[發明專利]通過校核字來檢查RAM的方法

有效

• 申請號: 201310064786.9
• 申請日: 2013-03-01
• 公開（公告）號: CN103885852B
• 公開（公告）日: 2017-03-15
• 發明（設計）人: 遲寶全;吳昊
• 申請（專利權）人: 上海富欣智能交通控制有限公司
• 主分類號: G06F11/10
• 分類號: G06F11/10
• 代理公司: 上海浦一知識產權代理有限公司31211
• 代理人: 孫大為

技術領域

本發明屬于軟件算法領域，用于檢查安全關鍵系統中RAM的狀況。

背景技術

在工業控制系統和安全信號系統（應用于航空電子、鐵路信號、核電等行業）中，所有用于安全數據存儲的RAM區必須保證其地址正確無誤，存儲單元能夠正常讀寫訪問。當校核字檢查錯誤時，要啟動故障管理機制，及時采取安全措施以避免更為嚴重的事故發生。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是提供一種通過校核字來檢查RAM的方法，它可以檢查是否所有用于安全數據存儲的RAM區地址正確無誤，存儲單元能夠正常讀寫訪問。

為了解決以上技術問題，本發明提供了一種通過校核字來檢查RAM的方法，包括以下步驟：計算并分配好每個檢查對象的校驗字，并將被檢查的對象與校核字相關聯；判斷RAM檢查的校核字是否正確，進而判斷RAM地址或存儲單元是否正常。

本發明的有益效果在于：可以檢查是否所有用于安全數據存儲的RAM區地址正確無誤，存儲單元能夠正常讀寫訪問。

對于每一個獨立的檢查對象，校核字是唯一分配的。

所有校核字是由α算法正運算離線生成并且離線分配的。

所有校核字的預處理值是由β算法正運算依據已分配的校核字和被檢查的對象離線生成的。

所有校核字的在線運算過程是與其離線生成過程和在線檢查過程均無關，但與校核字的預處理值有關，屬于β算法逆運算的范疇。

所有校核字的離線生成過程和在線檢查過程是與校核字分配的序號相關的，分別屬于α算法正運算和逆運算的范疇。

具體還包括以下步驟：

離線預運算階段，首先采用α算法生成用于RAM檢查的校核字，然后根據被檢查RAM區的地址，刷新常量校驗和，以及預分配的校核字，通過β算法算出該校核字對應的預處理值，該階段的運算應該離線完成；

在線運算階段，首先動態刷新RAM區，計算刷新常量校驗和，然后根據被檢查RAM區的地址，刷新常量校驗和，以及離線計算好的預處理值，通過β算法的逆運算算出該RAM區校核字；

在線檢查階段，獲得所有在線計算出的RAM校核字，然后根據α算法的逆運算檢查這些校核字的正確性，從而確定對應的RAM區是否存在故障。

附圖說明

下面結合附圖和具體實施方式對本發明作進一步詳細說明。

圖1是本發明所述通過校核字來檢查RAM的總體方法流程圖。

具體實施方式

本發明提供一種通過校核字來檢查RAM的方法，該算法能夠應用于包括但并不局限于安全信號系統、工業控制系統等領域。

本發明事先計算并分配好每個檢查對象的校驗字，并將被檢查的對象（比如地址和存儲單元）與校核字相關聯，然后在安全操作（或安全輸出）前判斷RAM檢查的校核字是否正確，進而判斷RAM地址或存儲單元是否正常。

對于每一個獨立的檢查對象（如每一塊獨立的內存區），校核字是唯一分配的；

所有校核字是由α算法正運算離線生成并且離線分配的；

所有校核字的預處理值是由β算法正運算依據已分配的校核字和被檢查的對象離線生成的；

所有校核字的在線運算過程是與其離線生成過程和在線檢查過程均無關，但與校核字的預處理值有關，屬于β算法逆運算的范疇；

所有校核字的離線生成過程和在線檢查過程是與校核字分配的序號相關的，分別屬于α算法正運算和逆運算的范疇；

根據圖1所示，該檢查方法可以分為以下三個階段。

1）離線預運算階段，首先采用α算法生成用于RAM檢查的校核字，然后根據被檢查RAM區的地址，刷新常量校驗和，以及預分配的校核字，通過β算法算出該校核字對應的預處理值，該階段的運算應該離線完成；

2）在線運算階段，首先動態刷新RAM區，計算刷新常量校驗和，然后根據被檢查RAM區的地址，刷新常量校驗和，以及離線計算好的預處理值，通過β算法的逆運算算出該RAM區校核字。

3）在線檢查階段，獲得所有在線計算出的RAM校核字，然后根據α算法的逆運算檢查這些校核字的正確性，從而確定對應的RAM區是否存在故障。

以上三個階段如果能夠從硬件上獨立，比如每個階段都采用不同的CPU來完成，則可以達到更充分的檢查目的。

相關算法說明如下：

α算法及其逆運算可表示為：

CheckWord_i=α(Seed，i)；

Seed=α^-1(CheckWord_i，i)；