[發明專利]偏振光的檢測方法

有效

• 申請號: 201310042255.X
• 申請日: 2013-02-04
• 公開（公告）號: CN103968948A
• 公開（公告）日: 2014-08-06
• 發明（設計）人: 劉軍庫;李關紅;李群慶;范守善
• 申請（專利權）人: 清華大學;鴻富錦精密工業（深圳）有限公司
• 主分類號: G01J4/04
• 分類號: G01J4/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種偏振光的檢測方法，其包括以下具體步驟：

a) 提供一偏振光檢測系統，其包括一光敏電阻、一電源及一檢測裝置，所述光敏電阻、電源和檢測裝置通過導線電連接形成一電流回路，所述光敏電阻包括一第一電極層和一光敏材料層，所述檢測裝置包括一電流檢測元件及一計算機分析系統；

b) 將一待測光照射到所述光敏電阻的第一電極層的表面；

c) 利用所述光敏電阻對該待測光進行偏振識別；

d) 利用所述電流檢測元件檢測步驟c中的電流變化；以及

e) 利用所述計算機分析系統分析得到該待測光的偏振信息。

2.如權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述光敏電阻進一步包括一第二電極層，所述第一電極層、光敏材料層和第二電極層層疊設置，構成一三明治結構，所述第一電極層和第二電極層分別設置于所述光敏材料層相對的兩個表面上，且分別與所述光敏材料層電接觸。

3.如權利要求2所述的檢測方法，其特征在于，所述第一電極層包括一第一碳納米管薄膜結構，所述第一碳納米管薄膜結構包括多個均勻分布的碳納米管，所述多個碳納米管沿同一方向擇優取向排列。

4.如權利要求3所述的檢測方法，其特征在于，所述第一碳納米管薄膜結構包括至少一碳納米管拉膜，所述碳納米管拉膜包括多個沿同一方向擇優取向排列的碳納米管，且相鄰的兩個碳納米管之間通過范德華力相連。

5.如權利要求4所述的檢測方法，其特征在于，所述碳納米管拉膜的透光率在80%~90%之間。

6.如權利要求2所述的檢測方法，其特征在于，所述第二電極層包括一第二碳納米管薄膜結構。

7.如權利要求2所述的檢測方法，其特征在于，所述第二電極層包括一金屬薄膜。

8.如權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述光敏材料層的厚度在5微米~500微米之間。

9.如權利要求3所述的檢測方法，其特征在于，所述光敏電阻進一步包括相互間隔設置的第一引出電極及第二引出電極，所述第一引出電極與所述第一電極層電連接，所述第二引出電極與所述第二電極層電連接。

10.如權利要求9所述的檢測方法，其特征在于，所述第一引出電極設置于所述第一電極層沿著所述碳納米管擇優取向排列的方向的一端。

11.如權利要求9所述的檢測方法，其特征在于，所述第二引出電極設置于所述第二電極層沿著所述碳納米管擇優取向排列的方向的一端。

12.如權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，步驟c中，所述利用所述光敏電阻對該待測光進行偏振識別，是指通過調整該待測光的發光源與所述光敏電阻的方位關系，使該待測光透過所述第一電極層照射到所述光敏材料層上。