[發(fā)明專利]晶圓邊緣保護(hù)裝置無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310080281.1 | 申請(qǐng)日: | 2013-03-13 | 
| 公開(公告)號(hào): | CN104051293A | 公開(公告)日: | 2014-09-17 | 
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳家豪;魏逸豐;謝曜鍾;卓宜德;華特東尼福摩斯 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 穩(wěn)懋半導(dǎo)體股份有限公司 | 
| 主分類號(hào): | H01L21/67 | 分類號(hào): | H01L21/67;H01L21/68 | 
| 代理公司: | 北京科龍寰宇知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11139 | 代理人: | 孫皓晨 | 
| 地址: | 中國臺(tái)*** | 國省代碼: | 中國臺(tái)灣;71 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 邊緣 保護(hù)裝置 | ||
1.一種晶圓邊緣保護(hù)裝置,安裝于一感應(yīng)耦合電漿離子蝕刻機(jī)臺(tái)內(nèi),其特征在于:該晶圓邊緣保護(hù)裝置具有一環(huán)形夾持部,其中該環(huán)形夾持部具有一第一內(nèi)直徑以及一第二內(nèi)直徑,覆蓋一半導(dǎo)體晶圓及一晶座的邊緣,用于夾持該半導(dǎo)體晶圓及該晶座,并保護(hù)該半導(dǎo)體晶圓及該晶座的邊緣在蝕刻過程中不受損壞。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶圓邊緣保護(hù)裝置,其特征在于:該第一內(nèi)直徑介于40mm至200mm之間。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶圓邊緣保護(hù)裝置,其特征在于:該第二內(nèi)直徑介于50mm至1000mm之間。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶圓邊緣保護(hù)裝置,其特征在于:該環(huán)形夾持部以陶瓷材料制成。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶圓邊緣保護(hù)裝置,其特征在于:該晶圓是一化合物半導(dǎo)體氮化鎵晶圓,其尺寸介于50mm至200mm之間。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的晶圓邊緣保護(hù)裝置,其特征在于:該化合物半導(dǎo)體氮化鎵晶圓包含成長于一半絕緣性4H碳化硅或6H碳化硅基板的以氮化鎵為主的磊晶層。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的晶圓邊緣保護(hù)裝置,其特征在于:該化合物半導(dǎo)體氮化鎵晶圓固定于一尺寸介于50mm至200mm間的晶座。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的晶圓邊緣保護(hù)裝置,其特征在于:該晶座以藍(lán)寶石材料基板、玻璃材料基板或碳化硅材料基板制作。
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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