[發(fā)明專利]一種通過GPIB接口實時生成多維變量密碼方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310034996.3
• 申請日: 2011-01-27
• 公開（公告）號: CN103165405A
• 公開（公告）日: 2013-06-19
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張琳;王慧;肖鋼;吉國凡;石志剛;金蘭;佘博文;孫昕
• 申請（專利權(quán)）人: 北京確安科技股份有限公司
• 主分類號: H01L21/00
• 分類號: H01L21/00;G01R31/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種在集成電路晶圓測試過程中實現(xiàn)多維變量密碼并行寫入的方法，該方法密碼生成實時高效，密碼寫入準(zhǔn)確安全，并且保證寫入每一個被測芯片的密碼數(shù)據(jù)是唯一的和可追溯的，屬于集成電路測試技術(shù)領(lǐng)域。?

背景技術(shù)

隨著計算機(jī)和通訊網(wǎng)絡(luò)的普及延伸，確保信息安全的需求越來越重要！利用集成電路芯片(IC?Chip)保證信息安全已經(jīng)從概念趨于成熟，這樣的芯片我們稱為信息安全芯片。為了實現(xiàn)信息安全芯片的安全應(yīng)用和可追溯性，芯片供應(yīng)商需要在自己提供的每一顆芯片內(nèi)寫入唯一的識別碼，也可以稱為密碼。對于不同的芯片供應(yīng)商或者芯片在不同的應(yīng)用領(lǐng)域中所使用的加密算法和密碼數(shù)據(jù)格式都不相同，造成密碼數(shù)據(jù)的生成和寫入方法非常復(fù)雜，傳統(tǒng)的生成和寫入密碼的方法可靠性差，效率極低，完全不能滿足信息安全芯片大量應(yīng)用的需求。?

在申請?zhí)?專利號：200710175583的中國專利申請中，公開了一種自動下載集成電路序列號碼的方法，包括了如下步驟：(1)在集成電路芯片的測試過程中采集每個芯片與集成電路序列號碼有關(guān)的信息；(2)按照預(yù)定的編碼方式，將與集成電路序列號碼有關(guān)的信息轉(zhuǎn)換成預(yù)定格式的集成電路序列號碼；(3)將集成電路序列號碼下載到集成電路芯片內(nèi)部存儲器中的指定區(qū)域；(4)檢查下載的集成電路序列號碼的準(zhǔn)確性和唯一性。利用這一方法，可以在同一個操作流程中完成芯片測試和序列號碼下載，減少了操作環(huán)節(jié)，節(jié)省了芯片的測試時間。?

本發(fā)明相比申請?zhí)?專利號：200710175583的中國專利申請中公開的一種自動下載集成電路序列號碼的方法不同之處：?

1.本發(fā)明實現(xiàn)了在集成電路晶圓測試過程中同時對多個被測芯片密碼數(shù)據(jù)的實時生成和并行寫入，大大提高了密碼數(shù)據(jù)實時生成和寫?入的效率。?

2.本發(fā)明人通過分析信息安全芯片晶圓級量產(chǎn)測試的特點，在密碼生成方法中引入與芯片測試相關(guān)的多維變量，保證了安全密碼的唯一性和可追溯性。?

3.本發(fā)明提出的基于位置信息的多維變量采集，不受探針卡排列方式和測試順序的影響，更加靈活可靠。?

4.本發(fā)明可以在集成電路自動測試設(shè)備(ATE，Auto?Test?Equipment)和全自動探針臺上組合使用，從而提高了安全密碼實時生成和寫入的自動化程度，與單芯片操作相比，效率成倍提升。?

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種在集成電路晶圓測試過程中實現(xiàn)多維變量密碼并行寫入方法。該方法指出：在晶圓并行測試的同時采集一組被測管芯的多維變量信息，將該組中每一個合格管芯的多維變量帶入規(guī)定的加密算法，生成該組管芯的多維變量密碼數(shù)據(jù)序列，然后將該密碼數(shù)據(jù)序列轉(zhuǎn)換成測試機(jī)規(guī)定格式的測試圖形(Test?Pattern)，在測試機(jī)上運(yùn)行該測試圖形，將生成的密碼并行地寫入該組中每一個合格管芯內(nèi)部存儲器的指定區(qū)域。?

業(yè)內(nèi)人士都知道，自動測試設(shè)備是用于檢測集成電路芯片產(chǎn)品質(zhì)量、評定產(chǎn)品性能和驗證產(chǎn)品功能的。集成電路測試設(shè)備運(yùn)行被測芯片(DUT，Device?Under?Test)的專用測試程序，依據(jù)集成電路的測試方法和測試條件，對每一管芯的輸入引腳施加規(guī)定的電壓或時序波形，測試輸出引腳的功能、電壓、電流，記錄測試結(jié)果，并根據(jù)測試規(guī)范設(shè)定的合格范圍判定該芯片的性能是否符合要求。?

全自動探針臺是集成電路在晶圓(Wafer)形態(tài)時進(jìn)行測試的核心設(shè)備，其主要作用是完成集成電路晶圓的自動拾取、定位和測試連接，保證晶圓上的每一顆管芯都能被測試，記錄每個被測管芯的合格/失效信息，同時記?錄晶圓的制造批號、晶圓編號、每一管芯在晶圓上的坐標(biāo)值和測試時間等參數(shù)，在本發(fā)明中稱之為多維變量。?

本發(fā)明人注意到高端ATE和全自動探針臺都具有并行測試能力，可以實現(xiàn)多個管芯的并行測試和數(shù)據(jù)采集；據(jù)此發(fā)明了在晶圓測試過程中實現(xiàn)多維變量密碼并行寫入的方法。?

應(yīng)用本方法可以在信息安全芯片的晶圓級測試時，實時生成管芯的安全密碼，然后通過全自動測試系統(tǒng)和全自動探針臺并行地寫入每一個測試合格的信息安全芯片管芯中。?