[發明專利]一種電子裝置殘余相位噪聲的檢測方法及其裝置

有效

• 申請號: 201310080252.5
• 申請日: 2013-03-14
• 公開（公告）號: CN103197160A
• 公開（公告）日: 2013-07-10
• 發明（設計）人: 楊春
• 申請（專利權）人: 東南大學
• 主分類號: G01R29/26
• 分類號: G01R29/26
• 代理公司: 南京蘇高專利商標事務所(普通合伙) 32204
• 代理人: 柏尚春

1.一種電子裝置殘余相位噪聲的檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟1分別取N個不同頻率的電子信號源，其中至少有兩個電子信號源的頻率差大于0.001赫茲，將每個電子信號源的電子信號分成兩個部分，再將每個電子信號中的一部分進行合波，輸入到被測電子裝置中，N為大于1且小于10000的整數，

步驟2接收被測電子裝置的電子輸出信號并將被測電子裝置的電子輸出信號分成N路，

步驟2.1將N個電子信號源中的任意一個電子信號源的另一部分電子信號通過第一個移相器后與N路輸出信號中的任意一路電子輸出信號混頻，混頻時調節第一個移相器使混頻器兩個輸入端的電子信號中相同頻率的電子信號相位差為90度，形成混頻后的第一電子信號，再將混頻后的第一電子信號輸入至互相關信號處理器，利用互相關信號處理器對混頻后的第一電子信號進行分析，得到第一通道的被測電子裝置的殘余相位噪聲測量結果，

步驟2.2將剩余N-1個電子信號源中的任意一個電子信號源的另一部分電子信號通過第二個移相器后與剩余N-1路輸出信號中的任意一路電子輸出信號混頻，混頻時調節第二個移相器使混頻器兩個輸入端的電子信號中相同頻率的電子信號相位差為90度，形成混頻后的第二電子信號，再將混頻后的第二電子信號輸入至互相關信號處理器，得到第二通道的被測電子裝置的殘余相位噪聲測量結果，

以此類推，直到剩余最后一個電子信號源中的另一部分電子信號通過第N個移相器后與剩余最后一路輸出信號與混頻，混頻時調節第N個移相器使混頻器兩個輸入端的電子信號中相同頻率的電子信號相位差為90度，形成混頻后的第N電子信號，再將混頻后的第N電子信號輸入至互相關信號處理器，得到第N通道的被測電子裝置的殘余相位噪聲測量結果，

步驟3用互相關信號處理器對第一至第N通道的被測電子裝置的殘余相位噪聲測試結果進行互相關處理，得到互相關后的功率譜，

步驟4根據互相關后的功率譜計算出被測電子裝置最終的殘余相位噪聲。

2.一種用于實現權利要求1所述電子裝置殘余相位噪聲的檢測方法的裝置，其特征在于，包括：N個不同頻率的電子信號源、N個混頻器M₁，M₂...M_N-1，M_N及互相關信號處理器，其中至少有兩個信號源的頻率差大于0.001赫茲，N為大于1且小于10000的整數，在各個電子信號源的輸出端上分別連接有1×2功分器A₁,A₂,…,A_N-1,A_N，各個1×2功分器的第一輸出端上的輸出信號分別經移相器P₁，P₂...P_N-1，P_N移相后作為各個混頻器M₁，M₂...M_N-1，M_N的第一輸入端口的輸入信號，各個1×2功分器的第二輸出端上的輸出信號經由多路耦合器(C)耦合后形成的耦合信號作為被測電子裝置(D)的輸入信號，被測電子裝置的輸出信號經多路功分器E形成N個功分器(E)的輸出信號，各個功分器(E)的輸出信號分別與各個混頻器M₁，M₂...M_N-1，M_N的第一輸入端口的輸入信號進行配對并將配對后的各個功分器(E)的輸出信號分別作為各個混頻器M₁，M₂...M_N-1，M_N的第二輸入端口的輸入信號，各個混頻器M₁，M₂...M_N-1，M_N的輸出信號分別經低通濾波器L₁，L₂...L_N-1，L_N濾波后分別輸出至互相關信號處理器（F）的各個輸入端。