[發明專利]一種電阻抗成像的檢測設計方法無效
| 申請號： | 201310030888.9 | 申請日： | 2013-01-25 |
| 公開（公告）號： | CN104287730A | 公開（公告）日： | 2015-01-21 |
| 發明（設計）人： | 周明勇;柳重堪 | 申請（專利權）人： | 周明勇 |
| 主分類號： | A61B5/053 | 分類號： | A61B5/053;G01N27/02 |
| 代理公司： | 北京遠大卓悅知識產權代理事務所(普通合伙) 11369 | 代理人： | 李韻 |
| 地址： | 廣西壯族自*** | 國省代碼： | 廣西;45 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 阻抗 成像 檢測 設計 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種基于電阻抗成像的檢測設計方法，特定的嵌入式計算機系統，包括多通路A/D轉換接口電路，CPU微處理器和顯示電路，其特征在于，還包括于所述特定的嵌入式計算機系統連接的用于同時輸入的置于物體表面的傳感器陣列分布。
2.根據權利要求1所述的電阻抗成像的檢測設計方法，其特征在于，所述傳感器中所有傳感器均勻分布于三維物體表面。
3.根據權利要求1所述的電阻抗成像的檢測設計方法，其特征在于，所述傳感器中，根據檢測物體內部分辨率的需要，有的傳感器在特定的位置布置為更加緊密。
4.根據權利要求1所述的電阻抗成像的檢測設計方法，其特征在于，所述傳感器中，根據檢測物體內部分辨率的需要，有的傳感器在特定的位置布置為更加稀疏。
5.根據權利要求1所述的電阻抗成像的檢測設計方法，其特征在于，測量物體表面傳感器上的電流值和電壓值。
6.根據權利要求5所述的電阻抗成像的檢測設計方法，其特征在于，在測量物體表面電壓值和電流值的基礎上，通過特定的數值計算方法，獲取內部成像結果。
7.根據權利要求6所述的電阻抗成像的檢測設計方法，其特征在于，通過獲取電壓和電流值的高階譜的自相關矩陣分析的設計方法。
8.根據權利要求6所述的電阻抗成像的檢測設計方法，其特征在于，通過獲取電壓和電流值的反問題求解的數值計算方法和反問題求解的算法設計。
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