[發(fā)明專利]半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制造方法及應(yīng)用其制成的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310056493.6 | 申請(qǐng)日: | 2013-02-21 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103137507A | 公開(公告)日: | 2013-06-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳銀發(fā);蔡宗岳;張效銓;陳燦賢;楊秉豐;賴逸少 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 日月光半導(dǎo)體制造股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/60 | 分類號(hào): | H01L21/60;H01L21/56;H01L23/48;H01L23/31 |
| 代理公司: | 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 31100 | 代理人: | 陸勍 |
| 地址: | 中國臺(tái)灣高雄市*** | 國省代碼: | 中國臺(tái)灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 結(jié)構(gòu) 制造 方法 應(yīng)用 制成 | ||
1.一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制造方法,其特征在于,包括:
提供一晶圓,其中該晶圓上形成有數(shù)個(gè)導(dǎo)電柱;
形成一底膠至少包覆各該導(dǎo)電柱的一端面;
單一化該晶圓,以形成至少一芯片,其中該芯片包括至少一該導(dǎo)電柱;
對(duì)準(zhǔn)該芯片的該導(dǎo)電柱的該端面與一載板的一電性接點(diǎn);
驅(qū)動(dòng)該芯片的該導(dǎo)電柱往該載板的該電性接點(diǎn)移動(dòng),直到該芯片的該導(dǎo)電柱的該端面接觸該載板的該電性接點(diǎn);
加熱該底膠,直到該底膠轉(zhuǎn)變成可流動(dòng)性并覆蓋該載板的該電性接點(diǎn);以及
驅(qū)動(dòng)該芯片的該導(dǎo)電柱橫向研磨該電性接點(diǎn),直到該導(dǎo)電柱與該電性接點(diǎn)之間產(chǎn)生塑性金屬流動(dòng)而結(jié)合。
2.如權(quán)利要求1所述的制造方法,其特征在于,于驅(qū)動(dòng)該芯片的該導(dǎo)電柱橫向研磨該電性接點(diǎn)的該步驟中,來回的頻率介于10Hz至60Hz之間。
3.如權(quán)利要求1所述的制造方法,其特征在于,于驅(qū)動(dòng)該芯片的該導(dǎo)電柱橫向研磨該電性接點(diǎn)的該步驟中,該導(dǎo)電柱繞該電性接點(diǎn)的一中心軸公轉(zhuǎn)的橫向位移量小于該導(dǎo)電柱外徑的三分之一。
4.如權(quán)利要求1所述的制造方法,其特征在于,于形成一底膠至少包覆各該導(dǎo)電柱的一端面的該步驟后,該制造方法更包括:
加熱該底膠,直到該底膠轉(zhuǎn)變至凝膠態(tài)。
5.如權(quán)利要求1所述的制造方法,其特征在于,于驅(qū)動(dòng)該芯片的該導(dǎo)電柱橫向研磨該電性接點(diǎn)的該步驟后,該制造方法更包括:
加熱該底膠,直到該底膠固化。
6.如權(quán)利要求1所述的制造方法,其特征在于,于驅(qū)動(dòng)該芯片的該導(dǎo)電柱橫向研磨該電性接點(diǎn)的該步驟中,所施加的壓力介于50Mpa至110Mpa之間。
7.如權(quán)利要求1所述的制造方法,其特征在于,該電性接點(diǎn)具有一端面,該電性接點(diǎn)的該端面的外徑等于或大于該導(dǎo)電柱的該端面的外徑。
8.一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其特征在于,包括:
一載板,包括一電性接點(diǎn);以及
一芯片,包括一導(dǎo)電柱,該導(dǎo)電柱與該電性接點(diǎn)結(jié)合成一體化結(jié)構(gòu),該一體化結(jié)構(gòu)具有一凸緣。
9.如權(quán)利要求8所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其特征在于,該電性接點(diǎn)的外徑等于或大于該導(dǎo)電柱的外徑,該凸緣形成于該電性接點(diǎn)的端面上。
10.如權(quán)利要求8所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其特征在于,該導(dǎo)電柱的端面弧面,該凸緣形成于該電性接點(diǎn)的端面上且位于該導(dǎo)電柱的該端面與該電性接點(diǎn)的該端面之間。
11.如權(quán)利要求8所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其特征在于,該導(dǎo)電柱及該電性接點(diǎn)由一金屬材料所組成。
12.如權(quán)利要求11所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其特征在于,該金屬材料為銅金屬。
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H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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