[發明專利]芯片頻率的測試方法、裝置及系統

有效

• 申請號: 201310027030.7
• 申請日: 2013-01-18
• 公開（公告）號: CN103116069A
• 公開（公告）日: 2013-05-22
• 發明（設計）人: 鄭虹;白利;李國棟
• 申請（專利權）人: 深圳市海思半導體有限公司
• 主分類號: G01R23/02
• 分類號: G01R23/02
• 代理公司: 北京中博世達專利商標代理有限公司 11274
• 代理人: 申健

技術領域

本發明涉及電學領域，尤其涉及一種芯片頻率的測試方法、裝置及系統。

背景技術

芯片的頻率測試是指根據芯片自身功能正常運行時的最高頻率對芯片產品進行分類的過程。隨著深亞納米制造工藝的發展，由生產制造缺陷所引起的芯片性能偏差越來越大。一般來說，高性能芯片在生產出來之后，到用戶手中之前，都需要對芯片的頻率進行測試，即按照不同的芯片功能頻率，對芯片進行評定和分組，并對芯片的價格進行劃分：頻率高的，市場價格也高；頻率低的，市場價格也低一些。綜上所述，頻率測試將對芯片標定不同的工作頻率，針對不同運行環境選擇相應頻率的芯片，從而降低芯片成本。

芯片出現不同頻率，通常是由芯片的線延遲和門延遲在實際生產環境下會有略微的差異造成的。發明人在實現本發明的過程中發現，傳統方法上，芯片頻率的評定和分組是通過板級系統上對芯片進行測試完成的，但是基于板級系統的測試方法比較復雜，而且在測試的過程中需要人為介入，降低了測試結果的可靠性。另外，該方法用于大規模芯片頻率測試時的成本很高，進而提高了芯片的生產成本。

發明內容

本發明所要解決的技術問題在于提供一種芯片頻率的測試方法、裝置及系統，能夠提高芯片頻率的測試結果的可靠性，并且降低芯片的生產成本。

為解決上述技術問題，本發明芯片頻率的測試方法采用如下技術方案：

獲取與芯片的各測試路徑對應的各個功能測試向量，所述測試路徑包括關鍵路徑和有效路徑；

將各個所述功能測試向量的格式轉換為自動測試儀器支持的格式；

將轉換后的各個所述功能測試向量存儲入所述芯片或板級系統的內存中，以使所述自動測試儀器運行存儲于所述芯片或板級系統的內存中的各個所述功能測試向量并獲得所述芯片在分別運行各個所述功能測試向量時的各最高頻率。

在本發明實施例的技術方案中，提出了一種芯片頻率的測試方法，通過使用該方法，可轉變芯片頻率的測試方法，使得原先只能在板級系統上完成的頻率測試方法可在自動測試儀器上完成，由于自動測試儀器的測試全過程無需人為干預，提高了芯片頻率的測試結果的可靠性，減少了對芯片頻率的測試結果的誤測幾率，進而降低了芯片的生產成本。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發明實施例中芯片頻率的測試方法流程圖一；

圖2為本發明實施例中獲取功能測試向量的方法流程圖；

圖3為本發明實施例中芯片頻率的測試方法流程圖二；

圖4為本發明實施例中芯片頻率的測試裝置結構圖；

圖5為本發明實施例中芯片頻率的測試系統結構圖。

具體實施方式

下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明保護的范圍。

實施例一

本發明實施例提供一種芯片頻率的測試方法，如圖1所示，該方法包括：

步驟S101、獲取與芯片的各測試路徑對應的各個功能測試向量，所述測試路徑包括關鍵路徑和有效路徑；

測試向量的一個基本定義是：測試向量是每個時鐘周期應用于器件管腳的用于測試或者操作的邏輯1和邏輯0數據。邏輯1和邏輯0是由帶定時特性和電平特性的波形代表的，與波形形狀、脈沖寬度、脈沖邊緣或斜率以及上升沿和下降沿的位置都有關系。在自動測試語言中，這些波形是通過上升沿、下降沿以及器件管腳對建立時間和保持時間的要求的這種格式化描述方式表示的。

根據測試向量的不同，可以分為功能測試向量和結構測試向量兩種。