[發明專利]一種電子裝置殘余相位噪聲的檢測方法及其裝置

有效

• 申請號: 201310080252.5
• 申請日: 2013-03-14
• 公開（公告）號: CN103197160A
• 公開（公告）日: 2013-07-10
• 發明（設計）人: 楊春
• 申請（專利權）人: 東南大學
• 主分類號: G01R29/26
• 分類號: G01R29/26
• 代理公司: 南京蘇高專利商標事務所(普通合伙) 32204
• 代理人: 柏尚春

所屬技術領域

本發明屬于電子技術領域，具體涉及電子器件和鏈路的電子裝置殘余相位噪聲的檢測方法及其裝置。

背景技術

在電子技術領域中，傳統的電子器件和鏈路的殘余相位噪聲檢測系統的一般組成是：一個單頻率的電子信號源通過功分器分成兩路，一路通過被測電子裝置，然后經電子放大器放大后連至混頻器的一端；另一路則經過電子延遲線連至混頻器的另一端，電子延遲線中可包括移相器、放大器和衰減器。混頻器的輸出經過低通濾波器后連至互相關信號處理器，就可以根據互相關信號處理器獲得的功率譜計算出被測電子裝置的殘余相位噪聲。這種檢測方法的關鍵是同一信號源分出的兩路信號通過混頻器后，則信號源的相位噪聲被相干抑制，混頻器輸出端測得的是被測電子裝置的殘余相位噪聲。另外還有在傳統方法上作出了改進的載波抑制法，即在傳統檢測裝置的基礎上采用多個相同頻率的信號源，提升了殘余相位噪聲測量的靈敏度。然而這些方法均存在著局限性，在測量大延時的長鏈路以及長鏈路中的某一器件的殘余相位噪聲時，由于兩路信號的延時差較大，導致信號源的相位噪聲在混頻器時不能充分被抑制，造成相位噪聲測量的靈敏度隨鏈路的延時增大而顯著惡化。本發明使用了一種“多頻法”，即在殘余相位噪聲的測量時采用多個（大于1個且小于10000個）不同頻率的信號源，可以克服傳統方法的弊端，在測量長鏈路以及長鏈路中某一器件的殘余相位噪聲時的靈敏度顯著優于傳統方法。

發明內容

為了克服現有殘余相位噪聲測試方法的局限性，解決長鏈路中長延時導致電子信號源相位噪聲不能完全相干抑制的弊端，本發明提供一種準確性高的電子裝置殘余相位噪聲的檢測方法及其裝置。

本發明采用如下技術方案：

一種電子裝置殘余相位噪聲的檢測方法，包括以下步驟：

步驟1分別取N個不同頻率的電子信號源，其中至少有兩個電子信號源的頻率差大于0.001赫茲，將每個電子信號源的電子信號分成兩個部分，再將每個電子信號中的一部分進行合波，輸入到被測電子裝置中，N為大于1且小于10000的整數，

步驟2接收被測電子裝置的電子輸出信號并將被測電子裝置的電子輸出信號分成N路，

步驟2.1將N個電子信號源中的任意一個電子信號源的另一部分電子信號通過第一個移相器后與N路輸出信號中的任意一路電子輸出信號混頻，混頻時調節第一個移相器使混頻器兩個輸入端的電子信號中相同頻率的電子信號相位差為90度，形成混頻后的第一電子信號，再將混頻后的第一電子信號輸入至互相關信號處理器，利用互相關信號處理器對混頻后的第一電子信號進行分析，得到第一通道的被測電子裝置的殘余相位噪聲測量結果，

步驟2.2將剩余N-1個電子信號源中的任意一個電子信號源的另一部分電子信號通過第二個移相器后與剩余N-1路輸出信號中的任意一路電子輸出信號混頻，混頻時調節第二個移相器使混頻器兩個輸入端的電子信號中相同頻率的電子信號相位差為90度，形成混頻后的第二電子信號，再將混頻后的第二電子信號輸入至互相關信號處理器，得到第二通道的被測電子裝置的殘余相位噪聲測量結果，

以此類推，直到剩余最后一個電子信號源中的另一部分電子信號通過第N個移相器后與剩余最后一路輸出信號與混頻，混頻時調節第N個移相器使混頻器兩個輸入端的電子信號中相同頻率的電子信號相位差為90度，形成混頻后的第N電子信號，再將混頻后的第N電子信號輸入至互相關信號處理器，得到第N通道的被測電子裝置的殘余相位噪聲測量結果，

步驟3用互相關信號處理器對第一至第N通道的被測電子裝置的殘余相位噪聲測試結果進行互相關處理，得到互相關后的功率譜，

步驟4根據互相關后的功率譜計算出被測電子裝置最終的殘余相位噪聲。