[發明專利]一種對光纖陣列或芯片進行角度測量的裝置及方法有效
| 申請號: | 201310026563.3 | 申請日: | 2013-01-18 |
| 公開(公告)號: | CN103105282A | 公開(公告)日: | 2013-05-15 |
| 發明(設計)人: | 錢建林;徐虎;周慶紅;孫權;趙關寶;陳立堅 | 申請(專利權)人: | 上海亨通宏普通信技術有限公司;江蘇亨通光電股份有限公司 |
| 主分類號: | G01M11/00 | 分類號: | G01M11/00 |
| 代理公司: | 北京宇生知識產權代理事務所(普通合伙) 11116 | 代理人: | 倪駿;莊益利 |
| 地址: | 201400 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 光纖 陣列 芯片 進行 角度 測量 裝置 方法 | ||
技術領域
本發明涉及光纖陣列或芯片測量技術領域,尤其是涉及一種對光纖陣列或芯片進行角度測量的裝置及方法。
背景技術
平面光波導PLC光分路器是FTTX網絡的關鍵元器件,FTTX網絡是通信運營商應對激烈的市場競爭,擺脫銅纜接入技術的帶寬瓶頸,在城市化地區實現商務樓光纖到樓層、住宅小區光纖進門洞,滿足多業務高寬帶承載要求的“三網融合”的寬帶光網絡。
在平面光波導PLC生產的具體過程中,對光纖陣列FA(fiber?array)或芯片(chip)的研磨情況,直接決定了光分路器的性能,目前由于光纖陣列FA(fiber?array)或芯片(chip)大規模生產,要對所生產的每個器件進行角度測試存在資源不足的困境,雖然經過多年的摸索,但光纖陣列FA(fiber?array)或芯片(chip)角度測試問題一直是光分路器性能的瓶頸。基于此,本發明申請通過結合光信息技術提供了一種進行角度測量的技術方案。
發明內容
本發明提供了一種對光纖陣列或芯片進行角度測量的裝置,該裝置包括:三維反光鏡調準系統,與載物平臺固定,反光鏡通過三維反光鏡調準系統的三個方向調準后,載物平臺及其上的光纖陣列FA或芯片被測物的位置即可確定;四維LED光源調整系統,與LED光源系統固定,LED光源系統通過四維LED光源調整系統進行四個方向調準以使得當從光源系統發出的光通過與水平面垂直的反光鏡反射后的光點能夠進入光源孔內;其中LED光源系統的光源為點光源或線光源;屏幕表格,預先計算并且在屏幕表格上標記了各光點位置所對應的光纖陣列或芯片的角度值,當LED光源系統為點光源時屏幕表格所顯示的光點位置與預先標記的光點位置重合即可計算對應的角度值。
進一步,所述光纖陣列FA或芯片具有微小角度端面的光器件。
進一步,當LED光源系統光源為線光源時,預先在屏幕表格上設置標準角度光纖陣列FA或芯片的投影光線作為中間標準線,斜度第一閾值角度的光纖陣列FA或芯片的投影光線作為上公差標準線,斜度第二閾值角度的光纖陣列FA或芯片的投影光線作為下公差標準線;通過判斷投影光線是否在上下公差標準線內來進行檢測。
進一步,所述第一閾值為斜度8.3,第二閾值為斜度7.7。
進一步,所述預先計算是指屏幕光點與反射光角度對應,反射光角度又與被測物角度有1/2的對應關系。
本發明還提供了一種對光纖陣列或芯片進行角度測量的方法,該方法包括:
步驟(1)反光鏡通過三維反光鏡調準系統的三個方向調準后,確定載物平臺及其上的光纖陣列FA或芯片被測物的位置;
步驟(2)LED光源系統通過四維LED光源調整系統進行四個方向調準以使得當從光源系統發出的光通過與水平面垂直的反光鏡反射后的光點能夠進入光源孔內;其中LED光源系統的光源為點光源或線光源;
步驟(3)預先計算并且在屏幕表格上標記了各光點位置所對應的光纖陣列或芯片的角度值;
步驟(4)當LED光源系統為點光源時屏幕表格所顯示的光點位置與預先標記的光點位置重合即可計算對應的角度值。
進一步,所述光纖陣列FA或芯片具有微小角度端面的光器件。
進一步,當LED光源系統光源為線光源時,預先在屏幕表格上設置標準角度光纖陣列FA或芯片的投影光線作為中間標準線,斜度第一閾值角度的光纖陣列FA或芯片的投影光線作為上公差標準線,斜度第二閾值角度的光纖陣列FA或芯片的投影光線作為下公差標準線;通過判斷投影光線是否在上下公差標準線內來進行檢測。
進一步,所述第一閾值為斜度8.3,第二閾值為斜度7.7。
進一步,所述預先計算是指屏幕光點與反射光角度對應,反射光角度又與被測物角度有1/2的對應關系。
本發明的利用了光的反射原理,實現角度測量儀模式,實現了操作簡單,精確度高的使用規范,很大程度上提升了角度測量的使用效率。
附圖說明
圖1A是本發明角度測量儀整體圖。
圖1B是圖1A的局部放大圖。
圖2A是本發明三維反光鏡調準系統原理圖之一。
圖2B是本發明三維反光鏡調準系統原理圖之二。
圖3是本發明角度測量儀原理圖。
圖4是本發明其中一種使用儀器測量FA角度的示意圖。
圖5是根據本發明在載物臺上放置光纖陣列或芯片的具體實施方式的示意圖。
圖6是表示本發明載物平臺、光纖陣列FA(fiber?array)或芯片(chip)被測物、反光鏡之間的位置關系的示意圖。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于上海亨通宏普通信技術有限公司;江蘇亨通光電股份有限公司,未經上海亨通宏普通信技術有限公司;江蘇亨通光電股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310026563.3/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





