[發明專利]時鐘發生電路和包括時鐘發生電路的半導體裝置

有效

• 申請號: 201310057907.7
• 申請日: 2013-02-25
• 公開（公告）號: CN103516359B
• 公開（公告）日: 2018-02-06
• 發明（設計）人: 張在旻;金龍珠;權大韓;崔海郎
• 申請（專利權）人: 愛思開海力士有限公司
• 主分類號: H03L7/18
• 分類號: H03L7/18
• 代理公司: 北京弘權知識產權代理事務所(普通合伙)11363
• 代理人: 俞波,周曉雨

1.一種時鐘發生電路，包括：

延遲線，所述延遲線被配置成延遲輸入時鐘并且產生延遲時鐘；

延遲模型化塊，所述延遲模型化塊被配置成將所述延遲時鐘延遲了模型化的延遲值，并且產生反饋時鐘；

相位檢測塊，所述相位檢測塊被配置成比較所述輸入時鐘的相位與所述反饋時鐘的相位并且產生相位信息，以及量化所述輸入時鐘與所述反饋時鐘之間的相位差以產生相位碼；

多次更新信號發生塊，所述多次更新信號發生塊被配置成響應于所述相位碼而產生多次更新信號；以及

延遲線控制塊，所述延遲線控制塊被配置成響應于所述多次更新信號和所述相位信息來改變所述延遲線的延遲量，

其中，所述相位檢測塊包括：

第一相位檢測信號發生部，所述第一相位檢測信號發生部被配置成從所述輸入時鐘產生具有不同相位的多個輸入采樣時鐘，并且比較所述多個輸入采樣時鐘的相位與所述反饋時鐘的相位并產生第一相位檢測信號；

第二相位檢測信號發生部，所述第二相位檢測信號發生部被配置成從所述反饋時鐘產生具有不同相位的多個反饋采樣時鐘，并且比較所述多個反饋采樣時鐘的相位與所述輸入時鐘的相位并產生第二相位檢測信號；以及

信號組合部，所述信號組合部被配置成組合所述第一相位檢測信號與所述第二相位檢測信號，并且產生所述相位信息和所述相位碼。

2.如權利要求1所述的時鐘發生電路，其中，所述第一相位檢測信號發生部包括：

第一延遲部分，所述第一延遲部分被配置成將所述輸入時鐘延遲單位時間，并且產生延遲輸入時鐘；

第一相位混合部分，所述第一相位混合部分被配置成混合所述輸入時鐘的相位與所述延遲輸入時鐘的相位，并且產生所述多個輸入采樣時鐘；以及

第一相位比較部分，所述第一相位比較部分被配置成比較所述多個輸入采樣時鐘的相位與所述反饋時鐘的相位，并且產生所述第一相位檢測信號。

3.如權利要求2所述的時鐘發生電路，其中，所述第一相位混合部分包括：

第一相位混合器，所述第一相位混合器被配置成混合所述輸入時鐘的相位和所述延遲輸入時鐘的相位，并且在所述單位時間內產生具有第一相位的第一輸入采樣時鐘；以及

第二相位混合器，所述第二相位混合器被配置成混合所述輸入時鐘的相位和所述延遲輸入時鐘的相位，并且在所述單位時間內產生具有第二相位的第二輸入采樣時鐘。

4.如權利要求3所述的時鐘發生電路，其中，所述第一相位比較部分包括：

第一相位比較器，所述第一相位比較器被配置成比較所述第一輸入采樣時鐘和所述反饋時鐘，并且產生所述第一相位檢測信號的第一比特；以及

第二相位比較器，所述第二相位比較器被配置成比較所述第二輸入采樣時鐘和所述反饋時鐘，并且產生所述第一相位檢測信號的第二比特。

5.如權利要求1所述的時鐘發生電路，其中，所述第二相位檢測信號發生部包括：

第二延遲部分，所述第二延遲部分被配置成將所述反饋時鐘延遲單位時間，并且產生延遲反饋時鐘；

第二相位混合部分，所述第二相位混合部分被配置成混合所述反饋時鐘的相位與所述延遲反饋時鐘的相位，并且產生所述多個反饋采樣時鐘；以及

第二相位比較部分，所述第二相位比較部分被配置成比較所述多個反饋采樣時鐘的相位與所述輸入時鐘的相位，并且產生所述第二相位檢測信號。

6.如權利要求5所述的時鐘發生電路，其中，所述第二相位混合部分包括：

第三相位混合器，所述第三相位混合器被配置成混合所述反饋時鐘的相位與所述延遲反饋時鐘的相位，并且在所述單位時間內產生具有第三相位的第一反饋采樣時鐘；以及

第四相位混合器，所述第四相位混合器被配置成混合所述反饋時鐘的相位與所述延遲反饋時鐘的相位，并且在所述單位時間內產生具有第四相位的第二反饋采樣時鐘。

7.如權利要求6所述的時鐘發生電路，其中，所述第二相位比較部分包括：

第三相位比較器，所述第三相位比較器被配置成比較所述第一反饋采樣時鐘與所述輸入時鐘，并且產生所述第二相位檢測信號的第一比特；以及

第四相位比較器，所述第四相位比較器被配置成比較所述第二反饋采樣時鐘與所述輸入時鐘，并且產生所述第二相位檢測信號的第二比特。