[發(fā)明專利]用于液晶模組的測試裝置及測試方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310046372.3 | 申請日: | 2013-02-05 |
| 公開(公告)號: | CN103091881A | 公開(公告)日: | 2013-05-08 |
| 發(fā)明(設計)人: | 黃笑宇;廖學士 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市華星光電技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | G02F1/13 | 分類號: | G02F1/13 |
| 代理公司: | 深圳市世紀恒程知識產(chǎn)權(quán)代理事務所 44287 | 代理人: | 胡海國 |
| 地址: | 518132 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 液晶 模組 測試 裝置 方法 | ||
技術(shù)領域
本發(fā)明涉及液晶模組測試技術(shù)領域,尤其涉及一種用于液晶模組的測試裝置及測試方法,以測試是否存在液晶量異常。
背景技術(shù)
薄膜晶體管液晶顯示器(Thin?Film?Transistor?Liquid?Crystal?Display,簡稱TFT-LCD)是利用液晶分子的光學各向異性和雙折射特性通過TFT開關以及訊號電壓的輸入來控制光的穿透來顯示圖像。液晶顯示面板(Panel)中,彩膜(Color?filter)基板和TFT基板通過框膠成盒在一起,兩層基板中間有間隔物(Photo?Spacer)支撐以在所述兩層基板之間形成一定間隔(Cell?gap),從而在所述兩層基板之間形成液晶填充區(qū)以填充液晶,液晶填充區(qū)內(nèi)的液晶分子在外加電場影響下改變排列方向,以控制透過彩膜基板的光量。液晶模組是指在液晶顯示面板(Panel)上組裝背光單元(Back?Light?Unit)后的成品。
當液晶顯示面板中的液晶填充量不夠,或填充時存在空氣以及其他原因,液晶顯示面板在成盒以后,將可能出現(xiàn)氣泡(Bubble),造成產(chǎn)品的異常,如圖1所示。對于液晶量的異常測試,目前的測試方法為:一是用手拍打液晶顯示面板的表面,拍打確認產(chǎn)品是否有氣泡出現(xiàn);二是使用按壓棒在液晶顯示面板的表面位置進行按壓,確認產(chǎn)品是否存在氣泡;三是用鋼球沿一圓筒鋼管從某一固定高度跌落,撞擊液晶顯示面板的表面,撞擊確認產(chǎn)品是否存在氣泡。以上對液晶量的異常測試方法均為單點靜態(tài)確認,測試的準確性不高,液晶顯示產(chǎn)品的質(zhì)量難以得到保證,容易遭受客戶投訴。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于提供一種用于液晶模組的測試裝置及測試方法,旨在提高液晶量異常測試的準確性。
為了實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供一種用于液晶模組的測試裝置,包括可在垂直方向振動的振動平臺、罩蓋及數(shù)個撞擊元件,所述罩蓋可拆卸地安裝在所述振動平臺上,并在所述振動平臺與罩蓋之間形成容置空間以用于容納待測的液晶模組及所述數(shù)個撞擊元件,所述數(shù)個撞擊元件設于所述容置空間內(nèi),用于在所述振動平臺振動時對所述待測的液晶模組的面板進行撞擊以驗證是否存在液晶量異常。
優(yōu)選地,所述撞擊元件為球狀。
優(yōu)選地,所述撞擊元件為金屬球。
優(yōu)選地,所述罩蓋包括頂壁及由所述頂壁的周緣向下延伸的側(cè)壁,在所述容置空間內(nèi)放置所述待測的液晶模組后,所述罩蓋的頂壁與所述待測的液晶模組的面板之間的距離為所述撞擊元件的高度的五倍以上。
優(yōu)選地,所述罩蓋的側(cè)壁的底端向外延伸有凸緣,所述凸緣上設有第一固定件以將所述罩蓋與所述振動平臺相固定,所述罩蓋的側(cè)壁上于靠近其底端的位置設有第二固定件以用于將所述待測的液晶模組與所述罩蓋相固定。
本發(fā)明還提供一種用于液晶模組的測試方法,包括如下步驟:
提供測試裝置及待測的液晶模組,所述測試裝置包括可在垂直方向振動的振動平臺、罩蓋及數(shù)個撞擊元件;
將所述待測的液晶模組平放于所述振動平臺上,并使所述待測的液晶模組的面板朝上;
將所述數(shù)個撞擊元件放置在所述待測的液晶模組的面板上;
將所述罩蓋固設于所述振動平臺上,并將所述數(shù)個撞擊元件及待測的液晶模組罩設于所述罩蓋內(nèi);
啟動所述振動平臺,所述振動平臺帶動所述待測的液晶模組在垂直方向上振動,所述待測的液晶模組的振動傳導至所述數(shù)個撞擊元件,使所述數(shù)個撞擊元件彈起后落下,對所述待測的液晶模組的面板進行撞擊;
停止所述振動平臺,取出經(jīng)撞擊后的液晶模組。
優(yōu)選地,所述用于液晶模組的測試方法還包括:
在所述將所述待測的液晶模組平放于所述振動平臺上的步驟之前,對所述待測的液晶模組的面板的進行畫面初始檢查,獲取初始檢查結(jié)果;
在所述停止所述振動平臺,取出經(jīng)撞擊后的液晶模組的步驟之后,對所述經(jīng)撞擊后的液晶模組的面板的進行畫面再次檢查,獲取再次檢查結(jié)果并與初始檢查結(jié)果進行對比,以判斷是否存在液晶量異常。
優(yōu)選地,所述將所述罩蓋固設于所述振動平臺上,并將所述數(shù)個撞擊元件及待測的液晶模組罩設于所述罩蓋內(nèi)的步驟中,將所述罩蓋的頂壁與所述待測的液晶模組的面板之間的距離設置為所述撞擊元件的高度的五倍以上。
優(yōu)選地,所述撞擊元件選用球狀物。
優(yōu)選地,所述撞擊元件選用金屬球。
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G02F 用于控制光的強度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如轉(zhuǎn)換、選通、調(diào)制或解調(diào),上述器件或裝置的光學操作是通過改變器件或裝置的介質(zhì)的光學性質(zhì)來修改的;用于上述操作的技術(shù)或工藝;變頻;非線性光學;光學
G02F1-00 控制來自獨立光源的光的強度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如,轉(zhuǎn)換、選通或調(diào)制;非線性光學
G02F1-01 .對強度、相位、偏振或顏色的控制
G02F1-29 .用于光束的位置或方向的控制,即偏轉(zhuǎn)
G02F1-35 .非線性光學
G02F1-355 ..以所用材料為特征的
G02F1-365 ..在光波導結(jié)構(gòu)中的





