[發明專利]雙折射元件光軸的測量方法

有效

• 申請號: 201310079741.9
• 申請日: 2013-03-13
• 公開（公告）號: CN103185665A
• 公開（公告）日: 2013-07-03
• 發明（設計）人: 張書練;陳文學;談宜東
• 申請（專利權）人: 清華大學
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 深圳市鼎言知識產權代理有限公司 44311
• 代理人: 哈達

技術領域

本發明涉及一種雙折射元件光軸的測量方法。

背景技術

許多材料，如生物組織、光纖、液晶和波片等都表現出強的光學雙折射。對于這些材料來說，光軸方位影響材料的性能。對一些要求較高的儀器系統，精確測量光軸也有著迫切的需求。

許多方法被應用于光軸的測量，如偏振敏感光學相干層析術等。但以這些測量方法為基礎組成的儀器結構復雜，價格昂貴，測量精度不高，不能應用于高精度領域。

發明內容

綜上所述，確有必要提供一種價格較低、且具有高精度的測量雙折射元件光軸的測量方法。

一種雙折射元件光軸的測量方法，包括以下步驟：步驟S10，提供一雙折射元件光軸的測量裝置，包括一半外腔激光器、激光回饋單元以及一偏振態檢測系統；所述半外腔激光器包括一高反腔鏡、增益管、增透窗片以及輸出腔鏡沿半外腔激光器的輸出激光光路設置；所述激光回饋單元包括一外腔平面反射鏡，所述外腔平面反射鏡設置于從所述輸出腔鏡出射的激光的光路上，且與所述輸出腔鏡間隔設置；所述偏振態檢測系統包括一偏振片、一光電探測器以及顯示裝置沿從所述外腔平面反射鏡出射的激光依次間隔設置，所述光電探測器接收從所述偏振片出射的激光以感測激光強度的變化，所述顯示裝置顯示激光強度的變化；步驟S11，半外腔激光器連續輸出激光，模式為單縱模；步驟S12，調整所述偏振片，使所述偏振片的偏振方向與所述半外腔激光器輸出激光的初始偏振方向垂直；步驟S13，將待測雙折射元件設置于所述輸出腔鏡與所述外腔平面反射鏡之間，所述雙折射元件在沿半外腔激光器輸出激光的光路上具有相對平行的兩個平面，且所述激光沿垂直于所述兩個平面的方向入射；步驟S14，將所述雙折射元件以平行于半外腔激光器輸出激光方向的軸線為旋轉軸旋轉，并驅動所述外腔平面反射鏡沿輸出激光方向往復運動，使得所述顯示裝置出現消光狀態，所述雙折射元件的光軸與所述半外腔激光器輸出激光的初始偏振方向相同，獲得雙折射元件的光軸。

本發明所提供的雙折射元件光軸的測量方法，基于激光回饋及偏振跳變原理，通過旋轉所述雙折射元件，利用所述雙折射元件的光軸與半外腔激光器輸出激光的偏振方向相同時產生消光現象，得到雙折射元件的光軸，測量裝置結構簡單，成本較低，且具有更高的測量精度，因此具有更廣闊的應用前景。

附圖說明

圖1為本發明實施例所述雙折射元件光軸的測量裝置。

圖2為所述雙折射元件旋轉過程中的激光強度變化曲線。

圖3為雙折射元件光軸與半導體激光器輸出激光初始偏振方向一致時的激光強度變化曲線。

主要元件符號說明