[發明專利]一種對光纖陣列或芯片進行角度測量的裝置及方法

有效

• 申請號: 201310026563.3
• 申請日: 2013-01-18
• 公開（公告）號: CN103105282A
• 公開（公告）日: 2013-05-15
• 發明（設計）人: 錢建林;徐虎;周慶紅;孫權;趙關寶;陳立堅
• 申請（專利權）人: 上海亨通宏普通信技術有限公司;江蘇亨通光電股份有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 北京宇生知識產權代理事務所(普通合伙) 11116
• 代理人: 倪駿;莊益利

1.一種對光纖陣列或芯片進行角度測量的裝置，其特征在于該裝置包括：

三維反光鏡調準系統，與載物平臺固定，反光鏡通過三維反光鏡調準系統的三個方向調準后，載物平臺及其上的光纖陣列FA或芯片被測物的位置即可確定；

四維LED光源調整系統，與LED光源系統固定，LED光源系統通過四維LED光源調整系統進行四個方向調準以使得當從光源系統發出的光通過與水平面垂直的反光鏡反射后的光點能夠進入光源孔內；其中LED光源系統的光源為點光源或線光源；

屏幕表格，預先計算并且在屏幕表格上標記了各光點位置所對應的光纖陣列或芯片的角度值，當LED光源系統為點光源時屏幕表格所顯示的光點位置與預先標記的光點位置重合即可計算對應的角度值。

2.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于：所述光纖陣列FA或芯片具有微小角度端面的光器件。

3.根據權利要求1或2所述的裝置，其特征在于：當LED光源系統光源為線光源時，預先在屏幕表格上設置標準角度光纖陣列FA或芯片的投影光線作為中間標準線，斜度第一閾值角度的光纖陣列FA或芯片的投影光線作為上公差標準線，斜度第二閾值角度的光纖陣列FA或芯片的投影光線作為下公差標準線；通過判斷投影光線是否在上下公差標準線內來進行檢測。

4.根據權利要求3所述的裝置，其特征在于：所述第一閾值為斜度8.3，第二閾值為斜度7.7。

5.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于：所述預先計算是指屏幕光點與反射光角度對應，反射光角度又與被測物角度有1/2的對應關系。

6.一種對光纖陣列或芯片進行角度測量的方法，其特征在于該方法包括：

步驟（1）反光鏡通過三維反光鏡調準系統的三個方向調準后，確定載物平臺及其上的光纖陣列FA或芯片被測物的位置；

步驟（2）LED光源系統通過四維LED光源調整系統進行四個方向調準以使得當從光源系統發出的光通過與水平面垂直的反光鏡反射后的光點能夠進入光源孔內；其中LED光源系統的光源為點光源或線光源；

步驟（3）預先計算并且在屏幕表格上標記了各光點位置所對應的光纖陣列或芯片的角度值；

步驟（4）當LED光源系統為點光源時屏幕表格所顯示的光點位置與預先標記的光點位置重合即可計算對應的角度值。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于：所述光纖陣列FA或芯片具有微小角度端面的光器件。

8.根據權利要求6或7所述的方法，其特征在于：當LED光源系統光源為線光源時，預先在屏幕表格上設置標準角度光纖陣列FA或芯片的投影光線作為中間標準線，斜度第一閾值角度的光纖陣列FA或芯片的投影光線作為上公差標準線，斜度第二閾值角度的光纖陣列FA或芯片的投影光線作為下公差標準線；通過判斷投影光線是否在上下公差標準線內來進行檢測。

9.根據權利要求8所述的方法，其特征在于：所述第一閾值為斜度8.3，第二閾值為斜度7.7。

10.根據權利要求6所述的方法，其特征在于所述預先計算是指屏幕光點與反射光角度對應，反射光角度又與被測物角度有1/2的對應關系。