[發(fā)明專利]通過校核字來檢查RAM的方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310064786.9
• 申請日: 2013-03-01
• 公開（公告）號: CN103885852B
• 公開（公告）日: 2017-03-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 遲寶全;吳昊
• 申請（專利權(quán)）人: 上海富欣智能交通控制有限公司
• 主分類號: G06F11/10
• 分類號: G06F11/10
• 代理公司: 上海浦一知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司31211
• 代理人: 孫大為

1.一種通過校核字來檢查RAM的方法，其特征在于，包括以下步驟：

計(jì)算并分配好每個(gè)檢查對象的校驗(yàn)字，并將被檢查的對象與校核字相關(guān)聯(lián)；

判斷RAM檢查的校核字是否正確，進(jìn)而判斷RAM地址或存儲單元是否正常。

2.如權(quán)利要求1所述的通過校核字來檢查RAM的方法，其特征在于，對于每一個(gè)獨(dú)立的檢查對象，校核字是唯一分配的。

3.如權(quán)利要求2所述的通過校核字來檢查RAM的方法，其特征在于，所有校核字是由α算法正運(yùn)算離線生成并且離線分配的。

4.如權(quán)利要求3所述的通過校核字來檢查RAM的方法，其特征在于，所有校核字的預(yù)處理值是由β算法正運(yùn)算依據(jù)已分配的校核字和被檢查的對象離線生成的。

5.如權(quán)利要求4所述的通過校核字來檢查RAM的方法，其特征在于，所有校核字的在線運(yùn)算過程是與其離線生成過程和在線檢查過程均無關(guān)，但與校核字的預(yù)處理值有關(guān)，屬于β算法逆運(yùn)算的范疇。

6.如權(quán)利要求5所述的通過校核字來檢查RAM的方法，其特征在于，所有校核字的離線生成過程和在線檢查過程是與校核字分配的序號相關(guān)的，分別屬于α算法正運(yùn)算和逆運(yùn)算的范疇。

7.如權(quán)利要求6所述的通過校核字來檢查RAM的方法，其特征在于，包括以下步驟：

離線預(yù)運(yùn)算階段，首先采用α算法生成用于RAM檢查的校核字，然后根據(jù)被檢查RAM區(qū)的地址，刷新常量校驗(yàn)和，以及預(yù)分配的校核字，通過β算法算出該校核字對應(yīng)的預(yù)處理值，該階段的運(yùn)算應(yīng)該離線完成；

在線運(yùn)算階段，首先動(dòng)態(tài)刷新RAM區(qū)，計(jì)算刷新常量校驗(yàn)和，然后根據(jù)被檢查RAM區(qū)的地址，刷新常量校驗(yàn)和，以及離線計(jì)算好的預(yù)處理值，通過β算法的逆運(yùn)算算出該RAM區(qū)校核字；

在線檢查階段，獲得所有在線計(jì)算出的RAM校核字，然后根據(jù)α算法的逆運(yùn)算檢查這些校核字的正確性，從而確定對應(yīng)的RAM區(qū)是否存在故障。