[發明專利]快速檢驗像素驅動電路驅動管閾值補償效果的測試電路

無效

• 申請號: 201310067214.6
• 申請日: 2013-03-04
• 公開（公告）號: CN103137051A
• 公開（公告）日: 2013-06-05
• 發明（設計）人: 陳鑫;黃輝
• 申請（專利權）人: 陳鑫;北京合聚信達科技有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種快速檢測像素驅動電路驅動管老化補償的檢測方法，使用的測試電路模塊，其特征在于：測試電路輸入端口分別是電流源開關SW1、電流源開關SW2、電流源開關SW3、襯底電壓開關SW4、掃描信號SCAN、襯底電壓端口，輸出為反饋電壓；電路由PMOS晶體管T1、T2、M1、M2、M3和M4、電容C和三個電流源S1、S2和S3組成；電流源S1的電流大小為，是能驅動OLED最大發光亮度的電流，S1和M1的漏極相連；電流源S2的電流大小為???????????????????????????????????????????????，m是大于1的常數，S2和M2的漏極相連；電流源S3的電流大小為，n是不等于m且大于1的常數，S3和M3的漏極相連；M1的柵極與電流源開關SW1相連，M1的源極和反饋電壓相連；M2的柵極與電流源開關SW2相連，M2的源極和反饋電壓端口相連；M3的柵極與電流源開關SW3相連，M3的源極和反饋電壓相連；T1的柵極和掃描信號SCAN相連，T1的源極和反饋電壓相連，T1的漏極與T2管的柵極、漏極以及電容C的端口2相連；T2的源極與電容C的端口1還有電源相連，T2的襯底與M4的漏極相連；M4的柵極和襯底電壓開關SW4端口相連，M4的漏極和襯底電壓相連。