[發(fā)明專利]一種多孔硅基CdS量子點(diǎn)復(fù)合材料的制備方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310034810.4 | 申請(qǐng)日: | 2013-01-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103087710A | 公開(公告)日: | 2013-05-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 馬文會(huì);李紹元;魏奎先;周陽;謝克強(qiáng);伍繼君;龍萍;徐寶強(qiáng);劉大春;楊斌;戴永年 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 昆明理工大學(xué) |
| 主分類號(hào): | C09K11/59 | 分類號(hào): | C09K11/59;C25F3/12 |
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| 地址: | 650093 云*** | 國(guó)省代碼: | 云南;53 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 多孔 cds 量子 復(fù)合材料 制備 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種發(fā)光復(fù)合材料,具體說是一種CdS量子點(diǎn)修飾的多孔硅復(fù)合材料的制備方法。
背景技術(shù)
21世紀(jì)是高度信息化的時(shí)代,微電子信息處理的速度得到迅速的發(fā)展但逐步趨向極限。要使信息處理的速度有所突破,光電集成是必由之路。眾所周知,在微電子領(lǐng)域,硅材料發(fā)揮著廣泛而重要的作用,是集成電路的基礎(chǔ)材料。但是,室溫下硅的禁帶寬度為1.12eV,是間接帶隙半導(dǎo)體,電子不能直接由導(dǎo)帶底躍遷到價(jià)帶頂發(fā)出光子,且相應(yīng)的發(fā)光波長(zhǎng)為1.141μm,所以在近紅外區(qū),硅材料在光電子學(xué)領(lǐng)域中的應(yīng)用受到一定的限制。自從1990年英國(guó)科學(xué)家Canham?L.?T.發(fā)現(xiàn)了多孔硅的可見光致發(fā)光性能,從此多孔硅成為發(fā)光材料科學(xué)領(lǐng)域研究的新熱點(diǎn)。人們希望以高速發(fā)展的微電子技術(shù)為基礎(chǔ),在相同的半導(dǎo)體材料上同時(shí)將電路和光路集成在一起,實(shí)現(xiàn)光電子器件更為廣泛的運(yùn)用。多孔硅的發(fā)光問題研究經(jīng)歷了十余年,無論在基礎(chǔ)研究方面還是在潛在的器件應(yīng)用方面都取得了很大的進(jìn)步,但是目前制備出的多孔硅的存在的問題還很多,比如穩(wěn)定性差,器件壽命短,發(fā)光效率低以及結(jié)構(gòu)的機(jī)械性能強(qiáng)度低等,所以提高多孔硅的發(fā)光效率以及改善多孔硅的發(fā)光穩(wěn)定性顯得尤為必要。
近年來,CdS發(fā)光量子點(diǎn)由于其獨(dú)特的量子尺寸效應(yīng)和光穩(wěn)定性在光學(xué)生物標(biāo)記傳感、太陽能電池、發(fā)光器件等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用前景而受到持續(xù)的關(guān)注。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種多孔硅基CdS量子點(diǎn)復(fù)合材料的制備方法,采用陽極腐蝕法制備多孔硅,并在多孔硅表面嫁接對(duì)鎘離子具有螯合功能的官能團(tuán),在含硫氣氛中將鎘離子作用生成CdS量子點(diǎn),以制備出具有發(fā)光特性的孔硅基/CdS量子點(diǎn)復(fù)合材料。
本發(fā)明通過下列技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):一種多孔硅基CdS量子點(diǎn)復(fù)合材料的制備方法,經(jīng)過下列各步驟:
(1)硅片的預(yù)處理:將硅片依次分別用乙醇、去離子水超聲清洗1~20分鐘,之后用質(zhì)量濃度為5%~40%的氫氟酸溶液浸泡1~10分鐘;
(2)腐蝕液的配制:將去離子水、無水乙醇、質(zhì)量濃度為5%~60%的氫氟酸溶液按體積比(0.5~2):(1~10):(0.5~5)混合配制得到腐蝕液;
(3)電化學(xué)腐蝕得到多孔硅:將步驟(1)預(yù)處理后的硅片作為陽極放入步驟(2)所得腐蝕液中,將鉑片作為負(fù)極,對(duì)其施加腐蝕電流5~100mA/cm2進(jìn)行腐蝕5~80min,得到多孔硅,具有光致發(fā)光特性且其孔徑為納米至微米量級(jí);
(4)清洗多孔硅片:將步驟(3)所得多孔硅依次分別置于無水乙醇、去離子水中進(jìn)行超聲清洗1~30分鐘;
(5)表面氧化處理:將步驟(4)洗凈的多孔硅片置于溫度為100~300℃下處理0.5~3小時(shí)或者在低壓汞燈下照射0.5~4小時(shí),以在其表面引入硅羥基;
(6)巰基嫁接:按配體和甲苯的體積比為0.5~5:10~100配制混合溶液,將步驟(5)得到的多孔硅片浸入混合溶液中,在攪拌條件下以30~120℃的條件下反應(yīng)4~48小時(shí),最后將多孔硅片依次分別在甲苯、乙醇和去離子水中進(jìn)行超聲波清洗1~10min后,再用N2氣吹干備用;
(7)鎘離子螯合:先配制濃度為10-7~10-2mol/L的含鎘離子溶液,再在螯合介質(zhì)中,將步驟(6)已巰基功能化的多孔硅浸入含鎘離子溶液中1~60min,以使其與鎘離子的螯合;
(8)CdS量子點(diǎn)的形成:將步驟(7)螯合有鎘離子的多孔硅片用水或乙醇清洗、干燥后,置于硫化氫和氮?dú)獾幕旌蠚夥罩校?0~500℃下反應(yīng)0.5~5小時(shí),即得到多孔硅基CdS量子點(diǎn)復(fù)合材料。
所得多孔硅基CdS量子點(diǎn)復(fù)合材料的測(cè)試:激發(fā)光源波長(zhǎng)在300~400nm之間,復(fù)合材料發(fā)光的范圍屬于可見光期間350~700nm之間,發(fā)光形式為熒光發(fā)光和光致冷發(fā)光兩種。
本發(fā)明的多孔硅基/CdS量子點(diǎn)復(fù)合材料,是采用陽極腐蝕法制備多孔硅,并在多孔硅表面嫁接對(duì)鎘離子具有螯合功能的官能團(tuán),在含硫氣氛中將鎘離子作用生成CdS量子點(diǎn)以制備出具有發(fā)光特性的孔硅基/CdS量子點(diǎn)復(fù)合材料。
所述步驟(1)的硅片為N型或者P型硅片,其電阻率為0.01~20Ω·cm。
所述步驟(6)的配體為3-巰基三乙氧基硅烷、3-巰基三甲氧基硅烷、甲基丙烯酸縮水甘油酯、苯并咪唑及其衍生物、羧甲基環(huán)、聚二氨苯硫酚、8-羥基喹啉、蘇氨酸。
所述步驟(7)的含鎘離子溶液為醋酸鎘、硝酸鎘、氯化鎘、硫酸鎘、二甲基鎘、碳酸鎘的水溶液。
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C09K 不包含在其他類目中的各種應(yīng)用材料;不包含在其他類目中的材料的各種應(yīng)用
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