[發明專利]雙折射元件光軸的測量方法

有效

• 申請號: 201310079741.9
• 申請日: 2013-03-13
• 公開（公告）號: CN103185665A
• 公開（公告）日: 2013-07-03
• 發明（設計）人: 張書練;陳文學;談宜東
• 申請（專利權）人: 清華大學
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 深圳市鼎言知識產權代理有限公司 44311
• 代理人: 哈達

1.一種雙折射元件光軸的測量方法，包括以下步驟：

步驟S10，提供一雙折射元件光軸的測量裝置，包括一半外腔激光器、激光回饋單元以及一偏振態檢測系統；

所述半外腔激光器包括一高反腔鏡、增益管、增透窗片以及輸出腔鏡沿半外腔激光器的輸出激光光路設置；

所述激光回饋單元包括一外腔平面反射鏡，所述外腔平面反射鏡設置于從所述輸出腔鏡出射的激光的光路上，且與所述輸出腔鏡間隔設置；

所述偏振態檢測系統包括一偏振片、一光電探測器以及顯示裝置沿從所述外腔平面反射鏡出射的激光依次間隔設置，所述光電探測器接收從所述偏振片出射的激光以感測激光強度的變化，所述顯示裝置顯示激光強度的變化；

步驟S11，半外腔激光器連續輸出激光，模式為單縱模；

步驟S12，調整所述偏振片，使所述偏振片的偏振方向與所述半外腔激光器輸出激光的初始偏振方向垂直；

步驟S13，將待測雙折射元件設置于所述輸出腔鏡與所述外腔平面反射鏡之間，所述雙折射元件在沿半外腔激光器輸出激光的光路上具有相對平行的兩個平面，且所述激光沿垂直于所述兩個平面的方向入射；

步驟S14，將所述雙折射元件以平行于半外腔激光器輸出激光方向的軸線為旋轉軸旋轉，并驅動所述外腔平面反射鏡沿輸出激光方向往復運動，使得所述顯示裝置出現消光狀態，所述雙折射元件的光軸與所述半外腔激光器輸出激光的初始偏振方向相同，獲得雙折射元件的光軸。

2.如權利要求1所述的雙折射元件光軸的測量方法，其特征在于，所述激光器輸出的激光沿垂直于所述兩個平面的方向入射到所述雙折射元件。

3.如權利要求1所述的雙折射元件光軸的測量方法，其特征在于，所述雙折射元件以輸出激光為旋轉軸旋轉。

4.如權利要求1所述的雙折射元件光軸的測量方法，其特征在于，通過一外腔壓電陶瓷與所述外腔平面反射鏡相連，并驅動所述外腔平面反射鏡沿所述半外腔激光器輸出激光的方向往復運動。

5.如權利要求4所述的雙折射元件光軸的測量方法，其特征在于，所述外腔壓電陶瓷輸入的電壓為三角波電壓，驅動所述外腔平面反射鏡往復運動。

6.如權利要求1所述的雙折射元件光軸的測量方法，其特征在于，所述顯示裝置顯示的波形出現消光狀態時，則所述光電探測器接收到的激光強度也為零，即顯示裝置接收到的電壓為零，則此時所述雙折射元件的光軸與所述半外腔激光器輸出激光的初始偏振方向一致。

7.如權利要求1所述的雙折射元件光軸的測量方法，其特征在于，所述雙折射元件兩個平面鍍有增透膜或折射率匹配液。

8.如權利要求1所述的雙折射元件光軸的測量方法，其特征在于，所述高反腔鏡、增益管、增透窗片、輸出腔鏡沿所述輸出激光的軸線依次設置且共軸設置。