[發(fā)明專利]快速檢驗(yàn)像素驅(qū)動(dòng)電路驅(qū)動(dòng)管閾值補(bǔ)償效果的測(cè)試電路

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310067214.6
• 申請(qǐng)日: 2013-03-04
• 公開（公告）號(hào): CN103137051A
• 公開（公告）日: 2013-06-05
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳鑫;黃輝
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 陳鑫;北京合聚信達(dá)科技有限公司
• 主分類號(hào): G09G3/00
• 分類號(hào): G09G3/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種用于快速檢驗(yàn)像素驅(qū)動(dòng)電路驅(qū)動(dòng)管閾值補(bǔ)償效果的測(cè)試電路。

背景技術(shù)

最近幾年來隨著數(shù)位咨詢和多媒體應(yīng)用不斷的增加，以及世界各大顯示器廠商的推波助瀾，而使得平面顯示器快速地深入每個(gè)家庭與個(gè)人，而人類對(duì)于高品質(zhì)的影像顯示器是非常期待的。而有機(jī)電激發(fā)光二極管顯示器（OLED）由于其重量輕、體積薄、反應(yīng)速度快、亮度高、省電、對(duì)比度高、視角廣、成本低等優(yōu)點(diǎn)備受關(guān)注。

由于OLED的各種優(yōu)點(diǎn)，它的像素驅(qū)動(dòng)電路研究便成為了熱點(diǎn)。由于每個(gè)像素驅(qū)動(dòng)電路中驅(qū)動(dòng)管由于制造偏差導(dǎo)致閾值電壓不完全相等，以及驅(qū)動(dòng)管老化而導(dǎo)致閾值電壓的偏移，會(huì)導(dǎo)致面板呈現(xiàn)顯示亮度不均勻的現(xiàn)象。所以像素驅(qū)動(dòng)電路的重點(diǎn)研究問題之一就是驅(qū)動(dòng)管老化的補(bǔ)償問題。

綜上所述，檢測(cè)一個(gè)像素驅(qū)動(dòng)電路對(duì)其驅(qū)動(dòng)管是否具有閾值補(bǔ)償作用也變得極其重要。在設(shè)計(jì)階段，通過檢測(cè)像素驅(qū)動(dòng)電路的實(shí)際補(bǔ)償效果，可以檢驗(yàn)設(shè)計(jì)，幫助設(shè)計(jì)者發(fā)現(xiàn)電路的問題，找到下一步的工作方向。在實(shí)用階段，通過檢測(cè)像素驅(qū)動(dòng)電路的實(shí)際補(bǔ)償效果，可有利于調(diào)整控制算法，減小由于閾值變化帶來的顯示缺陷。而現(xiàn)階段，對(duì)于這方面的研究還很空缺。因此，有必要進(jìn)行相關(guān)測(cè)試電路的設(shè)計(jì)，能夠快速檢測(cè)像素驅(qū)動(dòng)電路對(duì)驅(qū)動(dòng)管閾值補(bǔ)償效果。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于解決上述問題，提出了一種測(cè)試電路，該測(cè)試電路通過改變MOS管襯底電壓來快速改變閾值電壓，以達(dá)到加速老化的作用，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)快速檢測(cè)像素驅(qū)動(dòng)電路是否對(duì)驅(qū)動(dòng)管有閾值補(bǔ)償作用的目的。

本發(fā)明的上述目的是這樣實(shí)現(xiàn)的：所說的測(cè)試電路，其特征在于：測(cè)試電路輸入端口分別是電流源開關(guān)SW1、電流源開關(guān)SW2、電流源開關(guān)SW3、襯底電壓開關(guān)SW4、掃描信號(hào)SCAN、襯底電壓，輸出為反饋電壓；電路由PMOS晶體管T1、T2、M1、M2、M3和M4、電容C和三個(gè)電流源S1、S2和S3組成；電流源S1的電流大小為????????????????????????????????????????????????，是能驅(qū)動(dòng)OLED最大發(fā)光亮度的電流，S1和M1的漏極相連；電流源S2的電流大小為，m是大于1的常數(shù)，S2和M2的漏極相連；電流源S3的電流大小為，n是不等于m且大于1的常數(shù)，S3和M3的漏極相連；M1的柵極與電流源開關(guān)SW1相連，M1的源極和反饋電壓相連；M2的柵極與電流源開關(guān)SW2相連，M2的源極和反饋電壓端口相連；M3的柵極與電流源開關(guān)SW3相連，M3的源極和反饋電壓相連；T1的柵極和掃描信號(hào)SCAN相連，T1的源極和反饋電壓相連，T1的漏極與T2管的柵極、漏極以及電容C的端口2相連；T2的源極與電容C的端口1還有電源相連，T2的襯底與M4的漏極相連；M4的柵極和襯底電壓開關(guān)SW4端口相連，M4的漏極和襯底電壓相連。

附圖說明

圖1是本發(fā)明中的測(cè)試電路；

圖2是針對(duì)像素驅(qū)動(dòng)電路的測(cè)試框圖。

圖3是以4T1C電路作為像素驅(qū)動(dòng)電路時(shí)的測(cè)試框圖

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖與實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)描述。

測(cè)試電路的結(jié)構(gòu)如圖1所示。測(cè)試電路輸入端口分別是電流源開關(guān)SW1、電流源開關(guān)SW2、電流源開關(guān)SW3、襯底電壓開關(guān)SW4、掃描信號(hào)SCAN、襯底電壓，輸出為反饋電壓；電路由PMOS晶體管T1、T2、M1、M2、M3和M4、電容C和三個(gè)電流源S1、S2和S3組成；電流源S1的電流大小為，是能驅(qū)動(dòng)OLED最大發(fā)光亮度的電流，S1和M1的漏極相連；電流源S2的電流大小為，m是大于1的常數(shù)，S2和M2的漏極相連；電流源S3的電流大小為，n是不等于m且大于1的常數(shù)，S3和M3的漏極相連；M1的柵極與電流源開關(guān)SW1相連，M1的源極和反饋電壓相連；M2的柵極與電流源開關(guān)SW2相連，M2的源極和反饋電壓端口相連；M3的柵極與電流源開關(guān)SW3相連，M3的源極和反饋電壓相連；T1的柵極和掃描信號(hào)SCAN相連，T1的源極和反饋電壓相連，T1的漏極與T2管的柵極、漏極、電容C的端口2以及OLED的正極相連；OLED的負(fù)極和地相連；T2的源極與電容C的端口1還有電源相連，T2的襯底與M4的漏極相連；M4的柵極和襯底電壓開關(guān)SW4端口相連，M4的漏極和襯底電壓相連。

如圖2所示，操作模塊有一個(gè)輸入端口和兩個(gè)輸出端口，輸入端口輸入的是測(cè)試電路輸出的反饋電壓；所說的兩個(gè)輸出端口分別與測(cè)試電路的襯底電壓和像素驅(qū)動(dòng)電路的驅(qū)動(dòng)管襯底相連。

操作模塊工作的時(shí)候分兩個(gè)階段：