[發明專利]X射線熒光分析的α系數測定方法

有效

• 申請號: 201310036201.2
• 申請日: 2013-01-30
• 公開（公告）號: CN103969273A
• 公開（公告）日: 2014-08-06
• 發明（設計）人: 馬振珠;劉玉兵;戴平;諸葛順金;趙鷹立;閆冉;韓蔚
• 申請（專利權）人: 中國建材檢驗認證集團股份有限公司
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223
• 代理公司: 北京鼎佳達知識產權代理事務所(普通合伙) 11348
• 代理人: 王偉鋒;劉鐵生

1.一種X射線熒光分析的α系數測定方法，其特征在于，包括：

選取標準樣品S，該標準樣品中至少含有成份P與成份Q；

向(1-y_p)質量份的標準樣品S中加入y_p質量份的成份P的純基準化學物質，制備n個P系列標準樣品，n大于等于3，將上述P系列標準樣品制備成玻璃熔片后，分別進行X射線熒光強度測量；得到各P系列標準樣品中成份P的射線熒光強度，分別為I_pp1、I_pp2、…、I_ppn，所述各P系列標準樣品中：加入的成份P的質量份為y_pp1、y_pp2、…、y_ppn，成份P的質量分數為C_pp1、C_pp2、…、C_ppn；

令，C=Cpp1Cpp2···Cppn,]]>K=K1K2,]]>X=Ipp1Ypp1*Ipp1Ipp2Ypp2*Ipp2······IppnYppn*Ippn,]]>

通過公式K=(X^TX)^-1X^TC，計算得到K1和K2；

向質量份為(1-y_q)的標準樣品S中加入質量份為y_q的成份Q的純基準化學物質，制備m個Q系列標準樣品，m大于等于3，將上述Q系列標準樣品制備成玻璃熔片后，分別進行X射線熒光強度測量；得到各Q系列標準樣品中成份P的射線熒光強度，分別為I_pq1、I_pq2、…、I_pqm，所述各Q系列標準樣品中：加入的成份Q的質量份為y_pq1、y_pq2、…、y_pqm，成份P的質量分數為C_pq1、C_pq2、…、C_pqm；

令，C,=Cpq1Cpq2···Cpqm,]]>K,=K3K4,]]>X,=Ipq1Ypq1*Ipq1Ipq2Ypq2*Ipq2······IpqmYpqm*Ipqm,]]>

通過公式K′=(X′^TX′)^-1X′^TC′，計算得到K3和K4；

則X射線熒光分析中成份Q對成份P的α系數α_p,q由下述公式計算得到：

α_p,q=(K1*K4-K2*K3)/(K1*K3+K2*K3)。