[發(fā)明專利]芯片頻率的測(cè)試方法、裝置及系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310027030.7
• 申請(qǐng)日: 2013-01-18
• 公開（公告）號(hào): CN103116069A
• 公開（公告）日: 2013-05-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 鄭虹;白利;李國(guó)棟
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市海思半導(dǎo)體有限公司
• 主分類號(hào): G01R23/02
• 分類號(hào): G01R23/02
• 代理公司: 北京中博世達(dá)專利商標(biāo)代理有限公司 11274
• 代理人: 申健

1.一種芯片頻率的測(cè)試方法，其特征在于，包括：

獲取與芯片的各測(cè)試路徑對(duì)應(yīng)的各個(gè)功能測(cè)試向量，所述測(cè)試路徑包括關(guān)鍵路徑和有效路徑；

將各個(gè)所述功能測(cè)試向量的格式轉(zhuǎn)換為自動(dòng)測(cè)試儀器支持的格式；

將轉(zhuǎn)換后的各個(gè)所述功能測(cè)試向量存儲(chǔ)入所述芯片或板級(jí)系統(tǒng)的內(nèi)存中，以使所述自動(dòng)測(cè)試儀器運(yùn)行存儲(chǔ)于所述芯片或板級(jí)系統(tǒng)的內(nèi)存中的各個(gè)所述功能測(cè)試向量并獲得所述芯片在分別運(yùn)行各個(gè)所述功能測(cè)試向量時(shí)的各最高頻率。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在所述獲取與芯片的各有效路徑對(duì)應(yīng)的各個(gè)功能測(cè)試向量之后，還包括：

根據(jù)板級(jí)系統(tǒng)獲取的各個(gè)所述功能測(cè)試向量與各自對(duì)應(yīng)的應(yīng)用程序的比對(duì)結(jié)果，去除無效的功能測(cè)試向量。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，在所述獲取與芯片的各有效路徑對(duì)應(yīng)的各功能測(cè)試向量之后，還包括：

板級(jí)系統(tǒng)篩選各個(gè)所述功能測(cè)試向量，并從各個(gè)所述功能測(cè)試向量中篩除覆蓋的有效路徑相同的、覆蓋的路徑非有效路徑的功能測(cè)試向量。

4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，在所述將各個(gè)所述功能測(cè)試向量的格式轉(zhuǎn)換為自動(dòng)測(cè)試儀器支持的格式之后，在所述將轉(zhuǎn)換后的各個(gè)所述功能測(cè)試向量存儲(chǔ)入所述芯片的內(nèi)存中之前，還包括：

將轉(zhuǎn)換后的各個(gè)所述功能測(cè)試向量分為至少一個(gè)功能測(cè)試向量組，所述功能測(cè)試向量組內(nèi)的功能測(cè)試向量所占用的內(nèi)存空間的總和小于或等于所述芯片的內(nèi)存空間。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述將轉(zhuǎn)換后的各個(gè)所述功能測(cè)試向量存儲(chǔ)入所述芯片的內(nèi)存包括：

以組為單位，將轉(zhuǎn)換后的各個(gè)所述功能測(cè)試向量存儲(chǔ)入所述芯片的內(nèi)存。

6.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述獲取與芯片的各測(cè)試路徑對(duì)應(yīng)的各功能測(cè)試向量包括：

根據(jù)對(duì)所述芯片靜態(tài)時(shí)序分析的結(jié)果，選出所述芯片的關(guān)鍵路徑，并獲取與所述關(guān)鍵路徑對(duì)應(yīng)的功能測(cè)試向量。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述獲取與芯片的各測(cè)試路徑對(duì)應(yīng)的各功能測(cè)試向量還包括：

獲取所述芯片上的多條有效路徑，所述多條有效路徑均勻分布在所述芯片上，并獲取與所述多條有效路徑各自對(duì)應(yīng)的功能測(cè)試向量。

8.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的方法，其特征在于，所述獲取與芯片的各測(cè)試路徑對(duì)應(yīng)的各功能測(cè)試向量還包括：

獲取使得所述芯片運(yùn)行時(shí)功耗最大的功能測(cè)試向量。

9.一種芯片頻率的測(cè)試裝置，其特征在于，包括：

獲取單元，用于獲取與芯片的各測(cè)試路徑對(duì)應(yīng)的各個(gè)功能測(cè)試向量，所述測(cè)試路徑包括關(guān)鍵路徑和有效路徑；

轉(zhuǎn)換單元，用于將各個(gè)所述功能測(cè)試向量的格式轉(zhuǎn)換為自動(dòng)測(cè)試儀器支持的格式；

存儲(chǔ)單元，用于將轉(zhuǎn)換后的各個(gè)所述功能測(cè)試向量存儲(chǔ)入所述芯片或板級(jí)系統(tǒng)的內(nèi)存中，以使所述自動(dòng)測(cè)試儀器運(yùn)行存儲(chǔ)于所述芯片或板級(jí)系統(tǒng)的內(nèi)存中的各個(gè)所述功能測(cè)試向量并獲得所述芯片在分別運(yùn)行各個(gè)所述功能測(cè)試向量時(shí)的各最高頻率。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于，

所述獲取單元還用于根據(jù)板級(jí)系統(tǒng)獲取的各個(gè)所述功能測(cè)試向量與各自對(duì)應(yīng)的應(yīng)用程序的比對(duì)結(jié)果，去除無效的功能測(cè)試向量。

11.根據(jù)權(quán)利要求9或10所述的裝置，其特征在于，還包括：

分組單元，用于將各個(gè)所述功能測(cè)試向量分為至少一個(gè)功能測(cè)試向量組，所述功能測(cè)試向量組內(nèi)的功能測(cè)試向量所占用的內(nèi)存空間的總和小于或等于所述芯片的內(nèi)存空間。

12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，其特征在于，

所述存儲(chǔ)單元具體用于以組為單位，將轉(zhuǎn)換后的各個(gè)所述功能測(cè)試向量存儲(chǔ)入所述芯片的內(nèi)存。

13.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于，

所述獲取單元具體用于根據(jù)對(duì)所述芯片靜態(tài)時(shí)序分析的結(jié)果，選出所述芯片的關(guān)鍵路徑，并獲取與所述關(guān)鍵路徑對(duì)應(yīng)的功能測(cè)試向量。

14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的裝置，其特征在于，

所述獲取單元還具體用于獲取所述芯片上的多條有效路徑，所述多條有效路徑均勻分布在所述芯片上；獲取與所述各有效路徑對(duì)應(yīng)的各個(gè)所述功能測(cè)試向量。