(gòu)在集成電路裝置上的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310085373.9 | 申請日: | 2013-03-18 |
| 公開(公告)號: | CN103311178A | 公開(公告)日: | 2013-09-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | S·X·林;何銘;張洵淵;L·趙 | 申請(專利權(quán))人: | 格羅方德半導(dǎo)體公司 |
| 主分類號: | H01L21/768 | 分類號: | H01L21/768;H01L21/48 |
| 代理公司: | 北京戈程知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11314 | 代理人: | 程偉;王錦陽 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 形成 導(dǎo)電 結(jié)構(gòu) 集成電路 裝置 方法 | ||
1.一種形成裝置的方法,其包括下列步驟:
在一絕緣材料層中形成一溝渠/導(dǎo)孔;
在該溝渠/導(dǎo)孔中形成一銅基種子層在該絕緣材料層上面;
對于該銅基種子層執(zhí)行一加熱工藝以增加位在貼近該溝渠/導(dǎo)孔的底部的該銅基種子層的數(shù)量;
在執(zhí)行該加熱工藝后,對于該銅基種子層執(zhí)行一蝕刻工藝;以及
執(zhí)行一無電沉積工藝以用一銅基材料填滿該溝渠/導(dǎo)孔。
2.如權(quán)利要求1所述的方法,其中形成該銅基種子層的步驟包括:執(zhí)行物理氣相沉積工藝或化學(xué)氣相沉積工藝中的一個。
3.如權(quán)利要求1所述的方法,其中形成該銅基種子層的步驟包括:執(zhí)行一電化學(xué)沉積工藝,且其中該銅基種子層包括銅或銅合金。
4.如權(quán)利要求1所述的方法,其中形成該銅基種子層的步驟包括:執(zhí)行一無電沉積工藝,且其中該銅基種子層包括銅或銅合金。
5.如權(quán)利要求1所述的方法,其中執(zhí)行該加熱工藝的步驟包括:以約100至350℃的溫度及約5至120秒的持續(xù)時間執(zhí)行一加熱工藝。
6.如權(quán)利要求1所述的方法,其中對于該銅基種子層執(zhí)行該蝕刻工藝的步驟包括:執(zhí)行一濕蝕刻工藝。
7.如權(quán)利要求1所述的方法,其中對于該銅基種子層執(zhí)行該蝕刻工藝的步驟包括:執(zhí)行一濕蝕刻工藝以實質(zhì)移除該銅基種子層中位在該溝渠/導(dǎo)孔的側(cè)壁上方的部分。
8.如權(quán)利要求7所述的方法,其中執(zhí)行該濕蝕刻工藝是實質(zhì)完全移除位在在該絕緣材料層上面貼近該溝渠/導(dǎo)孔的一開口的該銅基種子層。
9.如權(quán)利要求7所述的方法,其中對于該銅基種子層執(zhí)行該蝕刻工藝是留下位在貼近該溝渠/導(dǎo)孔的底部的該銅基種子層的殘余部分。
10.如權(quán)利要求1所述的方法,更包括:
在執(zhí)行該蝕刻工藝后,在還原氣氛中對于該裝置以至少約100℃的溫度執(zhí)行另一加熱工藝;以及
在執(zhí)行該另一加熱工藝后,執(zhí)行該無電沉積工藝。
11.如權(quán)利要求10所述的方法,其中該還原氣氛包括一含氫氣體。
12.如權(quán)利要求11所述的方法,其中該含氫氣體為一成型氣體。
13.如權(quán)利要求1所述的方法,更包括:
在執(zhí)行該蝕刻工藝后,安置該裝置在含有還原性化學(xué)成分的一濕槽中;以及
由該槽移出該裝置,然后執(zhí)行該無電沉積工藝。
14.如權(quán)利要求1所述的方法,其中,在形成該銅基種子層之前,該方法更包括:在該絕緣材料層上面及該溝渠/導(dǎo)孔中形成一阻障襯墊層,且其中形成該銅基種子層的步驟包括:在該溝渠/導(dǎo)孔中形成該銅基種子層在該阻障襯墊層上。
15.如權(quán)利要求14所述的方法,其中該阻障襯墊層是由鈷、鈷合金、釕或釕合金中的一個組成。
16.一種形成裝置的方法,其包括下列步驟:
在一絕緣材料層中形成一溝渠/導(dǎo)孔,該溝渠/導(dǎo)孔有側(cè)壁;
在該絕緣材料層上面及該溝渠/導(dǎo)孔中形成一阻障襯墊層;
在該阻障襯墊層上面及該溝渠/導(dǎo)孔中形成一銅基種子層;
對于該銅基種子層執(zhí)行一加熱工藝以增加位在貼近該溝渠/導(dǎo)孔的底部的該銅基種子層的數(shù)量以及減少位在貼近該溝渠/導(dǎo)孔的側(cè)壁的該銅基種子層的數(shù)量;
在執(zhí)行該加熱工藝后,對于該銅基種子層執(zhí)行一濕蝕刻工藝;以及
執(zhí)行一無電沉積工藝以用一銅基材料填滿該溝渠/導(dǎo)孔。
17.如權(quán)利要求16所述的方法,其中形成該銅基種子層的步驟包括:執(zhí)行物理氣相沉積工藝或化學(xué)氣相沉積工藝中的一個。
18.如權(quán)利要求16所述的方法,其中形成該銅基種子層的步驟包括:執(zhí)行一電化學(xué)沉積工藝,且其中該銅基種子層包括銅或銅合金。
19.如權(quán)利要求16所述的方法,其中形成該銅基種子層的步驟包括:執(zhí)行一無電沉積工藝,且其中該銅基種子層包括銅或銅合金。
20.如權(quán)利要求16所述的方法,其中執(zhí)行該加熱工藝的步驟包括:以約100至350℃的溫度及約5至120秒的持續(xù)時間執(zhí)行一加熱工藝。
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H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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